allgosts.ru01. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ. ТЕРМИНОЛОГИЯ. СТАНДАРТИЗАЦИЯ. ДОКУМЕНТАЦИЯ01.040. Словари

ГОСТ Р 56647-2015 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения

Обозначение:
ГОСТ Р 56647-2015
Наименование:
Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения
Статус:
Отменен
Дата введения:
04/01/2016
Дата отмены:
Заменен на:
-
Код ОКС:
01.040.07, 07.030

Текст ГОСТ Р 56647-2015 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения



ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ

НАЦИОНАЛЬНЫЙ

СТАНДАРТ

РОССИЙСКОЙ

ФЕДЕРАЦИИ


ГОСТР

56647-

2015/

ISO/TS 80004-6:2013

НАНОТЕХНОЛОГИИ

Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения

(ISO/TS 80004-6:2013, ЮТ)

Издание официальное


Предисловие

1    ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии международного документа, указанного в пункте 4

2    ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 «Нанотехнологии»

3    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. № 1586-ст

4    Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСО/ТС 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» (ISO/TS 80004-6:2013 «Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization». IDT).

Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного документа для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5—2012 (пункт 3.5)

5    ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты». а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет ()

© Стамдартинформ. 2016

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

U

Содержание

3    Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам

3.3    Термины и определения понятий,    относящихся к устройствам, применяемым

3.6    Термины и определения понятий,    относящихся к площади поверхности нанообъектов

5    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик

5.2    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик

5.3    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик

Введение

Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.

Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы, как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов, и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов. а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.

В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:

•    раздел 2 «Основные термины и определения»:

•    раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения»:

•    раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;

- раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».

Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов. и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.

Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения на-нообъекгов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.

Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов. в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов. и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов. чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов.

Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов

Характеристика

Метеды

Размер

Атомно-силовая микроскопия (ACM), центробежное осаждение частиц в жидкости (ЦОЖ). система анагыза дифференциальной электрической подвижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС). растровая электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ). просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Форма

Атомно-силовая микросхогыя (ACM), растровая электронная микроскопия (РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Площадь поверхности

Метод Брунауэра, Эммета и Теллера (метод БЭТ)

Химические характеристики поверхности объекта

Мэсс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)

Химический состав объекта

Мэсс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС). спектроскопия ядврного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия)

Электрокинетичесхий потенциал частиц в суспензии

Определение дзета-потенциала

Настоящий стандарт предназначен для применения в качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения в области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.

Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящуюся к характеристикам нанообъек-тов и методам их определения.

Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.

Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».

Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.

Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки. раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.

8 стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.

8 стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.

Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

НАНОТЕХНОЛОГИИ Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения.

Термины и определения

Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions

Дата введения — 2016—04—01

1    Область применения

Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

2    Основные термины и определения

2.1

нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм.    nanoscale

Примечания

1    Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как. в основном, уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются.

2    Нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообъектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы атомов.

[ИСО/ТС 27687:2008, статья 2.1]

2.2

нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному. nano-object двум или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).

Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся в нанодиапазоне.

[ИСО/ТС 80004-1:2010. статья 2.5]

2.3

наночастица: Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по всем трем nanoparticle измерениям находятся в каиодиапаэоне (2.1).

Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообъекта значительно больше, чем по третьему измерению (как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица* можно использовать термины «нановолокно» (2.6) или «нанопласгина» (2.4).

[ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.1]


Издание официальное

2.4

нанопластика: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по одному измерению находятся в нанодиапаэона (2.1). а размеры по двум другим измерениям значительно больше.

Примечания

nanoplate


[ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.2]


1    Наименьший гмнейный размер — толщина нэнолластины.

2    Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем е три раза.

3    Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапазона.

2.5

наностержень: Твердое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.5]

2.6

nanorod

нановолокно: Нанообъект (2.2), линейные размеры которою по двум измерениям находятся в нанодиапаэоне (2.1), а по третьему измерению значительно больше.

Примечания

nanofibre


(ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.3]


1    Наноаопокно может быть гибким игы жестким.

2    Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза.

3    Наибольший линейный размер мажет находиться вне нанодиапаэона.

2.7

нанотрубка: Полое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.4]

2.8

nanotube

квантовая точка: Нанообъект. линейные размеры которого по трем измерениям близки длине волны электрона в материале данного нанообъекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами. при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях. (ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.7]

2.9

quantum dot

частица. Мельчайшая часть вещества с определенными физическими границами.

particle


(ИСО 14644-6:2007. статья 2.102; ИСО/ТС 27687:2008. статья 3.1]


Примечания

1    Физическая граница также может быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).

2    Частица может перемещаться как единое целое.

3    Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2.2).

2.10

агломерат: Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9). или их агрегатов (2.11). или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов.

agglomerate


Примечания

1    Силы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабым! и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса или простым физическим переплетением частиц друг с другом.

2    Агломераты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие называют «первичные частицы».

[ИСО/ТС 27687:2008. статья 3.2)

2.11

агрегат: Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных частиц (2.9). общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов.

aggregate

Примечания

1    Силы, удерживающие частицы а составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом.

2    Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы».

[ИСО/ТС 27687:2008. статья 3.3)

2.12

аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц (2.9). взвешенных в газе.

[ИСО 15900:2009. статья 2.1)

aerosol

2.13

суспензия. Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой являются мелкие частицы твердого вещества.

[ИСО 4618:2006. статья 2.243)

suspension


3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения

3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов

3.1.1

размер частицы: Линейный размер частицы (2.9). определенный соответ- particle size стеующими методом и средствами измерений в заданных условиях.

Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц. Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например эквивалентный диаметр сферической частицы.

[ИСО 26824:2013. статья 1.5)

3.1.2

распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависи- particle size мости от их размеров (3.1.1).    distribution

Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц).

[ИСО 14644-1:1999. статья 2.2.4. определение термина изменено]


3.1.3

форма частицы: Внешнее геометрическое очертание частицы (2.9). (ИСО 3252:1999. статья 1401]

particle shape

3.1.4

аспектное соотношение: Отношение длины частицы (2.9) к ее ширине. (ИСО 14966:2002. статья 2.8]

aspect ratio

3.1.S

эквивалентный диаметр: Диаметр сферического объекта, оказывающий equivalent такое же воздействие на средство измерения для определения распределе-    diameter

ния частиц по размерам, что и измеряемая частица (2.9).


Примечания

1    Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ИСО 9276-1:1998 [2]).

2    Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, испогъзуют эквивалентный оптический диаметр.

3    Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы, например в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее осаждения в жидкости. Значения характеристик материала, используемых для расчета, должны быть представлены дополнительно.

4    С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр. Аэродинамический диаметр — это диаметр сферы плотностью 1000 кг/м3, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью.

[ИСО/ТС 27667:2008, статья А.3.3. определение термина изменено}


3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света

3.2.1

радиус инерции. Мера распределения массы объекта вокруг оси. проходя- radius of щей через его центр, выраженная отношением квадратного корня из момен- gyration та инерции относительно данной оси к массе объекта.

Примечание — Для определения характеристик нанообьектов (2.2). например размеров частиц (3.1.1). необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например мапоугпоеого нейтронного рассеяния (3.2.2) или мапоутпового рентгеновского рассеяния (3.2.4).

(ИСО 14695:2003. статья 3.4]

3.2.2    малоугловое нейтронное рассеяние; МНР: Метод исследования объ- small angle neutron екта. основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов scattering;

на объекте при малых значениях углов рассеяния.    SANS

Примечание — Рекомендуемый диапазон утлое рассеяния составляет от 0.5* до 10* и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм. Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2.9) и форме диспергированных в однородной среде частиц.

3.2.3    дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, при- neutron меняемое для исследования атомной или магнитной структуры вещества. diffraction

Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией. примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов. С помощью сформированной в процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества.

3.2.4

малоугловое рентгеновское рассеяние. МРР: Метод исследования объек- small angle X-ray та. основанный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского из- scattering; SAXS лучения, проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.

Примечание — Рекомендуемый диапазон утлое рассеяния составляет от 0.1* до 10* и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм.

[ИСО 18115-1. статья 3.18]

3.2.5

рассеяние света; Преобразование распределения светового потока на границе раздела двух сред, имеющих разные оптические свойства.

[ИСО 13320:2009. статья 3.1.17]

light scattering

3.2.6 гидродинамический диаметр: Эквивалентный диаметр (3.1.5) частицы (2.9), имеющей то же значение коэффициента диффузии в жидкой среде, что и реальная частица в этой среде.

hydrodynamic

diameter

3.2.7 динамическое рассеяние света; ДРС; фотонная корреляционная спектроскопия: ФКС: квазиупругое рассеяние света: КРС: Метод определения размеров частиц (3.1.1) в суспензии (2.13). основанный на анализе изменения интенсивности рассеянного света частицами (2.9), находящихся в броуновском движении, при зондировании исследуемого объекта лазерным

dynamic light scattering; DLS; photon correlation spectroscopy; PCS;

лучом.    quasi-elastic

light scattering; QELS

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6). по формуле Стокса—Эйнштейна.

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 1 до 6000 нм. Верхний продел диапазона ограничен наличием броуновского движения и осаждением частиц.

nanoparticle tracking analysis;

NTA;

particle tracking analysis; PTA


3.2.8 анализ траекторий движения наночастиц; АТДН; анализ траекторий движения частиц: АТДЧ. Метод определения размеров частиц (3.1.1). основанный на исследовании траекторий перемещения облученных сфокусированным пучком лазера частиц (2.9). находящихся в броуновском движении в суспензии (2.13).

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6). по формуле Стокса—Эйнштейна.

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 10 до 2000 нм. Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц, а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц.

3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов

3.3.1

condensation particle counter; CPC


счетчик конденсированных частиц. СКЧ: Устройство, измеряющее счетную концентрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).

Примечания

1    Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ. — от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.

2    СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП) (3.3.2).

3    В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).

(ИСО 15900:2009. статья 2.5)

3.3.2

классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц. КДЭП: Устройство, распределяющее аэрозольные частицы (2.9) по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только определенных размеров.


differential

electrical

mobility

classifier. DEMC


Примечание — Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое попе. Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП. Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней.

[ИСО 15900:2009. статья 2.7]


3.3.3

система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц: САДЭП: Система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц (2.9) аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП. нейтрализатора. счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения.

[ИСО 15900:2009. статья 2.8]


differential mobility analysing system; DMAS


3.3.4

электрометр с цилиндром Фарадея: ЭЦФ. Устройство для измерения Faraday-cup электрических зарядов аэрозольных частиц (2.9).    aerosol

electrometer:

FCAE

Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.

[ИСО 15900:2009. статья 2.12. определение термина изменено]


3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ

3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле: ПФП: Метод рааде- field flow ления и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц fractionation; FFF суспензии (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.

Примечания

1    Силовое поле может быть различной природы, например гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.

2    В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры нанообъектов (2.2) и их распределение по размерам.

centrifugal liquid sedimentation; CLS; differential centrifugal sedimentation; DCS


3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости. ЦОЖ; дифференциальное центрифугироеание; ДЦ: Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.

e

Примечание — В зависимости от плотности частиц {2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.

3.4.3

гель-про ни кающая хроматография; ГПХ: Вид жидкостной хроматографии. size-exclusion в котором разделение веществ основано на элюировании молекул опреде- chromatography: ленного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной SEC пористым неадсорбирующим материалом, размеры лор которого соответствуют размерам этих молекул.

[ИСО 16014-1:2012. статья 3.1J

Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).


3.4.4 метод электрочувствительной зоны, метод Коултера: Метод опре- electrical гопе деления распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9), на- sensing, ходящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса Coulter counter электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малою диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).

Примечания

1    Амплитуда импутъса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.

2    Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.

3    Для определения размеров нанообъвхгов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиапазона (2.1).

3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии

8 данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.

3.5.1

сканирующая эоидовая микроскопия. СЗМ: Метод исследования объекта scanning probe с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем меха- microscopy; нического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом SPM и поверхностью объекта.

[ИСО 18115-2. статья 3.30)

Примечания

1    Термин «сканирующая эондовэя микроскопия» является общим гермином для таких понятий, как «атомно-силовая микроскопия» (ACM) (3.5.2). «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5.3).

2    С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ. до 1 мкм. например в сканирующей термо-микроскопии.

3.5.2


atomic force microscopy; AFM;

scanning force microscopy (deprecated); SFM

(deprecated)


атомно-силовая микроскопия. ACM (Нрк. сканирующая силовая микроскопия: ССМ): Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зоидового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.

[ИСО 18115-2. статья 3.2)

Примечания

1    С помощью ACM можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.

2    В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (ACM) перемещают образец в направлении осей х. у, г. а кантилевер остается неподвижным, в других ACM перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.

3    С помощью ACM можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.

4    С помощью ACM в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы ACM имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микросхолии.

5    ACM регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта.

6    Для исследования нанообъектов применяют ACM с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0.1 мкН, в противном случае может произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.

3.5.3

сканирующая туннельная микроскопия. СТМ: СЗМ (3.5.1). применяемая для исследования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирующим его поверхность токопроводящим зондом.


scanning

tunnelling

microscopy;

STM


Примечания

1    С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта.

2    Изображения могут быть сформированы на основе данных о высоте рельефа поверхности объекта при постоянных значениях туннельного тока или о туннельном токе при постоянных значениях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта.

3    С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости {туннельной плотности состояний) исследуемого объекта. Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отличные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности.

[ИСО 16115-2. статья 3.34)


3.5.4

near-field scanning optical microscopy; NSOM; scanning near-field optical microscopy; SNOM


сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля; СОМБП; ближне-польная сканирующая оптическая микроскопия: БСОМ: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.

Примечания

1    Зонд микроскопа размещают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии. Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта.

2    Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда. Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм. что и определяет разрешающую способность микроскопа. В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные. В безапертурном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое споем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм.

3 С помощью СОМБЛ получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью ACM (3.5.2) и других методов эондоеой микроскопии.

[ИСО 18115-2. статья 3.17]

3.5.5

растровая электронная микроскопия: РЭМ (Нрк. сканирующая электрон нал микроскопия; СЭМ): Метод исследования структуры, состава и формы объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации характеристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение).

[ИСО 17751. статья 4.10. определение термина изменено]

scanning

electron

microscopy:

SEM

3.5.6

просвечивающая электронная микроскопия: ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.

[ИСО 29301:2010, статья 3.37. определение термина изменено]

transmission

electron

microscopy;

ТЕМ

3.5.7

просвечивающая растровая электронная микроскопия: ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.

scanning

transmission

electron

microscopy:

STEM

Примечания

1    Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм.

2    С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры тонких образцов [или мелких частиц (2.9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины.

[ИСО/ТС 10797, статья 3.10. определение термина изменено]


3.5.8 микроскопия медленных электронов; ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий. генерируемыми электронным пучком без сканирования поверхности объекта.

low energy electron microscopy: LEEM


Примечания

1    ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.

2    В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.

3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помо- scanning ion щью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверх- microscopy ности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0.1 до 1 нм.

Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.

3.5.10

конфокальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, расположенную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистрировать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта. блокируя сеет от остальных точек.

oonfocal optical microscopy

Примечания

1    Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последовательного сканирования точек объекта. Формирование изображения происходит либо благодаря свойству инерционности зрения при быстро*! сканировании, либо посредством использования фотоприемников и электронных запоминающих устройств.

2    Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контрастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей.

[ИСО 10934-2:2007, статья 2.11. определение термина изменено)

3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изобра жения. ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отраженный сеет от подложки или предметного стекла.

surface enhancer) ell ipsome trie contrast microscopy;

SEEC

microscopy

Примечание — В микроскопе применяют специагъные антиогражающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз.

3.5.12

флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим выделением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны.

[ИСО 18115-2:2010, статья 5.52]

fluorescence

3.5.13 флуоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12).

fluorescence

microscopy

Примечания

1    В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен источник света, а длина волны, испускаемой объектом флуоресценции, всегда больше длины волны света возбуждения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены специальные фильтры.

2    К методам флуоресцентной микроскопии относят элифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микроскопию. флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверхвысокого разрешения (3.5.15).

3    В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демонстрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются.

3.5.14

флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения: ФМПВО: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12), возбуждаемой затухающей волной в тонком пограничном слое раздела двух сред с разными показателями преломления.

[ИСО 10934-2:2007. статья 2.51. определение термина изменено]

total internal

reflection

fluorescence

microscopy:

TIRF

microscopy

3.5.15    микроскопия сверхвысокого разрешения: Метод исследования super-resolution объекта с помощью микроскопа, формирующего его изображение с простран- microscopy стеекным разрешением выше дифракционного предела.

Примечания

1    Наиболее распространены следующие виды микроскопии сверхвысокого разрешения: микроскопия локализованных флуоресцентных молекул (3.5.16), микроскопия снижения стимулированной эмиссии (МССЭ) и микроскопия структурированного облучения (МСО).

2    Большинство видов микроскопии сверхвысокого разрешения основаны на явлении флуоресценции (3.5.12).

3.5.16    микроскопия локализованных флуоресцентных молекул: Вид ми- localization кроскопии сверхвысокого разрешения (3.5.15). с помощью которой реконстру- microscopy ируют изображение объекта по зарегистрированной с высокой точностью и сохраненной информации о распределении е нем флуоресцентных молекул (флуорофорое).

Примечания

1    В настоящее время существуют различные виды микроскопии локализованных молекул, которые отличаются типами применяемых флуорофорое. флуоресцирующих в зависимости ог вида действующего возбуждения. К микроскопии локализованных молекул относят, например, микроскопию локализованной фотоактивации (МЛФ) (в качестве флуорофорое применяют флуоресцентные белки) и микроскопию стохастической оптической реконструкции (МСОР), которые основаны на контролируемом «включении» и «выключении» флуорофорое и их последовательной регистрации.

2    Для получения картины распределения флуорофорое в объекте (изображение объекта) необходимо наличие достаточного числа последовательных кадров, позволяющих определить точные координаты всех флуорофорое. При этом должны быть созданы такие условия, чтобы флуорофоры флуоресцировали не одновременно, в по очереди, и изображения флуорофорое 8 различных кадрах не были перекрыты.

3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения

3.6.1

удельная площадь поверхности, вычисляемая по массе: Отношение об* mass specific щей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его массе. surface area

Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по массе. — м^/кг. [ИСО 9277:2010. статья 3.11. наименование и определение термина изменено]

3.6.2

удельная площадь поверхности, вычисляемая по объему. Отношение volume specific общей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его объ- surface area ему.

Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по объему. — м^/м3.

[ИСО 9277:2010. статья 3.11, наименование и определение термина изменено)

Вгипаиег— Emmett—Teller Method;

8ET method


3.6.3 метод Брунауэра, Эммета и Теллера; метод БЭТ: Метод определения общей (внутренней и внешней) удельной площади поверхности дисперсных порошков и/или пористых твердых тел путем экспериментального получения данных о количестве адсорбированного газа и вычисления по формуле, выведенной С. Брунауэром, П. Эмметом и Э. Теллером.

Примечания

1 Определение термина соответствует определению, изложенному в статье С. Брунауэра. П. Эммега и Э. Теллера «Адсорбция газов в полимолекулярных слоях», опубликованной в журнале Американского химического общества, томбО. 1938. с. 309.

2 Метод БЭТ применяют для анализе веществ по изотерме адсорбции типов II (адсорбция на напористых или макропористых адсорбентах) и IV (адсорбция на меэопористых твердых адсорбентах, имеющих поры диаметром от 2 до 50 нм). 3 ах рытые поры, недоступные для проникновения молекул газа, при анализе не учитывают. Метод БЭТ не применяют для твердых адсорбентов, поглощающих газ. используемый при измерениях.

4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа

В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «С» означает «спектроскопия» или «спектрометр» в зависимости от контекста.

4.1    оптическая спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом, ультрафиолетовом или инфракрасном диапазонах длин волн.

4.2

optical

spectroscopy

люминесценция. Излучение атомов, молекул или ионов вещества, находящихся в неравновесном (возбужденном) состоянии за счет энергии внешнего воздействия или энергии внутреннего происхождения, представляющее собой избыток над тепловым излучением тела и продолжающееся в течение времени, значительно превышающего период световых колебаний.

|МЭК 60050-845:1987. статья 04-18)

4.3

luminescence

фотолюминесценция: Люминесценция (4.2). возникающая при поглощении веществом возбуждающего оптического излучения.

(МЭК 60050-845:1987. статья 04-19]

photoluminescence

4.4 фотолюминесцентная спектроскопия; ФЛ~спехтросколия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате поглощения и испускания фотонов исследуемым объектом.

photoluminescence

spectroscopy;

PL spectroscopy

4.5 флуоресцентная спектроскопия. Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате явления фотолюминесценции, вызванного в изучаемом объекте посредством возбуждения его светом.

fluorescence

spectroscopy

4.6 спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом и ультрафиолетовом диапазонах длин волн.

UV—Vis spectroscopy

4.7 флуоресцентная корреляционная спектроскопия. ФКС: Метод исследования объекта, основанный на корреляционном анализе флуктуаций интенсивности флуоресценции (3.5.12).

fluorescence

correlation

spectroscopy;

FCS

4.8

Примечание — С помощью ФКС определяют среднее число люминесцирующих частиц (2.9). среднее время их диффузии в исследуемом объеме вещества, концентрацию и размер частиц (молекул).

инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье: Фурье-ИКС: Метод исследования, основанный на регистрации спектра поглощения при облучении исследуемого объекта инфракрасным излучением с получением интерферограммы, обрабатываемой математическим методом, называемым преобразованием Фурье.

[ИС0 13943:2008. статья 4.158, определение термина изменено]

Fourier transform infrared spectroscopy; FTIR

4.9

комбинационное рассеяние света: Явление неупругого рассеяния оптического излучения на молекулах вещества, облученного мокоэнергетичесхим ионизирующим излучением, сопровождающееся переходом рассеивающих молекул на другие колебательные и вращательные уровни энергии.

[ИСО 18115-2. статья 5.128]

4.10

Raman effect

спектроскопия комбинационного рассеяния света: Метод исследования энергетических уровней молекул вещества, основанный на явлении комбинационного рассеяния света (4.9).

[ИСО 18115-2. статья 5.129)

Raman

spectroscopy

4.11 спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света. СПУКР: Метод исследования объекта, основанный на эффекте усиления явления комбинационного рассеяния света (4.9). проявляющемся благодаря молекулам или нанообъектам (2.2). адсорбированным на металлической поверхности (подложке), имеющей неровности размером е нанодиапазоне (2.1). и облученным соответствующим светом.

surface

enhanced Raman

spectroscopy:

SERS

Примечания

1    Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света нанообъекты должны быть адсорбированы на подложке из золота, серебра, меди или алюминия.

2    Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света размеры неровностей поверхности должны быть более 10 нм.


4.12

спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света: СЛУКР: Метод исследования объекта, основанный на облучении его поляризованным светом и анализе единичного активного участка поверхностноусиленного комбинационного рассеяния света (4.9) с помощью металлического зонда, расположенного е непосредственной близости от по верхности исследуемого объекта.

[ИСО 18115-2. статья 3.42]

4.13

tip enhanced Raman spectroscopy: TERS

электронный спектрометр: Устройство, предназначенное для определения числа электронов или регистрации их энергетических спектров в виде зависимости интенсивности электронного потока от кинетической энергии регистрируемых электронов.

electron

spectrometer

Примечание — Термин «электронный спектрометр» может быть использован взамен термина «анализатор энергии электронов» или применен для понятия, обозначающего устройство, состоящее из нескольких узлов, включая анализатор энергии электронов и дополнительные функциональные электронно-оптические части. Термин «электронный спектрометр» также может быть применен для понятия, обозначающего измвригегъ-ную систему (спектрометрическую установку), включающую анализатор энергии электронов, функциональные электронно-оптические части, историк возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос. персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработку и выдачу результатов измерений.


[ИСО 18115-1. статьи 4.187.4.190. определение термина изменено}


4.14

спектроскопия характеристических потерь энергии электронами; СХПЭЭ: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии е процессе взаимодействия с объектом.

electron energy loss

spectroscopy:

EELS


Примечания

1    Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ. будут близки к значениям, полученным с помощью электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) (4.18). а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи лика упруго отраженных электронов.

2    Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.

(ИСО 18115-1, статья 4.197. наименование и определение термина изменены]

4.15

Оже-электрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего Auger electron

излучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних

оболочек.

Примечание — Энергия Оже-электрона характерна для конкретного элемента. Анализ энергии Оже-элек-тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов.

(ИСО 18115-1, статья 4.37, определение термина изменено]

4.16

электронная Оже-спектроскопия; ЭОС: Метод исследования объекта с Auger electron помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации spectroscopy; энергетических спектров Оже-электроное (4.15). испускаемых с поверхности AES объекта.

Примечание — В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные пучки с энергией от 2 до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае применения в ЭОС рентгеновского излучения энергию Оже-электронов отрепывают относительно уровня Ферми, а при применении электронного пучка — уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические спектры Оже-электроное и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в процессе записи спектров.

[ИСО 18115-1, статья 3.1]

4.17


ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия: УФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.


ultraviolet

photoelectron

spectroscopy;

UPS


Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные пампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках, в зависимости от давления газа и тока разряда, генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (Не 1} и 40.8 эВ (Не II). Также в УФЭС применяют источники синхротромного излучения.

[ИСО 18115-1. статья 3.22]


4.18


рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: РФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов и Оже-электронов (4.15). испускаемых с поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.


Х-гау

photoelectron

spectroscopy:

XPS


Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для РФЭС рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний (Мд) и алюминий (А!), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253,6 и 1486.6 эв соответственно. В настоящее время существуют электронные спектрометры, е которых используют мишени из других материалов. Также в РФЭС применяют источники синхротронного излучения.

[ИСО 18115-1. статья 3.23]


4.19    рентгеновская спектроскопия поглощения: РСП: Метод исследования X-ray absorption объекта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения spectroscopy: объектом рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения. XAS

Примечания

1    РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/ипи электронной структуре исследуемого объекта.

2    РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СТСРСП). спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроскопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).

4.20

рентгеновская флуоресценция. РФ: Вторичное излучение, возникающее в результате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетического рентгеновского излучения.

Х-гау

fluorescence;

XRF

Примечание — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента.

[ИСО 3497 2000. статья 2.1]

4.21

энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия. ЭДРС: Метод исследования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов.

[ИСО 22309:2011. статья 3.11. определение термина изменено]

energy-

dispersive X-ray spectroscopy: EDS: EDX

4.22

масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой: ИСП-МС: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущенным е виде аэрозоля через индуктивно связанную аргоновую плазму, образованную специальной горелкой и проходящую внутри высокочастотной катушки индуктивности.

[ИСО 15202-3:2004. статья 3.3.7. определение термина изменено]

inductively coupled plasma mass

spectrometry;

ICP-MS

4.23

масс-спектрометрия вторичных ионов: МС8И: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокупности распределенных в пространстве и/или во времени вторичных ионов объекта, разделенных по значениям отношения массы иона к его заряду, и возникающих при бомбардировке поверхности объекта потоком первичных ионов.

secondary 4on mass

spectrometry:

SIMS

Примечание — МСВИ подразделяют на динамическую, применяемую для определения элементного состава нескольких слоев исследуемого объекта как функции глубины, и статическую, применяемую для элементного анализа поверхностного монослоя исследуемого объекта (с целью предотвращения повреждения поверхности исследуемого объекта плотность потока первичных ионов должна быть не более 1016 ионое/м2).

[ИСО 18115-1. статья 3.17]

4.24 атомно-зондовая томография: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных атомов или молекул, вылетающих из импульсно распыляемого нановолокна (2.6) (иссле-

atom-probe

tomography

дуемого объекта).

4.25

Примечание — При исследовании объекта методом атомно-эондоаой томографии применяют позиционно-чувствительный детектор, позволяющий определить координаты ударения ионов, с помощью которых рассчитывают изначальное положение атомов на поверхности нановолокна.

анализ выделяемых веществом газов. А8ВГ: Метод исследования объекта. основанный на регистрации измерения состава и/или количества выделяемого газа при нагревании объекта в зависимости от заданной температуры.

(ИСО 472:2013, статья 2.345. определение термина изменено]

evolved-gas

analysis;

EGA

4.26 спектроскопия ядерного магнитного резонанса. ЯМР-спвктроскопия: Метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта. основанный на явлении ядерного магнитного резонанса.

nudear

magnetic

resonance

spectroscopy;

NMR

spectroscopy

4.27 электронный парамагнитный резонанс: ЭПР: Резонансное поглощение электромагнитной энергии в радиочастотном диапазоне парамагнитными частицами, помещенными в постоянное магнитное поле, лежащее е основе метода исследования систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (нечетным числом электронов).

electron

paramagnetic

resonance;

EPR

Примечание — Метод, основанный на явлении ЭПР аналогичен методу ЯМР-спектросхопии. Но в отличие от ЯМР-спектроскопии в данном методе измеряют спиновые магнитные моменты электронов парамагнитных частиц.

4.28

гамма-резонансная спектроскопия, мёссбауэровская спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэиергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником.

(ИСО 921:1997. статья 764]

Mossbauer

spectroscopy

4.29 интерферометрия двойной поляризации; ИДП: Метод исследования на молекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного луча при смене направлений поляризации.

dual polarization

interferometry;

DPI

Примечания

1    Быстрое переключение направлений поляризации позволяет в режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.

2    ИДП применяют для исследования конформационных изменений белков или биомолекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.

5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов

5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы

5.1.1 метод пьезоэлектрического микровэвешивания; МПМ: Метод изме- quartz crystal рения массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на за- microbalance: еисимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) QCM от количества вещества, нанесенного на его поверхность.

Примечание — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, е газовой или жидкой средах.

5.1.2

термогравиметрия: ТГ: Метод измерения массы вещества, основанный на регистрации изменения его массы в зависимости от температуры или времени при нагревании в заданной среде с регулируемой скоростью.

[ИСО 472:2013. статья 2.1173. определение термина изменено]

thermogravimetry;

TG

5.1.3

дифференциально-сханирующая калориметрия: ДСК: Метод определения характеристик вещества, основанный на регистрации энергии, необходимой для выравнивания температур исследуемого вещества и вещества, используемого в качестве эталона, в зависимости от температуры или времени.

[ИСО 472:2013. статья 2.278, определение термина изменено]

differential

scanning

calorimetry;

DSC

5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов

5.2.1 дифракция рентгеновского излучения: Явление рассеяния рентгеновского излучения в результате взаимодействия с электронами вещества, лежащее в основе метода рентгеноструктурного анализа, в котором из сформированной дифракционной картины получают информацию о структуре исследуемого объекта.

X-ray diffraction

Примечание — С помощью метола ренггеноструктурного анализа можно определить размеры области когерентного рассеяния объекта.

5.2.2

дифракция отраженных электронов; ДОЭ: Явление обратного рассеяния электронов, возникающее вследствие взаимодействия электронов с атомными плоскостями кристаллической решетки объекта, при облучении объекта электронным пучком.

[ИСО 24173:2009, статья 3.7]

electron

backscatter

diffraction:

EBSD

5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях

5.3.1

электрофоретическая скорость: Скорость частиц (2.9) во время электрофореза.

electrophoretic

velocity

Примечание — Единица измерения электрофоретической скорости — м/с. [ИСО 13099-1:2012, статья 2.2.6]

5.3.2

электрофоретическая подвижность. Отношение электрофоретической

electrophoretic

скорости к напряженности электрического поля.

mobility

Примечания

1 Положительно заряженные частицы (2.9) перемещаются к отрицательному электроду (катоду), а отрицатегъ-

но заряженные частицы — к положительному электроду (аноду).

2 Единица измерения электрофоретической подвижности — м2/(Вс).

[ИСО 13099*1:2012. статья 2.2.5]

5.3.3

плоскость скольжения; плоскость сдвига: Абстрактная плоскость, представляющая собой границу раздела твердой и жидкой фаз. относительно которой происходит движение жидкой фазы под внешним воздействием.

(ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.11)

slipping plane; shear plane

5.3.4

электрокикетический потенциал; дэвта-потвициал: Разность между электрическими потенциалами жидкой фазы и плоскости скольжения.

electrokinetic potential: zeta potential

Примечание — Единица измерения электро кинетического потенциала — В. [ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.8]

5.3.5

поверхностная плотность электрического заряда: Величина, характеризующая распределение электрического заряда по поверхности объекта вследствие удельной адсорбции ионов из жидкой массы или диссоциации поверхностных групп ионов.

electric surface charge density

Примечание — Единица измерения поверхностной плотности электрического заряда — КлУм2. [ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.6)

Алфавитный указатель терминов на русском языке

микроскопия конфокальная световая    3.5.10

микроскопия локализованных флуоресцентных молекул    3.5.16

микроскопия полного внутреннего отражения флуоресцентная    3.5.14

микроскопия сверхвысокого разрешения    3.5.15

микроскопия флуоресцентная    3.5.13

микроскопия эллипсометрическая с усилением контраста изображения    3.5.11

точка квантовая

2.8

УФЭС

4.17

ФКС

3.2.7

ФКС

4.7

ФЛ-спектроскопия

4.4

флуоресценция

3.5.12

флуоресценция рентгеновская

4.20

ФМПВО

3.5.14

форма частицы

3.1.3

фотолюминесценция

4.3

фракционирование проточное в силовом поле

3.4.1

Фурье-ИКС

4.8

хроматография гель-проникающая

3.4.3

центрифугирование дифференциальное

3.4.2

ЦОЖ

3.4.2

частица

2.9

ЭДРС

4.21

электрометр с цилиндром Фарадея

3.3.4

ЭМУК

3.5.11

ЭОС

4.16

ЭПР

4.27

ЭЦФ

3.3.4

ЯМР-спектроскопия

4.26

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке

aerosol

2.12

AES

4.16

AFM

3.5.2

agglomerate

2.10

aggregate

2.11

aspect ratio

3.1.4

atomic force microscopy

3.5.2

atom-probe tomography

4.24

Auger electron

4.15

Auger electron spectroscopy

4.16

BET method

3.6.3

Brunauer—Emmett—Teller Method

3.6.3

centrifugal liquid sedimentation

3.4.2

CLS

3.4.2

condensation particle counter

3.3.1

confocal optical microscopy

3.5.10

Coulter counter

3.4.4

CPC

3.3.1

DCS

3.4.2

DEMC

3.3.2

differential centrifugal sedmentabon

3.4.2

differential electrical mobility classifier

3.3.2

differential mobility analysing system

3.3.3

differential scanning calorimetry

5.1.3

DLS

3.2.7

DMAS

3.3.3

DPI

4.29

DSC

5.1.3

dual polarization interferometry

4.29

dynamic light scattering

3.2.7

EBSD

5.2.2

EDS

4.21

EDX

4.21

EELS

4.14

EGA

4.25

electric surface charge density

5.3.5

electrical zone sensing

3.4.4

electrokinetic potential

5.3.4

electron backscatter diffraction

5.2.2

electron energy loss spectroscopy

4.14

electron paramagnetic resonance

4.27

electron spectrometer

4.13

electrophoretic mobility

5.3.2

electrophoretic velocity

5.3.1

energy-dispersive X-ray spectroscopy

4.21

EPR

4.27

equivalent diameter

3.1.5

evolved-gas analysis

4.25

Faraday-cup aerosol electrometer

3.3.4

FCAE

3.3.4

FCS

4.7

FFF

3.4.1

field flow fractionation

3.4.1

fluorescence

3.5.12

fluorescence oorretation spectroscopy

4.7

fluorescence microscopy

3.5.13

fluorescence spectroscopy

4.5

Fourier transform infrared spectroscopy

4.8

FTIR

4.8

hydrodynamic diameter

3.2.6

ICP-MS

4.22

inductively coupled plasma mass spectrometry

4.22

LEEM

3.5.8

light scattering

3.2.5

localization microscopy

3.5.16

low energy electron microscopy

3.5.8

luminescence

4.2

mass specific surface area

3.6.1

Mossbauer spectroscopy

4.28

nanofibre

2.6

nano-object

2.2

nanoparticle

2.3

nanoparticle tracking analysis

3.2.8

nanoplate

2.4

nanorod

2.5

nanoscale

2.1

nanotube

2.7

near-field scanning optical microscopy

3.5.4

neutron diffraction

3.2.3

NMR spectroscopy

4.26

NSOM

3.5.4

NTA

3.2.8

nuclear magnetic resonance spectroscopy

4.26

optical spectroscopy

4.1

particle

2.9

particle shape

3.1.3

particle size

3.1.1

particle size distribution

3.1.2

particle tracking analysts

3.2.8

PCS

3.2.7

photoluminescence

4.3

photoluminescence spectroscopy

4.4

photon correlation spectroscopy

3.2.7

PL spectroscopy

4.4

PTA

3.2.8

QCM

5.1.1

QELS

3.2.7

quantum dot

2.8

quartz crystal microbalance

5.1.1

quasi-elastic light scattering

3.2.7

radius of gyration

3.2.1

Raman effect

4.9

Raman spectroscopy

4.10

SANS

3.2.2

SAXS

3.2.4

scanning electron microscopy

3.5.5

scanning force microscopy

3.5.2

scanning ion microscopy

3.5.9

scanning near-field optical microscopy

3.5.4

scanning probe microscopy

3.5.1

scanning transmission electron microscopy

3.5.7

scanning tunnelling microscopy

3.5.3

SEC

3.4.3

secondary-ion mass spectrometry

4.23

SEEC microscopy

3.5.11

SEM

3.5.5

SERS

4.11

SFM

3.5.2

shear plane

5.3.3

SIMS

4.23

size-exdusion chromatography

3.4.3

slipping plane

5.3.3

small angle neutron scattering

3.2.2

small angle X-ray scattering

3.2.4

SNOM

3.5.4

SPM

3.5.1

STEM

3.5.7

STM

3.5.3

super-resolution microscopy

3.5.15

surface enhanced eilip&ometric contrast midrostbpy

3.5.11

25

surface enhanced Raman spectroscopy

4.11

suspension

2.13

ТЕМ

3.5.6

TERS

4.12

TG

5.1.2

thermogravimetry

5.1.2

tip enhanced Raman spectroscopy

4.12

TtRF microscopy

3.5.14

total internal reflection fluorescence microscopy

3.5.14

transmission electron microscopy

3.5.6

ultraviolet photoelectron spectroscopy

4.17

UPS

4.17

UV—Vis spectroscopy

4.6

volume specific surface area

3.6.2

XAS

4.19

XPS

4.18

XRF

4.20

X-ray absorption spectroscopy

4.19

X-ray diffraction

5.2.1

X-ray fluorescence

4.20

X-ray photoelectron spectroscopy

4.18

zeta potential

5.3.4

Библиография

1SO/TS 80004-1:2010

Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Core terms {Нанотехнологии. Словарь. Часть 1. Основные термины)

1SO/TS 27687:2008

Nanotechnologies — Terminology and definitions for nano-objects — Nanoparticle, nanofibre and nanoplate {Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов. Наночастица, нановолокно и нанопластина)

ISO 14644-6:2007

Cleanrooms and associated controlled environments — Part 6: Vocabulary {Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 6. Словарь)

ISO 15900:2009

Determination of particle size distribution — Differential electrical mobility analysis for aerosol particles (Определение гранулометрического состава. Анализ дифференциальной подвижности частиц аэрозолей в электрическом поле)

ISO 4618

Paints and varnishes — Terms and definitions (Краски и лаки. Термины и определения)

ISO 26824:2013

Particle characterization of particulate systems — Vocabulary {Определение характеристик частиц систем макрочастиц. Словарь)

ISO 14644-1:1999

Cleanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness (Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 1. Классификация чистоты воздуха)

ISO 3252:1999

Powder metallurgy — Vocabulary (Порошковая металлургия. Словарь)

ISO 14966:2002

Ambient air — Determination of numerical concentration of inorganic fibrous particles — Scanning electron microscopy method (Воздух окружающий. Определение концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод растровой электронной микроскопии)

ISO 9276-1:1998

Representation of results of particle size analysis — Part 1: Graphical representation {Гранулометрический анализ. Представление результатов. Часть 1. Графическое представление)

ISO 14695:2003

Industrial fans — Method of measurement of fan vibration (Вентиляторы промышленные. Метод измерения вибрации вентилятора)

ISO 18115-1:2010

Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy (Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии)

ISO 13320:2009

Particle size analysis — Laser diffraction methods (Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции)

ISO 16014-1:2012

Plastics — Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exdusion chromatography — Part 1: General principles (Пластмассы. Определение средней молекулярной массы и молекулярно-массового распределения полимеров с использованием вытеснительной (по размеру) хроматографии. Часть 1. Общие принципы)

ISO 18115-2:2010

Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanningprobe microscopy (Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в растровой микроскопии)

ISO 17751:2007

Textiles — Quantitative analysis of animal fibres by microscopy — Cashmere, woof, specialty fibres and their blends (Текстиль. Количественный анализ волокон животного происхождения с использованием микроскопа. Кашемир, шерсть, специальные волокна и их смеси)

ISO 29301:2010

Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures {Ми-кропучкоеый анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибрующего увеличения изображения с применением стандартных материалов с периодической структурой)

Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotobes using transmission electron microscopy (Нанотехнологии. Характеристика одностеночных углеродных нанотрубок с использованием трансмиссионного электронного микроскопа)

[18]    ISQ^S 10797:2012

[19]    IS0 10934-2:2007

[20]    ISO 9277:2010

[21]    I EC 60050-845:1987

[22]    IS013943:2008

[23]    ISO 3497:2000

[24]    ISO 22309:2011

[25]    IS0 15202-3:2004


[26]    ISO472:2013

[27]    ISO 921:1997

[28]    ISO 24173:2009

[29]    IS013099-1:2012


Optics and optical instruments — Vocabulary for microscopy — Pari 2: Advanced techniques in light m»croscopy (Оптика и оптические приборы. Словарь по микросхогми. Часть 2. Передовые технологии в оптической микроскопии)

Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — BET method (Определение удельной площади поверхности твердых тел по адсорбции газа с применением метода Брункера. Эммета и Теллера (ВЕТ-метод))

International Electrotechnical Vocabulary — Chapter 845: Lighting (Международный электротехнический словарь — Глава 845: Освещение)

Fire safety — Vocabulary (Пожарная безопасность. Словарь)

Metallic ooatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods (Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы)

Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above (Анализ с использованием микропучха. Количественный анализ с использованием энвргодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным числом 11 (Na) или выше)

Workplace air — Determination of metals and metalloids in airborne particulate matter by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry — Part 3: Analysis (Воздух рабочей зоны. Определение концентрации металлов и металлоидов в твердых частицах аэрозоля с помощью эмиссионной атомной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Часть 3. Анализ)

Plastics — Vocabulary (Пластмассы. Словарь)

Nuclear energy — Vocabulary (Ядеркая энергия. Словарь)

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (Микропучковый анализ. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции при обратном рассеянии электронов)

Colloidal systems — Methods for zeta-potenbal determination — Part 1;Etectro acoustic and eleclrokinetic phenomena (Системы коллоидные. Методы определения зета-потенциала. Часть 1. Электроакустические и элекгрокинетичвские явления)

УДК 53.04:006.354    ОКС 07.030

01.040.07

Ключевые слова: нанотехнологии, характеристики нанообъекгов, методы определения характеристик, термины, определения

Редактор Н.А. Шламкова Технический редактор В.Н. Прусакова Корректор Л. С. Лысенко Компьютерная верстка Е.Е. Кругова

Гарнитура Ариал


Сеяно я набор 12.01.2016. Подписано а печать t4.02.2016. Формат 60 *64

Усп. печ. п. 4.16 Уч.-иэд. п. 3.60. Тираж 32 »*з. Зак 725.

Издано и отпечатано оо ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 12366S Москва. Гранатный пер.. 4. www.gostm(oru m(o@gos1info ru