ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ

НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
ГОСТР
56647—
2015/
ISO/TS 80004-6:2013
НАНОТЕХНОЛОГИИ
Часть 6
Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения
(ISO/TS 80004-6:2013, IDT)
Издание официальное

Москва Стандартмнформ 2016
ГОСТ Р 56647—2015
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии международного документа, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК441 «Нанотехнологии»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. № 1586-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСОГГС 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» (ISO/TS 80004-6:2013 «Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization», IDT).
Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного документа для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5—2012 (пункт 3.5)
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
© Стандартинформ, 2016
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
Содержание
1 Область применения
2 Основные термины и определения
3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам
их определения
3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов
3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света
3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым
для определения характеристик аэрозольных нанообъектов
3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ
3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии
3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов
и методам ее определения
4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик
нанообъектов
5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы
5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик
кристаллических нанообъектов
5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик
нанообъектов в суспензиях
Алфавитный указатель терминов на русском языке
Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке
Библиография
ill
ГОСТ Р 56647—2015
Введение
Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.
Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы, как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов, и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов, а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.
В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:
- раздел 2 «Основные термины и определения»;
- раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения»;
- раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;
- раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».
Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов, и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.
Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения нанообъектов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.
Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов, в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов, и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов, чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов.
Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообьекгов
Характеристика | Методы |
Размер | Атомно-силовая микроскопия (АСМ), центробежное осаждение частиц в жидкости (ЦОЖ), система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС), растровая электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) |
Форма | Атомно-силовая микроскопия (АСМ), растровая электронная микроскопия (РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) |
Площадь поверхности | Метод Брунауэра, Эммета и Теллера (метод БЭТ) |
Химические характеристики поверхности объекта | Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) |
Химический состав объекта | Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС), спектроскопия ядерного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия) |
Элекгрокинетический потенциал частиц в суспензии | Определение дзета-потенциала |
Настоящий стандарт предназначен для применения в качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения в области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.
Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящуюся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».
Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.
Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.
В стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.
В стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.
ГОСТ Р 56647—2015/ISO/TS 80004-6:2013
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
НАНОТЕХНОЛОГИИ
Часть 6
Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения
Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions
Дата введения — 2016—04—01
1 Область применения
Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.
2 Основные термины и определения
2.1
нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм. nanoscale
Примечания
1 Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как. в основном, уникальные свойства нанообьектов за ней не проявляются.
2 Нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообьектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы атомов
(ИСО/ТС 27687:2008, статья 2.1)
2.2
нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному, nano-object двум или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).
Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся в нанодиапазоне
(ИСО/ТС 80004-1:2010, статья 2.5]
2.3
наночастица: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по всем трем nanoparticle измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).
Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообъекта значительно больше, чем по третьему измерению (как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица» можно использовать термины «нановолокно» (2.6) или «нанопластина» (2.4).
(ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.1)
Издание официальное
2.4
нанопластина: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по одному из- nanoplate мерению находятся в нанодиапазоне (2.1), а размеры по двум другим измерениям значительно больше.
Примечания
1 Наименьший линейный размер — толщина нанопластины.
2 Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем в три раза.
3 Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапазона.
[ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.2]
2.5
наностержень: Твердое нановолокно (2.6). nanorod
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.5]
2.6
нановолокно: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по двум изме- nanofibre рениям находятся в нанодиапазоне (2.1), а по третьему измерению значительно больше.
Примечания
1 Нановолокно может быть гибким или жестким
2 Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза.
3 Наибольший линейный размер может находиться вне нанодиапазона.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.3]
2.7
нанотрубка: Полое нановолокно (2.6). nanotube
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.4] 2.8
квантовая точка: Нанообъект, линейные размеры которого по трем изме- quantum dot рениям близки длине волны электрона в материале данного нанообъекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами, при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.7]
2.9
частица: Мельчайшая часть вещества с определенными физическими гра- particle ницами.
Примечания
1 Физическая граница также может быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).
2 Частица может перемещаться как единое целое
3 Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2.2).
[ИСО 14644-6:2007, статья 2.102; ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.1)
2.10
агломерат: Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9), или agglomerate их агрегатов (2.11), или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов.
Примечания
1 Силы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабыми и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса или простым физическим переплетением частиц друг с другом.
2 Агломераты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие называют «первичные частицы»
(ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.2)
2.11
агрегат: Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных ча- aggregate стиц (2.9), общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов.
Примечания
1 Силы, удерживающие частицы в составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом
2 Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы». (ИСО/ТС 27687:2008, статья 3.3)
2.12
аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц (2.9), взвешенных в газе.
(ИСО 15900:2009, статья 2.1)
aerosol
2.13
суспензия: Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой являются мелкие частицы твердого вещества.
[ИСО 4618:2006, статья 2.243]
suspension
3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения
3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов
3.1.1
размер частицы: Линейный размер частицы (2.9), определенный соответ- particle size ствующими методом и средствами измерений в заданных условиях.
Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц. Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например эквивалентный диаметр сферической частицы.
(ИСО 26824:2013, статья 1.5]
3.1.2
распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависи- particle size мости от их размеров (3.1.1). distribution
Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц).
(ИСО 14644-1:1999. статья 2.2.4, определение термина изменено)
3.1.3
форма частицы: Внешнее геометрическое очертание частицы (2.9). (ИСО 3252:1999, статья 1401] | particle shape |
3.1.4 | |
аспектное соотношение: Отношение длины частицы (2.9) к ее ширине. | aspect ratio |
[ИСО 14966:2002, статья 2.8] | |
3.1.5 |
эквивалентный диаметр: Диаметр сферического объекта, оказывающий equivalent такое же воздействие на средство измерения для определения распределе- diameter ния частиц по размерам, что и измеряемая частица (2.9).
Примечания
1 Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ИСО 9276-1:1998 [2]).
2 Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, используют эквивалентный оптический диаметр.
3 Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы, например в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее осаждения в жидкости. Значения характеристик материала, используемых для расчета, должны быть представлены дополнительно.
4 С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр. Аэродинамический диаметр — это диаметр сферы плотностью 1000 кг/м3, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью
(ИСО/ТС 27687:2008, статья А.3.3, определение термина изменено]
3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света
3.2.1
радиус инерции: Мера распределения массы объекта вокруг оси, проходя- radius of щей через его центр, выраженная отношением квадратного корня из момен- gyration та инерции относительно данной оси к массе объекта.
Примечание — Для определения характеристик нанообъектов (2.2), например размеров частиц (3.1.1), необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например малоуглового нейтронного рассеяния (3.2.2) или малоуглового рентгеновского рассеяния (3.2.4).
[ИСО 14695:2003. статья 3.4]
3.2.2 малоугловое нейтронное рассеяние; МНР: Метод исследования объ- small angle neutron екта. основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов scattering;
на объекте при малых значениях углов рассеяния. SANS
Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,5е до 10е и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм. Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2.9) и форме диспергированных в однородной среде частиц.
3.2.3 дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, при- neutron меняемое для исследования атомной или магнитной структуры вещества. diffraction
Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией. примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов. С помощью сформированной в процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества
3.2.4
малоугловое рентгеновское рассеяние; МРР: Метод исследования объек- small angle X-ray та, основанный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского из- scattering; SAXS лучения, проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.
Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0,1’ до 10° и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм.
(ИСО 18115-1, статья 3.18]
3.2.5
рассеяние света; Преобразование распределения светового потока на гра- light scattering нице раздела двух сред, имеющих разные оптические свойства.
(ИСО 13320:2009, статья 3.1.17)
3.2.6 гидродинамический диаметр: Эквивалентный диаметр (3.1.5) частицы (2.9), имеющей то же значение коэффициента диффузии в жидкой среде, что и реальная частица в этой среде.
hydrodynamic diameter
dynamic light scattering: DLS; photon correlation spectroscopy; PCS; quasi-elastic light scattering; QELS
3.2.7 динамическое рассеяние света; ДРС; фотонная корреляционная спектроскопия; ФКС; квазиупругое рассеяние света; КРС: Метод определения размеров частиц (3.1.1) в суспензии (2.13), основанный на анализе изменения интенсивности рассеянного света частицами (2.9), находящихся в броуновском движении, при зондировании исследуемого объекта лазерным лучом.
Примечания
1 Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света, можно определить коэффициент диффузии и, следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6), по формуле Стокса—Эйнштейна
2 Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 1 до 6000 нм. Верхний предел диапазона ограничен наличием броуновского движения и осаждением частиц.
3.2.8 анализ траекторий движения наночастиц; АТДН; анализ траекторий движения частиц; АТДЧ: Метод определения размеров частиц (3.1.1), основанный на исследовании траекторий перемещения облученных сфокусированным пучком лазера частиц (2.9), находящихся в броуновском движении в суспензии (2.13).
nanoparticle tracking analysis;
NTA; particle tracking analysis; PTA
Примечания
1 Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц, можно определить коэффициент диффузии и, следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6), по формуле Стокса—Эйнштейна.
2 Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 10 до 2000 нм. Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц, а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц
3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов
3.3.1
счетчик конденсированных частиц; СКЧ; Устройство, измеряющее счет ную концентрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).
Примечания
1 Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ, — от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.
2 СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП) (3.3.2).
3 В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).
[ИСО 15900:2009, статья 2.5]
3.3.2
классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц; КДЭП: Устройство, распределяющее аэрозольные частицы (2.9) по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только определенных размеров.
differential electrical mobility classifier; DEMC
Примечание — Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое поле. Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней.
(ИСО 15900:2009, статья 2.7]
3.3.3
система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц; САДЭП: Система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц (2.9) аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП, нейтрализатора, счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения. [ИСО 15900:2009, статья 2.8] | differential mobility analysing system; DMAS |
3.3.4
электрометр с цилиндром Фарадея; ЭЦФ: Устройство для измерения Faraday-cup электрических зарядов аэрозольных частиц (2.9). aerosol
electrometer; FCAE
Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.
(ИСО 15900:2009, статья 2.12, определение термина изменено]
3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ
3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле; ПФП: Метод разде- field flow
ления и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц fractionation; FFF суспензии (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.
Примечания
1 Силовое поле может быть различной природы, например гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.
2 В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры нанообъектов (2.2) и их распределение по размерам.
3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости; ЦОЖ; дифференциальное центрифугирование: ДЦ'- Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.
centrifugal liquid sedimentation; CLS; differential centrifugal sedimentation; DCS
Примечание — В зависимости от плотности частиц (2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.
3.4.3
size-exclusion chromatography; SEC
гель-проникающая хроматография; ГПХ: Вид жидкостной хроматографии. 8 котором разделение веществ основано на элюировании молекул определенного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной пористым неадсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих молекул.
(ИСО 16014-1:2012. статья 3.1]
Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).
3.4.4 метод электрочувствительной зоны: метод Коултера: Метод определения распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9). находящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).
electrical zone sensing; Coulter counter
Примечания
1 Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие
2 Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.
3 Для определения размеров нанообъектов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиапазона (2.1).
3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.
3.5.1
scanning probe microscopy; SPM
сканирующая зондовая микроскопия; СЗМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем механического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью объекта.
1ИСО 18115-2, статья 3.30]
Примечания
понятий, как «атомно-
1 Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких силовая микроскопия» (АСМ) (3.5.2), «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5.3).
2 С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ, до 1 мкм, например в сканирующей термо-микроскопии.
3.5.2
атомно-силовая микроскопия; АСМ (Нрк. сканирующая силовая микроскопия: ССМ): Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.
atomic force microscopy; AFM; scanning force microscopy (deprecated); SFM (deprecated)
(ИСО 18115-2, статья 3.2]
Примечания
1 С помощью АСМ можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов
2 В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (АСМ) перемещают образец в направлении осей х, у, z, а кантилевер остается неподвижным, в других АСМ перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.
3 С помощью АСМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.
4 С помощью АСМ в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы АСМ имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микроскопии.
5 АСМ регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта
6 Для исследования нанообъектов применяют АСМ с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0,1 мкН, в противном случае может произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.
3.5.3
scanning tunnelling microscopy;
STM
сканирующая туннельная микроскопия; СТМ; СЗМ (3.5.1), применяемая для исследования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирующим его поверхность токопроводящим зондом.
Примечания
1 С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта
2 Изображения могут быть сформированы на основе данных о высоте рельефа поверхности объекта при постоянных значениях туннельного тока или о туннельном токе при постоянных значениях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта.
3 С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости (туннельной плотности состояний) исследуемого объекта Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отличные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности.
(ИСО 18115-2, статья 3.34]
3.5.4
сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля; СОМБП; ближне-польная сканирующая оптическая микроскопия; БСОМ; Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.
near-field scanning optical microscopy;
NSOM;
scanning near-fieki optical microscopy;
SNOM
Примечания
1 Зонд микроскопа размещают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии. Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта.
2 Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм. что и определяет разрешающую способность микроскопа. В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные. В безапертурном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое слоем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм.
3 С помощью СОМБП получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью АСМ (3.5 2) и других методов зондовой микроскопии.
[ИСО 18115-2, статья 3.17]
3.5.5
растровая электронная микроскопия; РЭМ (Нрк. сканирующая электронная микроскопия: СЭМ): Метод исследования структуры, состава и формы объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации характеристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение). [ИСО 17751, статья 4.10, определение термина изменено] | scanning electron microscopy; SEM |
3.5.6
просвечивающая электронная микроскопия; ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним. (ИСО 29301:2010, статья 3.37, определение термина изменено] | transmission electron microscopy; ТЕМ |
3.5.7
просвечивающая растровая электронная микроскопия; ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним. | scanning transmission electron microscopy; STEM |
Примечания
1 Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм.
2 С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры тонких образцов [или мелких частиц (2.9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины.
[ИСО/ТС 10797, статья 3.10, определение термина изменено]
3.5.8 микроскопия медленных электронов; ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий. генерируемыми электронным пучком без сканирования поверхности объекта. | low energy electron microscopy; LEEM |
Примечания
1 ММ3 обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.
2 В ММ3 первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.
3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверхности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0,1 до 1 нм. | scanning ion microscopy |
Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.
3.5.10
конфокальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с по confocal optical мощью светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, microscopy расположенную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистриро вать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта, блокируя свет от остальных точек.
Примечания
1 Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последовательного сканирования точек объекта Формирование изображения происходит либо благодаря свойству инерционности зрения при быстром сканировании, либо посредством использования фотолриемников и электронных запоминающих устройств.
2 Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контрастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей.
(ИСО 10934-2:2007, статья 2.11, определение термина изменено]
3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображения; ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отра женный свет от подложки или предметного стекла.
surface enhanced ellipsometric contrast microscopy;
SEEC microscopy
Примечание — В микроскопе применяют специальные антиотражающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз
3.5.12
флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим fluorescence выделением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны.
(ИСО 18115-2:2010, статья 5.52]
3.5.13 флуоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помо- fluorescence щью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем реги- microscopy страции испускаемой им флуоресценции (3.5.12).
Примечания
1 В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен источник света, а длина волны, испускаемой объектом флуоресценции, всегда больше длины волны света возбуждения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены специальные фильтры
2 К методам флуоресцентной микроскопии относят эпифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микроскопию, флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5 14) и микроскопию сверхвысокого разрешения (3.5.15).
3 В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демонстрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются.
3.5.14
флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения; ФМПВО: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12), возбуждаемой затухающей волной в тонком пограничном слое раздела двух сред с разными показателями преломления.
total internal reflection fluorescence microscopy; TIRF microscopy
(ИСО 10934-2:2007, статья 2.51, определение термина изменено]
3.5.15 микроскопия сверхвысокого разрешения: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего его изображение с пространственным разрешением выше дифракционного предела. | super-resolution microscopy |
Примечания
1 Наиболее распространены следующие виды микроскопии сверхвысокого разрешения: микроскопия локализованных флуоресцентных молекул (3.5.16), микроскопия снижения стимулированной эмиссии (МССЭ) и микроскопия структурированного облучения (МСО).
2 Большинство видов микроскопии сверхвысокого разрешения основаны на явлении флуоресценции (3.5.12).
3.5.16 микроскопия локализованных флуоресцентных молекул: Вид микроскопии сверхвысокого разрешения (3.5.15), с помощью которой реконструируют изображение объекта по зарегистрированной с высокой точностью и сохраненной информации о распределении в нем флуоресцентных молекул (флуорофоров).
localization microscopy
Примечания
1 В настоящее время существуют различные виды микроскопии локализованных молекул, которые отличаются типами применяемых флуорофоров, флуоресцирующих в зависимости от вида действующего возбуждения. К микроскопии локализованных молекул относят, например, микроскопию локализованной фотоактивации (МЛФ) (в качестве флуорофоров применяют флуоресцентные белки) и микроскопию стохастической оптической реконструкции (МСОР), которые основаны на контролируемом «включении» и «выключении» флуорофоров и их последовательной регистрации.
2 Для получения картины распределения флуорофоров в объекте (изображение объекта) необходимо наличие достаточного числа последовательных кадров, позволяющих определить точные координаты всех флуорофоров При этом должны быть созданы такие условия, чтобы флуорофоры флуоресцировали не одновременно, а по очереди, и изображения флуорофоров в различных кадрах не были перекрыты.
3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения
3.6.1
удельная площадь поверхности, вычисляемая по массе: Отношение общей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его массе. | mass specific surface area |
Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по массе. — м2/кг. (ИСО 9277:2010, статья 3.11, наименование и определение термина изменено]
3.6.2
удельная площадь поверхности, вычисляемая по объему: Отношение общей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его объему. | volume specific surface area |
Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по объему, — м2/м3. (ИСО 9277:2010, статья 3.11, наименование и определение термина изменено]
3.6.3 метод Брунауэра, Эммета и Теллера; метод БЭТ: Метод определения общей (внутренней и внешней) удельной площади поверхности дисперсных порошков и/или пористых твердых тел путем экспериментального получения данных о количестве адсорбированного газа и вычисления по формуле, выведенной С. Брунауэром, П. Эмметом и Э. Теллером. | Brunauer— Emmett—Teller Method; BET method |
Примечания
1 Определение термина соответствует определению, изложенному в статье С. Брунауэра, П. Эммета и Э. Теллера «Адсорбция газов в полимолекулярных слоях», опубликованной в журнале Американского химического общества, том 60, 1938, с. 309
2 Метод БЭТ применяют для анализа веществ по изотерме адсорбции типов II (адсорбция на непористых или макропористых адсорбентах) и IV (адсорбция на меэопористых твердых адсорбентах, имеющих поры диаметром от 2 до 50 нм). Закрытые поры, недоступные для проникновения молекул газа, при анализе не учитывают. Метод БЭТ не применяют для твердых адсорбентов, поглощающих газ, используемый при измерениях
4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «С» означает «спектроскопия» или «спектрометр» в зависимости от контекста.
4.1 оптическая спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом, ультрафиоле- | optical spectroscopy |
товом или инфракрасном диапазонах длин волн.
4.2
люминесценция: Излучение атомов, молекул или ионов вещества, находящихся в неравновесном (возбужденном) состоянии за счет энергии внешнего воздействия или энергии внутреннего происхождения, представляющее собой избыток над тепловым излучением тела и продолжающееся в течение времени, значительно превышающего период световых колебаний. [МЭК 60050-845:1987, статья 04-18) | luminescence |
4.3
фотолюминесценция: Люминесценция (4.2), возникающая при поглощении веществом возбуждающего оптического излучения. [МЭК 60050-845:1987, статья 04-19) | photoluminescence |
4.4 фотолюминесцентная спектроскопия: ФЛ-спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате поглощения и испускания фотонов исследуемым объектом. | photoluminescence spectroscopy; PL spectroscopy |
4.5 флуоресцентная спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате явления фотолюминесценции, вызванного в изучаемом объекте посредством возбуждения его светом. | fluorescence spectroscopy |
4.6 спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра: | UV—Vis |
Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом и ультрафиолетовом диапазонах длин волн. | spectroscopy |
4.7 флуоресцентная корреляционная спектроскопия; ФКС: Метод исследования объекта, основанный на корреляционном анализе флуктуаций интенсивности флуоресценции (3.5.12). | fluorescence correlation spectroscopy; FCS |
Примечание — С помощью ФКС определяют среднее число люминесцирующих частиц (2.9), среднее время их диффузии в исследуемом объеме вещества, концентрацию и размер частиц (молекул).
4.8
инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье; Фурье-ИКС: | Fourier transform |
Метод исследования, основанный на регистрации спектра поглощения при облучении исследуемого объекта инфракрасным излучением с получением интерферограммы, обрабатываемой математическим методом, называемым преобразованием Фурье. [ИСО 13943:2008, статья 4.158. определение термина изменено] | infrared spectroscopy; FTIR |
4.9
комбинационное рассеяние света: Явление неулругого рассеяния оптиче ского излучения на молекулах вещества, облученного моноэнергетическим ионизирующим излучением, сопровождающееся переходом рассеивающих молекул на другие колебательные и вращательные уровни энергии. [ИСО 18115-2, статья 5.128) | Raman effect |
4.10
спектроскопия комбинационного рассеяния света: Метод исследования энергетических уровней молекул вещества, основанный на явлении комбинационного рассеяния света (4.9). [ИСО 18115-2, статья 5.129) | Raman spectroscopy |
4.11 спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света: СПУКР: Метод исследования объекта, основанный на эффекте усиления явления комбинационного рассеяния света (4.9), проявляющемся благодаря молекулам или нанообъектам (2.2), адсорбированным на металлической поверхности (подложке), имеющей неровности размером в нанодиапазоне (2.1). и облученным соответствующим светом. | surface enhanced Raman spectroscopy; SERS |
Примечания
1 Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света нанообьекты должны быть адсорбированы на подложке из золота, серебра, меди или алюминия
2 Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света размеры неровностей поверхности должны быть более 10 нм.
4.12
спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света; СЛУКР: Метод исследования объекта, основанный на облучении его поляризованным светом и анализе единичного активного участка поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света (4.9) с помощью металлического зонда, расположенного в непосредственной близости от поверхности исследуемого объекта. [ИСО 18115-2, статья 3.42] | tip enhanced Raman spectroscopy; TERS |
4.13
электронный спектрометр: Устройство, предназначенное для определе ния числа электронов или регистрации их энергетических спектров в виде зависимости интенсивности электронного потока от кинетической энергии регистрируемых электронов. | electron spectrometer |
Примечание — Термин «электронный спектрометр» может быть использован взамен термина «анализатор энергии электронов» или применен для понятия, обозначающего устройство, состоящее из нескольких узлов, включая анализатор энергии электронов и дополнительные функциональные электронко-оптические части. Термин «электронный спектрометр» также может быть применен для понятия, обозначающего измерительную систему (спектрометрическую установку), включающую анализатор энергии электронов, функциональные электронно-оптические части, источник возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос, персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработку и выдачу результатов измерений
(ИСО 18115-1, статьи 4.187,4.190, определение термина изменено]
4.14
спектроскопия характеристических потерь энергии электронами; СХПЭЭ: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии в процессе взаимодействия с объектом. | electron energy loss spectroscopy; EELS |
Примечания
1 Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ, будут близки к значениям, полученным с помощью электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) (4.18), а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи пика упруго отраженных электронов.
2 Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.
[ИСО 18115-1, статья 4.197, наименование и определение термина изменены]
4.15
Оже-электрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего Auger electron излучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних оболочек.
Примечание — Энергия Оже-электрона характерна для конкретного элемента Анализ энергии Оже-элек-тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов
(ИСО 18115-1, статья4.37, определение термина изменено]
4.16
Auger electron spectroscopy; AES
электронная Оже-спектроскопия; ЭОС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров Оже-электронов (4.15), испускаемых с поверхности объекта.
Примечание — В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные пучки с энергией от 2 до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае применения в ЭОС рентгеновского излучения энергию Оже-электронов отсчитывают относительно уровня Ферми, а при применении электронного пучка — уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические спектры Оже-электронов и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в процессе записи спектров.
(ИСО 18115-1, статья 3.1] 4.17
ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия; УФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.
ultraviolet photoelectron spectroscopy; UPS
Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные лампы, чаще всего гелиевые В этих источниках, в зависимости от давления газа и тока разряда, генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (Не I) и 40,8 эВ (Не II). Также в УФЭС применяют источники синхротронного излучения.
(ИСО 18115-1, статья 3.22]
4.18
Х-гау photoelectron spectroscopy; XPS
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия; РФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов и Оже-электронов (4.15), испускаемых с поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.
Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для РФЭС рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний (Мд) и алюминий (AI), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253,6 и 1486,6 эВ соответственно. В настоящее время существуют электронные спектрометры, в которых используют мишени из других материалов. Также в РФЭС применяют источники синхротронного излучения.
(ИСО 18115-1, статья 3.23]
4.19 рентгеновская спектроскопия поглощения: РСП: Метод исследования объекта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения объектом рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения.
X-ray absorption spectroscopy; XAS
Примечания
1 РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/или электронной структуре исследуемого объекта
2 РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СТСРСП), спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроскопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).
4.20
рентгеновская флуоресценция: РФ: Вторичное излучение, возникающее в Х-гау результате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетического fluorescence; рентгеновского излучения. XRF Примечание — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента [ИСО 3497:2000, статья 2.1] | |
4.21 | |
энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия; ЭДРС: Метод исследования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов. (ИСО 22309:2011, статья 3.11, определение термина изменено] | energy-dispersive Х-гау spectroscopy; EDS; EDX |
4.22 | |
масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой; ИСП-МС: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущенным в виде аэрозоля через индуктивно связанную аргоновую плазму, образованную специальной горелкой и проходящую внутри высокочастотной катушки индуктивности. (ИСО 15202-3:2004, статья 3.3.7, определение термина изменено] | inductively coupled plasma mass spectrometry: ICP-MS |
4.23 | |
масс-спектрометрия вторичных ионов; МСВИ: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокупности распределенных в пространстве и/или во времени вторичных ионов объекта, разделенных по значениям отношения массы иона к его заряду, и возникающих при бомбардировке поверхности объекта потоком первичных ионов. | secondary-ion mass spectrometry; SIMS |
Примечание — МСВИ подразделяют на динамическую, применяемую для определения элементного состава нескольких слоев исследуемого объекта как функции глубины, и статическую, применяемую для элементного анализа поверхностного монослоя исследуемого объекта (с целью предотвращения повреждения поверхности исследуемого объекта плотность потока первичных ионов должна быть не более 1016 ионов/м2).
(ИСО 18115-1, статья 3.17] 4.24 атомно-зондовая томография: Метод исследования объекта с помо- atom-probe щью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных атомов или tomography молекул, вылетающих из импульсно распыляемого нановолокна (2.6) (исследуемого объекта).
Примечание — При исследовании объекта методом атомно-зондовой томографии применяют позиционночувствительный детектор, позволяющий определить координаты ударения ионов, с помощью которых рассчитывают изначальное положение атомов на поверхности нановолокна.
4.25
анализ выделяемых веществом газов; АВВГ: Метод исследования объекта. основанный на регистрации измерения состава и/или количества выделяемого газа при нагревании объекта в зависимости от заданной температуры. (ИСО 472:2013. статья 2.345, определение термина изменено] | evolved-gas analysis; EGA |
4.26 спектроскопия ядерного магнитного резонанса: ЯМР-спектроскопия: | nuclear |
Метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта. основанный на явлении ядерного магнитного резонанса. | magnetic resonance spectroscopy; NMR spectroscopy |
4.27 электронный парамагнитный резонанс; ЭПР: Резонансное поглощение электромагнитной энергии в радиочастотном диапазоне парамагнитными частицами, помещенными в постоянное магнитное поле, лежащее в основе метода исследования систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (нечетным числом электронов). | electron paramagnetic resonance; EPR |
Примечание — Метод, основанный на явлении ЭПР, аналогичен методу ЯМР-спектроскопии. Но в отличие от ЯМР-слектроскопии в данном методе измеряют спиновые магнитные моменты электронов парамагнитных частиц.
4.28
гамма-резонансная спектроскопия; мёссбауэровская спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэнергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником. [ИСО 921:1997, статья 764] | Mossbauer spectroscopy |
4.29 интерферометрия двойной поляризации; ИДП: Метод исследования на молекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного луча при смене направлений поляризации. | dual polarization interferometry; DPI |
Примечания
1 Быстрое переключение направлений поляризации позволяет в режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.
2 ИДП применяют для исследования конформационных изменений белков или биомолекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов
5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы
5.1.1 метод пьезоэлектрического микровзвешивания; МПМ: Метод измерения массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на зависимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) от количества вещества, нанесенного на его поверхность.
quartz crystal microbalance; QCM
Примечание — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, в газовой или жидкой средах
5.1.2 | |
термогравиметрия; ТГ: Метод измерения массы вещества, основанный на регистрации изменения его массы в зависимости от температуры или времени при нагревании в заданной среде с регулируемой скоростью. (ИСО 472:2013, статья 2.1173, определение термина изменено] | thermogravimetry; TG |
5.1.3 | |
дифференциально-сканирующая калориметрия; ДСК: Метод определе- | differential |
ния характеристик вещества, основанный на регистрации энергии, необхо- | scanning |
димой для выравнивания температур исследуемого вещества и вещества, | calorimetry; |
используемого в качестве эталона, в зависимости от температуры или времени. (ИСО 472:2013, статья 2.278, определение термина изменено] | DSC |
5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов | |
5.2.1 дифракция рентгеновского излучения: Явление рассеяния рентгеновского излучения в результате взаимодействия с электронами вещества, лежащее в основе метода рентгеноструктурного анализа, в котором из сформированной дифракционной картины получают информацию о структуре исследуемого объекта. | X-ray diffraction |
Примечание — С помощью метода рентгеноструктурного анализа можно определить размеры области когерентного рассеяния объекта 5.2.2 | |
дифракция отраженных электронов; ДОЭ: Явление обратного рассеяния | electron |
электронов, возникающее вследствие взаимодействия электронов с атом- | backscatter |
ными плоскостями кристаллической решетки объекта, при облучении объ- | diffraction; |
екта электронным пучком. (ИСО 24173:2009. статья 3.7) | EBSD |
5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях
5.3.1
электрофоретическая скорость: Скорость частиц (2.9) во время электро- electrophoretic фореза. velocity
Примечание — Единица измерения электрофоретической скорости — м/с
[ИСО 13099-1:2012, статья 2.2.6]
5.3.2
электрофоретическая подвижность: Отношение электрофоретической electrophoretic скорости к напряженности электрического поля. mobility
Примечания
1 Положительно заряженные частицы (2.9) перемещаются к отрицательному электроду (катоду), а отрицательно заряженные частицы — к положительному электроду (аноду).
2 Единица измерения электрофоретической подвижности — м‘/(Вс).
(ИСО 13099-1:2012, статья 2.2.5)
5.3.3
плоскость скольжения; плоскость сдвига: Абстрактная плоскость, представляющая собой границу раздела твердой и жидкой фаз. относительно ко* торой происходит движение жидкой фазы под внешним воздействием. (ИСО 13099*1:2012, статья 2.1.11]
5.3.4
электрокинетический потенциал; дзета-потенциал: Разность между электрическими потенциалами жидкой фазы и плоскости скольжения.
slipping plane; shear plane
electrokinetic potential; zeta potential
Примечание — Единица измерения электрокинетического потенциала— В. (ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.8]
5.3.5
поверхностная плотность электрического заряда: Величина, характе- electric surface ризующая распределение электрического заряда по поверхности объекта charge density вследствие удельной адсорбции ионов из жидкой массы или диссоциации поверхностных групп ионов.
Примечание — Единица измерения поверхностной плотности электрического заряда — Кл/м2.
(ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.6]
Алфавитный указатель терминов на русском языке
АВВГ
агломерат
агрегат
анализ выделяемых веществом газов
анализ траекторий движения наночастиц
анализ траекторий движения частиц
АСМ
АТДН
АТДЧ
аэрозоль
БСОМ
ГПХ
дзета-потенциал
диаметр гидродинамический
диаметр эквивалентный
дифракция нейтронов
дифракция отраженных электронов
дифракция рентгеновского излучения
ДОЭ
ДРС
ДСК
ДЦ
ИДИ
интерферометрия двойной поляризации
ИСП-МС
калориметрия дифференциально-сканирующая
КДЭП
классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц
КРС
люминесценция
масс-спектрометрия вторичных ионов
масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
метод Брунауэра, Эммета и Теллера
метод БЭТ
метод Коултера
метод пьезоэлектрического микровзвешивания
метод электрочувствительной зоны
микроскопия атомно-силовая
микроскопия ближнего поля сканирующая оптическая
микроскопия ближнепольная сканирующая оптическая
микроскопия конфокальная световая 3.5.10
микроскопия локализованных флуоресцентных молекул 3.5.16
микроскопия медленных электронов
микроскопия полного внутреннего отражения флуоресцентная | 3.5.14 |
микроскопия растровая ионная | 3.5.9 |
микроскопия сверхвысокого разрешения | 35.15 |
микроскопия сканирующая зондовая | 3.5.1 |
микроскопия сканирующая силовая | 3.5.2 |
микроскопия сканирующая туннельная микроскопия флуоресцентная | 3.5.3 3.5.13 |
микроскопия электронная просвечивающая | 3.5.6 |
микроскопия электронная растровая | 3.5.5 |
микроскопия электронная сканирующая | 3.5.5 |
микроскопия электронная растровая просвечивающая | 3.5.7 |
микроскопия эллипсометрическая с усилением контраста изображения ММ3 | 3.5.11 3.5.8 |
МНР | 3.2.2 |
мпм | 5.1.1 |
МРР | 3.2.4 |
мсви | 4.23 |
нановолокно | 2.6 |
нанодиапаэон | 2.1 |
нанообъект | 2.2 |
нанопластина | 24 |
наностержень | 2.5 |
нанотрубка | 2.7 |
наночастица | 2.3 |
Оже-спектроскопия электронная | 4.16 |
Оже-электрон | 4.15 |
осаждение частиц в жидкости центробежное | 3.4.2 |
плоскость сдвига | 5.3.3 |
плоскость скольжения | 5.3.3 |
плотность электрического заряда поверхностная | 5 3.5 |
площадь поверхности удельная, вычисляемая по массе площадь поверхности удельная, вычисляемая по объему |
|
подвижность электрофоретическая | 5.3.2 |
потенциал электрокинетический | 5.3.4 |
ПРЭМ | 3.5.7 |
ПФП | 3.4.1 |
ПЭМ | 3.5.6 |
радиус инерции | 3.2.1 |
размер частицы | 3 1.1 |
распределение частиц по размерам | 3.1.2 |
рассеяние нейтронное малоугловое | 3.2.2 |
рассеяние рентгеновское малоугловое | 3.2.4 |
рассеяние света | 3.2.5 |
рассеяние света динамическое | 3.2.7 |
рассеяние света квазиулрузое рассеяние света комбинационное резонанс электронный парамагнитный РСП | 3.2.7 4.9 4.27 4.19 |
РФ | 4.20 |
РФЭС | 4.18 |
РЭМ | 3.5.5 |
САДЭП сзм | 3.3.3 3.5.1 |
система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц скорость электрофоретическая скч | 3.3.3
|
СЛУКР | 4 12 |
СОМБП | 3.5.4 |
соотношение аспектное | 3.1.4 |
спектрометр электронный спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра | 4.13 4.6 |
спектроскопия гамма-резонансная спектроскопия инфракрасная с преобразованием Фурье спектроскопия комбинационного рассеяния света спектроскопия корреляционная фотонная спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света спектроскопия мессбауэровская | 4.28 4.8 4.10 3.2.7 4 12 4.28 |
спектроскопия оптическая спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света | 4.1 4.11 |
спектроскопия поглощения рентгеновская спектроскопия флуоресцентная спектроскопия флуоресцентная корреляционная спектроскопия фотолюминесцентная спектроскопия фотоэлектронная рентгеновская спектроскопия фотоэлектронная ультрафиолетовая | 4.19 4.5 4.7 4.4 4 18 4.17 |
спектроскопия характеристических потерь энергии электронами | 414 |
спектроскопия энергодислерсионная рентгеновская | 4.21 |
спектроскопия ядерного магнитного резонанса СПУКР | 4.26 4.11 |
ссм | 3.5.2 |
стм | 3.5.3 |
суспензия схпээ | 2 13 4 14 |
счетчик конденсированных частиц СЭМ | 3.3.1 3.5.5 |
тг | 5.1.2 |
термогравиметрия томография атомно-зондовая | 5 1.2 4.24 |
точка квантовая | 2.8 |
УФЭС | 4.17 |
ФКС | 3.2.7 |
ФКС | 4.7 |
ФЛ-спектроскояия | 44 |
флуоресценция | 3.5.12 |
флуоресценция рентгеновская | 4.20 |
ФМПВО | 3.5.14 |
форма частицы | 3.1.3 |
фотолюминесценция | 4.3 |
фракционирование проточное в силовом поле | 3.4.1 |
Фурье-ИКС | 4.8 |
хроматография гель-проникающая | 3.4.3 |
центрифугирование дифференциальное | 3.4.2 |
ЦОЖ | 34.2 |
частица | 2.9 |
ЭДРС | 4.21 |
электрометре цилиндром Фарадея | 3.3.4 |
ЭМУК | 3.5.11 |
ЭОС | 4.16 |
ЭПР | 427 |
ЭЦФ | 3.3.4 |
ЯМР-спектроскопия | 4.26 |
Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке
aerosol | 2.12 |
AES | 4.16 |
AFM | 3.5.2 |
agglomerate | 2.10 |
aggregate | 2 11 |
aspect ratio | 3 1.4 |
atomic force microscopy | 3.5.2 |
atom-probe tomography | 4.24 |
Auger electron | 4.15 |
Auger electron spectroscopy | 4 16 |
BET method | 3.6.3 |
Brunauer—Emmett—Teller Method | 3.6.3 |
centrifugal liquid sedimentation | 3.4.2 |
CLS | 3.4.2 |
condensation particle counter | 3.3.1 |
confocal optical microscopy | 3.5.10 |
Coulter counter | 3.4.4 |
CPC | 3.3.1 |
DCS | 3.4.2 |
DEMC | 3.3.2 |
differential centrifugal sedimentation | 3.4.2 |
differential electrical mobility classifier | 3.3.2 |
differential mobility analysing system | 3.3.3 |
differential scanning calonmetry | 5.1.3 |
DLS | 3.2.7 |
DMAS | 3.3.3 |
DPI | 4.29 |
DSC | 5.1.3 |
dual polarization interferometry | 4.29 |
dynamic light scattering | 3.2.7 |
EBSD | 5.2.2 |
EDS | 4.21 |
EDX | 4.21 |
EELS | 4.14 |
EGA | 4.25 |
electric surface charge density | 5.3.5 |
electrical zone sensing | 3.4.4 |
electrokinetic potential | 5.3.4 |
electron backscatter diffraction | 5.2.2 |
electron energy loss spectroscopy | 4.14 |
electron paramagnetic resonance | 4.27 |
electron spectrometer | 4.13 |
electrophoretic mobility | 5.3.2 |
electrophoretic velocity | 5.3.1 |
energy-dispersive X-ray spectroscopy | 421 |
EPR | 4.27 |
equivalent diameter | 3.1.5 |
evolved-gas analysis | 4.25 |
Faraday-cup aerosol electrometer | 3.3.4 |
FCAE | 3.3.4 |
FCS | 4.7 |
FFF | 3.4.1 |
field flow fractionation | 3.4.1 |
fluorescence | 3.5.12 |
fluorescence correlation spectroscopy | 4.7 |
fluorescence microscopy | 3.5.13 |
fluorescence spectroscopy | 4.5 |
Fourier transform infrared spectroscopy | 4.8 |
FTIR | 4.8 |
hydrodynamic diameter | 3.2.6 |
ICP-MS | 4.22 |
inductively coupled plasma mass spectrometry | 4.22 |
LEEM | 3.5.8 |
light scattering | 3.2.5 |
localization microscopy | 3.5.16 |
low energy electron microscopy | 3.5.8 |
luminescence | 4.2 |
mass specific surface area | 3.6.1 |
MOssbauer spectroscopy | 4.28 |
nanofibre | 2.6 |
nano-object | 2.2 |
nanoparticle | 2.3 |
nanoparticle tracking analysis | 3.2.8 |
nanoplate | 2.4 |
nanorod | 2.5 |
nanoscale | 2.1 |
nanotube | 2.7 |
near-field scanning optical microscopy | 3.5.4 |
neutron diffraction | 3.2.3 |
NMR spectroscopy | 4.26 |
NSOM | 3.5.4 |
NTA | 3.2.8 |
nuclear magnetic resonance spectroscopy | 4.26 |
optical spectroscopy | 41 |
particle | 2.9 |
particle shape | 3.1.3 |
24 |
particle size | 3.1.1 |
particle size distribution | 3 1.2 |
particle tracking analysis | 3.2.8 |
PCS | 3.2.7 |
ph otolu mi n escen ce | 4.3 |
photoluminescence spectroscopy | 4.4 |
photon correlation spectroscopy | 3.2.7 |
PL spectroscopy | 4.4 |
PTA | 3.2.8 |
QCM | 5.1.1 |
QELS | 3.2.7 |
quantum dot | 2.8 |
quartz crystal microbalance | 5.1.1 |
quasi-elastic light scattering | 3.2.7 |
radius of gyration | 3.2.1 |
Raman effect | 4.9 |
Raman spectroscopy | 4.10 |
SANS | 3.2.2 |
SAXS | 3.2.4 |
scanning electron microscopy | 3.5.5 |
scanning force microscopy | 3.5.2 |
scanning ion microscopy | 3.5.9 |
scanning near-field optical microscopy | 3.5.4 |
scanning probe microscopy | 3.5.1 |
scanning transmission electron microscopy | 3.5.7 |
scanning tunnelling microscopy | 3.5.3 |
SEC | 3.4.3 |
secondary-ion mass spectrometry | 4.23 |
SEEC microscopy | 3.5.11 |
SEM | 3.5.5 |
SERS | 4 11 |
SFM | 3.5.2 |
shear plane | 5.3.3 |
SIMS | 4.23 |
size-exclusion chromatography | 3.4.3 |
slipping plane | 5.3.3 |
small angle neutron scattering | 3.2.2 |
small angle X-ray scattering | 3.2.4 |
SNOM | 3.5.4 |
SPM | 3.5.1 |
STEM | 3.5.7 |
STM | 3.5.3 |
super-resolution microscopy | 3.5.15 |
surface enhanced ellipsometric contrast microscopy | 3.5.11 |
surface enhanced Raman spectroscopy | 4.11 |
suspension | 2.13 |
ТЕМ | 3.5.6 |
TERS | 4.12 |
TG | 5.1.2 |
thermogravimetry | 5.1.2 |
tip enhanced Raman spectroscopy | 4.12 |
TIRF microscopy | 3.5.14 |
total internal reflection fluorescence microscopy | 3.5.14 |
transmission electron microscopy | 3.5.6 |
ultraviolet photoelectron spectroscopy | 4.17 |
UPS | 4.17 |
UV—Vis spectroscopy | 4.6 |
volume specific surface area | 3.6.2 |
XAS | 4 19 |
XPS | 4.18 |
XRF | 4.20 |
X-ray absorption spectroscopy | 4 19 |
X-ray diffraction | 5.2.1 |
X-ray fluorescence | 4.20 |
X-ray photoelectron spectroscopy | 4 18 |
zeta potential | 5.3.4 |
Библиография
[1] | ISOZTS 80004-1:2010 | Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Core terms (Нанотехнологии. Словарь. Часть 1. Основные термины) |
[2] | ISO/TS 27687:2008 | Nanotechnologies — Terminology and definitions for nano-objects — Nanoparticle, nanofibre and nanoplate (Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов Наночастица, нановолокно и нанопластина) |
[3] | ISO 14644-6 2007 | Cleanrooms and associated controlled environments — Part 6: Vocabulary (Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 6. Словарь) |
[4J | ISO 15900:2009 | Determination of particle size distribution — Differential electrical mobility analysis for aerosol particles (Определение гранулометрического состава. Анализ дифференциальной подвижности частиц аэрозолей в электрическом поле) |
[5J | ISO 4618 | Paints and varnishes — Terms and definitions (Краски и лаки. Термины и определения) |
(6J | ISO 26824:2013 | Particle characterization of particulate systems — Vocabulary (Определение характеристик частиц систем макрочастиц. Словарь) |
[7] | ISO 14644-Г1999 | Cleanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness (Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 1. Классификация чистоты воздуха) |
[8] | ISO 3252:1999 | Powder metallurgy — Vocabulary (Порошковая металлургия. Словарь) |
[9] | ISO 14966:2002 | Ambient air — Determination of numerical concentration of inorganic fibrous particles — Scanning electron microscopy method (Воздух окружающий. Определение концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод растровой электронной микроскопии) |
[Ю] | ISO 9276-1:1998 | Representation of results of particle size analysis — Part 1: Graphical representation (Гранулометрический анализ. Представление результатов. Часть 1. Графическое представление) |
[11] | ISO 14695:2003 | Industrial fans — Method of measurement of fen vibration (Вентиляторы промышленные. Метод измерения вибрации вентилятора) |
[12] | ISO 18115-1:2010 | Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy (Химический анализ поверхности Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии) |
[13] | ISO 13320:2009 | Particle size analysis — Laser diffraction methods (Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции) |
[14] | ISO 16014-1:2012 | Plastics — Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography — Part 1: General principles (Пластмассы. Определение средней молекулярной массы и молекулярно-массового распределения полимеров с использованием вытеснительной (по размеру) хроматографии Часть 1. Общие принципы) |
[15] | ISO 18115-2:2010 | Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanningprobe microscopy (Химический анализ поверхности. Словарь Часть 2. Термины, используемые в растровой микроскопии) |
[16] | ISO 17751:2007 | Textiles — Quantitative analysis of animal fibres by microscopy — Cashmere, wool, speciality fibres and their blends (Текстиль. Количественный анализ волокон животного происхождения с использованием микроскопа Кашемир, шерсть, специальные волокна и их смеси) |
[17] | ISO 29301:2010 | Microbeam analysis —Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures (Ми-кропучковый анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибрующего увеличения изображения с применением стандартных материалов с периодической структурой) |
[18] | ISO/TS 10797:2012 | Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy (Нанотехнологии Характеристика одностеночных углеродных нанотрубок с использованием трансмиссионного электронного микроскопа) |
[19] | ISO 10934-2 2007 | Optics and optical instruments — Vocabulary for microscopy — Part 2: Advanced techniques in light microscopy (Оптика и оптические приборы Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые технологии в оптической микроскопии) |
[20] | ISO 9277:2010 | Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — 8ET method (Определение удельной площади поверхности твердых тел по адсорбции газа с применением метода Брункера, Эммета и Теллера (ВЕТ-метод)) |
[21] | IEC 60050-845:1987 | International Electrotechnical Vocabulary — Chapter 845' Lighting (Международный электротехнический словарь — Глава 845: Освещение) |
[22] | ISO 13943:2008 | Fire safety — Vocabulary (Пожарная безопасность Словарь) |
[23] | ISO 3497:2000 | Metallic coatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods (Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы) |
[24] | ISO 22309:2011 | Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above (Анализ с использованием микропучка. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным числом 11 (Na) или выше) |
[25] | ISO 15202-3:2004 | Workplace air — Determination of metals and metalloids in airborne particulate matter by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry — Part 3: Analysis (Воздух рабочей зоны Определение концентрации металлов и металлоидов в твердых частицах аэрозоля с помощью эмиссионной атомной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Часть 3. Анализ) |
[26] | ISO 472:2013 | Plastics — Vocabulary (Пластмассы. Словарь) |
[27] | ISO 921:1997 | Nuclear energy — Vocabulary (Ядерная энергия. Словарь) |
[28] | ISO 24173 2009 | Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (Микропучковый анализ. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции при обратном рассеянии электронов) |
[29] | ISO 13099-1 2012 | Colloidal systems — Methods for zeta-potential determination — Part 1 Electroacoustic |
and electrokinetic phenomena (Системы коллоидные. Методы определения зета-по-тенциала. Часть 1. Электроакустические и электрокинетические явления)
УДК 53.04:006.354
ОКС 07.030
01.040.07
Ключевые слова: нанотехнологии, характеристики нанообъектов, методы определения характеристик, термины, определения
Редактор Н.А. Шламкова
Технический редактор В.Н. Прусакова Корректор Л. С. Лысенко Компьютерная верстка Е.Е. Кругова
Сдано в набор 12.01.2016. Подписано в печать 14.03 2016. Формат 60 «в41/в. Гарнитура Ариал Усл. печ. л. 4.18. Уч.-изд. л. 3,50. Тираж 32 экэ Зак. 725.
Издано и отпечатано во . 123995 Москва. Гранатный пер.. 4