ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ
СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ
ФЕДЕРАЦИИ
ГОСТР
56647-
2015/
ISO/TS 80004-6:2013
НАНОТЕХНОЛОГИИ
Часть 6
Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения
(ISO/TS 80004-6:2013, ЮТ)
Издание официальное
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии международного документа, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 «Нанотехнологии»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. № 1586-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСО/ТС 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» (ISO/TS 80004-6:2013 «Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization». IDT).
Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного документа для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5—2012 (пункт 3.5)
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8). Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты». а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет ()
© Стамдартинформ. 2016
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
U
Содержание
3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам
3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым
3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик
5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик
5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик
Введение
Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.
Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы, как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов, и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов. а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.
В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам:
• раздел 2 «Основные термины и определения»:
• раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения»:
• раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;
- раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».
Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов. и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3, которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.
Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения на-нообъекгов на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.
Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов. в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов. и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов. чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов.
Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов
|
Характеристика |
Метеды |
|
Размер |
Атомно-силовая микроскопия (ACM), центробежное осаждение частиц в жидкости (ЦОЖ). система анагыза дифференциальной электрической подвижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС). растровая электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ). просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) |
|
Форма |
Атомно-силовая микросхогыя (ACM), растровая электронная микроскопия (РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ) |
|
Площадь поверхности |
Метод Брунауэра, Эммета и Теллера (метод БЭТ) |
|
Химические характеристики поверхности объекта |
Мэсс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) |
|
Химический состав объекта |
Мэсс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС). спектроскопия ядврного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия) |
|
Электрокинетичесхий потенциал частиц в суспензии |
Определение дзета-потенциала |
Настоящий стандарт предназначен для применения в качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения в области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.
Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящуюся к характеристикам нанообъек-тов и методам их определения.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».
Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.
Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки. раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.
8 стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.
8 стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
НАНОТЕХНОЛОГИИ Часть 6
Характеристики нанообъектов и методы их определения.
Термины и определения
Nanotechnologies. Part 6. Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions
Дата введения — 2016—04—01
1 Область применения
Настоящий стандарт является частью серии стандартов ИСО/ТС 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.
2 Основные термины и определения
2.1
нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм. nanoscale
Примечания
1 Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как. в основном, уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются.
2 Нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообъектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы атомов.
[ИСО/ТС 27687:2008, статья 2.1]
2.2
нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному. nano-object двум или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).
Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся в нанодиапазоне.
[ИСО/ТС 80004-1:2010. статья 2.5]
2.3
наночастица: Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по всем трем nanoparticle измерениям находятся в каиодиапаэоне (2.1).
Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообъекта значительно больше, чем по третьему измерению (как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица* можно использовать термины «нановолокно» (2.6) или «нанопласгина» (2.4).
[ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.1]
Издание официальное
2.4
|
нанопластика: Нанообъект (2.2), линейные размеры которого по одному измерению находятся в нанодиапаэона (2.1). а размеры по двум другим измерениям значительно больше. Примечания |
nanoplate |
[ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.2]
1 Наименьший гмнейный размер — толщина нэнолластины.
2 Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем е три раза.
3 Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапазона.
|
2.5 | |
|
наностержень: Твердое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008, статья 4.5] 2.6 |
nanorod |
|
нановолокно: Нанообъект (2.2), линейные размеры которою по двум измерениям находятся в нанодиапаэоне (2.1), а по третьему измерению значительно больше. Примечания |
nanofibre |
(ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.3]
1 Наноаопокно может быть гибким игы жестким.
2 Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза.
3 Наибольший линейный размер мажет находиться вне нанодиапаэона.
|
2.7 | |
|
нанотрубка: Полое нановолокно (2.6). [ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.4] 2.8 |
nanotube |
|
квантовая точка: Нанообъект. линейные размеры которого по трем измерениям близки длине волны электрона в материале данного нанообъекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами. при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях. (ИСО/ТС 27687:2008. статья 4.7] 2.9 |
quantum dot |
|
частица. Мельчайшая часть вещества с определенными физическими границами. |
particle |
(ИСО 14644-6:2007. статья 2.102; ИСО/ТС 27687:2008. статья 3.1]
Примечания
1 Физическая граница также может быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).
2 Частица может перемещаться как единое целое.
3 Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2.2).
|
2.10 | |
|
агломерат: Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9). или их агрегатов (2.11). или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов. |
agglomerate |
Примечания
1 Силы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабым! и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса или простым физическим переплетением частиц друг с другом.
2 Агломераты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие называют «первичные частицы».
[ИСО/ТС 27687:2008. статья 3.2)
|
2.11 | |
|
агрегат: Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных частиц (2.9). общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов. |
aggregate |
|
Примечания 1 Силы, удерживающие частицы а составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом. 2 Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы». | |
|
[ИСО/ТС 27687:2008. статья 3.3) | |
|
2.12 | |
|
аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц (2.9). взвешенных в газе. [ИСО 15900:2009. статья 2.1) |
aerosol |
|
2.13 | |
|
суспензия. Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой являются мелкие частицы твердого вещества. [ИСО 4618:2006. статья 2.243) |
suspension |
3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения
3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов
3.1.1
размер частицы: Линейный размер частицы (2.9). определенный соответ- particle size стеующими методом и средствами измерений в заданных условиях.
Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц. Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например эквивалентный диаметр сферической частицы.
[ИСО 26824:2013. статья 1.5)
3.1.2
распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависи- particle size мости от их размеров (3.1.1). distribution
Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц).
[ИСО 14644-1:1999. статья 2.2.4. определение термина изменено]
3.1.3
|
форма частицы: Внешнее геометрическое очертание частицы (2.9). (ИСО 3252:1999. статья 1401] |
particle shape |
|
3.1.4 | |
|
аспектное соотношение: Отношение длины частицы (2.9) к ее ширине. (ИСО 14966:2002. статья 2.8] |
aspect ratio |
|
3.1.S |
эквивалентный диаметр: Диаметр сферического объекта, оказывающий equivalent такое же воздействие на средство измерения для определения распределе- diameter
ния частиц по размерам, что и измеряемая частица (2.9).
Примечания
1 Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ИСО 9276-1:1998 [2]).
2 Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, испогъзуют эквивалентный оптический диаметр.
3 Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы, например в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее осаждения в жидкости. Значения характеристик материала, используемых для расчета, должны быть представлены дополнительно.
4 С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр. Аэродинамический диаметр — это диаметр сферы плотностью 1000 кг/м3, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью.
[ИСО/ТС 27667:2008, статья А.3.3. определение термина изменено}
3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света
3.2.1
радиус инерции. Мера распределения массы объекта вокруг оси. проходя- radius of щей через его центр, выраженная отношением квадратного корня из момен- gyration та инерции относительно данной оси к массе объекта.
Примечание — Для определения характеристик нанообьектов (2.2). например размеров частиц (3.1.1). необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например мапоугпоеого нейтронного рассеяния (3.2.2) или мапоутпового рентгеновского рассеяния (3.2.4).
(ИСО 14695:2003. статья 3.4]
3.2.2 малоугловое нейтронное рассеяние; МНР: Метод исследования объ- small angle neutron екта. основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов scattering;
на объекте при малых значениях углов рассеяния. SANS
Примечание — Рекомендуемый диапазон утлое рассеяния составляет от 0.5* до 10* и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм. Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2.9) и форме диспергированных в однородной среде частиц.
3.2.3 дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, при- neutron меняемое для исследования атомной или магнитной структуры вещества. diffraction
Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией. примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов. С помощью сформированной в процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества.
3.2.4
малоугловое рентгеновское рассеяние. МРР: Метод исследования объек- small angle X-ray та. основанный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского из- scattering; SAXS лучения, проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.
Примечание — Рекомендуемый диапазон утлое рассеяния составляет от 0.1* до 10* и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм.
[ИСО 18115-1. статья 3.18]
|
3.2.5 | |
|
рассеяние света; Преобразование распределения светового потока на границе раздела двух сред, имеющих разные оптические свойства. [ИСО 13320:2009. статья 3.1.17] |
light scattering |
|
3.2.6 гидродинамический диаметр: Эквивалентный диаметр (3.1.5) частицы (2.9), имеющей то же значение коэффициента диффузии в жидкой среде, что и реальная частица в этой среде. |
hydrodynamic diameter |
|
3.2.7 динамическое рассеяние света; ДРС; фотонная корреляционная спектроскопия: ФКС: квазиупругое рассеяние света: КРС: Метод определения размеров частиц (3.1.1) в суспензии (2.13). основанный на анализе изменения интенсивности рассеянного света частицами (2.9), находящихся в броуновском движении, при зондировании исследуемого объекта лазерным |
dynamic light scattering; DLS; photon correlation spectroscopy; PCS; |
лучом. quasi-elastic
light scattering; QELS
Примечания
1 Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6). по формуле Стокса—Эйнштейна.
2 Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 1 до 6000 нм. Верхний продел диапазона ограничен наличием броуновского движения и осаждением частиц.
nanoparticle tracking analysis;
NTA;
particle tracking analysis; PTA
3.2.8 анализ траекторий движения наночастиц; АТДН; анализ траекторий движения частиц: АТДЧ. Метод определения размеров частиц (3.1.1). основанный на исследовании траекторий перемещения облученных сфокусированным пучком лазера частиц (2.9). находящихся в броуновском движении в суспензии (2.13).
Примечания
1 Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6). по формуле Стокса—Эйнштейна.
2 Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 10 до 2000 нм. Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц, а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц.
3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов
3.3.1
condensation particle counter; CPC
счетчик конденсированных частиц. СКЧ: Устройство, измеряющее счетную концентрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).
Примечания
1 Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ. — от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.
2 СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП) (3.3.2).
3 В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).
(ИСО 15900:2009. статья 2.5)
3.3.2
классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц. КДЭП: Устройство, распределяющее аэрозольные частицы (2.9) по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только определенных размеров.
differential
electrical
mobility
classifier. DEMC
Примечание — Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое попе. Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП. Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней.
[ИСО 15900:2009. статья 2.7]
3.3.3
система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц: САДЭП: Система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц (2.9) аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП. нейтрализатора. счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения.
[ИСО 15900:2009. статья 2.8]
differential mobility analysing system; DMAS
3.3.4
электрометр с цилиндром Фарадея: ЭЦФ. Устройство для измерения Faraday-cup электрических зарядов аэрозольных частиц (2.9). aerosol
electrometer:
FCAE
Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.
[ИСО 15900:2009. статья 2.12. определение термина изменено]
3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ
3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле: ПФП: Метод рааде- field flow ления и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц fractionation; FFF суспензии (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.
Примечания
1 Силовое поле может быть различной природы, например гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.
2 В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры нанообъектов (2.2) и их распределение по размерам.
centrifugal liquid sedimentation; CLS; differential centrifugal sedimentation; DCS
3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости. ЦОЖ; дифференциальное центрифугироеание; ДЦ: Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.
e
Примечание — В зависимости от плотности частиц {2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.
3.4.3
гель-про ни кающая хроматография; ГПХ: Вид жидкостной хроматографии. size-exclusion в котором разделение веществ основано на элюировании молекул опреде- chromatography: ленного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной SEC пористым неадсорбирующим материалом, размеры лор которого соответствуют размерам этих молекул.
[ИСО 16014-1:2012. статья 3.1J
Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).
3.4.4 метод электрочувствительной зоны, метод Коултера: Метод опре- electrical гопе деления распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9), на- sensing, ходящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса Coulter counter электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малою диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).
Примечания
1 Амплитуда импутъса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.
2 Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.
3 Для определения размеров нанообъвхгов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиапазона (2.1).
3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии
8 данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.
3.5.1
сканирующая эоидовая микроскопия. СЗМ: Метод исследования объекта scanning probe с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем меха- microscopy; нического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом SPM и поверхностью объекта.
[ИСО 18115-2. статья 3.30)
Примечания
1 Термин «сканирующая эондовэя микроскопия» является общим гермином для таких понятий, как «атомно-силовая микроскопия» (ACM) (3.5.2). «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5.3).
2 С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ. до 1 мкм. например в сканирующей термо-микроскопии.
3.5.2
atomic force microscopy; AFM;
scanning force microscopy (deprecated); SFM
(deprecated)
атомно-силовая микроскопия. ACM (Нрк. сканирующая силовая микроскопия: ССМ): Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зоидового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.
[ИСО 18115-2. статья 3.2)
Примечания
1 С помощью ACM можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.
2 В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (ACM) перемещают образец в направлении осей х. у, г. а кантилевер остается неподвижным, в других ACM перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.
3 С помощью ACM можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.
4 С помощью ACM в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы ACM имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микросхолии.
5 ACM регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта.
6 Для исследования нанообъектов применяют ACM с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0.1 мкН, в противном случае может произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.
3.5.3
сканирующая туннельная микроскопия. СТМ: СЗМ (3.5.1). применяемая для исследования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирующим его поверхность токопроводящим зондом.
scanning
tunnelling
microscopy;
STM
Примечания
1 С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта.
2 Изображения могут быть сформированы на основе данных о высоте рельефа поверхности объекта при постоянных значениях туннельного тока или о туннельном токе при постоянных значениях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта.
3 С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости {туннельной плотности состояний) исследуемого объекта. Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отличные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности.
[ИСО 16115-2. статья 3.34)
3.5.4
near-field scanning optical microscopy; NSOM; scanning near-field optical microscopy; SNOM
сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля; СОМБП; ближне-польная сканирующая оптическая микроскопия: БСОМ: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.
Примечания
1 Зонд микроскопа размещают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии. Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта.
2 Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда. Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм. что и определяет разрешающую способность микроскопа. В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные. В безапертурном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое споем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм.
3 С помощью СОМБЛ получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью ACM (3.5.2) и других методов эондоеой микроскопии.
[ИСО 18115-2. статья 3.17]
|
3.5.5 | |
|
растровая электронная микроскопия: РЭМ (Нрк. сканирующая электрон нал микроскопия; СЭМ): Метод исследования структуры, состава и формы объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации характеристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение). [ИСО 17751. статья 4.10. определение термина изменено] |
scanning electron microscopy: SEM |
|
3.5.6 | |
|
просвечивающая электронная микроскопия: ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним. [ИСО 29301:2010, статья 3.37. определение термина изменено] |
transmission electron microscopy; ТЕМ |
|
3.5.7 | |
|
просвечивающая растровая электронная микроскопия: ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним. |
scanning transmission electron microscopy: STEM |
|
Примечания 1 Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм. 2 С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры тонких образцов [или мелких частиц (2.9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины. | |
|
[ИСО/ТС 10797, статья 3.10. определение термина изменено] | |
3.5.8 микроскопия медленных электронов; ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий. генерируемыми электронным пучком без сканирования поверхности объекта.
low energy electron microscopy: LEEM
Примечания
1 ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.
2 В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.
3.5.9 растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помо- scanning ion щью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверх- microscopy ности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0.1 до 1 нм.
Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.
3.5.10
|
конфокальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, расположенную перед фокальной плоскостью и позволяющую регистрировать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта. блокируя сеет от остальных точек. |
oonfocal optical microscopy |
|
Примечания 1 Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последовательного сканирования точек объекта. Формирование изображения происходит либо благодаря свойству инерционности зрения при быстро*! сканировании, либо посредством использования фотоприемников и электронных запоминающих устройств. 2 Метод конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контрастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей. | |
|
[ИСО 10934-2:2007, статья 2.11. определение термина изменено) | |
|
3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изобра жения. ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отраженный сеет от подложки или предметного стекла. |
surface enhancer) ell ipsome trie contrast microscopy; SEEC microscopy |
|
Примечание — В микроскопе применяют специагъные антиогражающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз. | |
|
3.5.12 | |
|
флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим выделением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны. [ИСО 18115-2:2010, статья 5.52] |
fluorescence |
|
3.5.13 флуоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12). |
fluorescence microscopy |
|
Примечания 1 В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен источник света, а длина волны, испускаемой объектом флуоресценции, всегда больше длины волны света возбуждения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены специальные фильтры. 2 К методам флуоресцентной микроскопии относят элифлуоресцентную микроскопию, конфокальную микроскопию. флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверхвысокого разрешения (3.5.15). 3 В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демонстрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются. | |
|
3.5.14 | |
|
флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения: ФМПВО: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12), возбуждаемой затухающей волной в тонком пограничном слое раздела двух сред с разными показателями преломления. [ИСО 10934-2:2007. статья 2.51. определение термина изменено] |
total internal reflection fluorescence microscopy: TIRF microscopy |
3.5.15 микроскопия сверхвысокого разрешения: Метод исследования super-resolution объекта с помощью микроскопа, формирующего его изображение с простран- microscopy стеекным разрешением выше дифракционного предела.
Примечания
1 Наиболее распространены следующие виды микроскопии сверхвысокого разрешения: микроскопия локализованных флуоресцентных молекул (3.5.16), микроскопия снижения стимулированной эмиссии (МССЭ) и микроскопия структурированного облучения (МСО).
2 Большинство видов микроскопии сверхвысокого разрешения основаны на явлении флуоресценции (3.5.12).
3.5.16 микроскопия локализованных флуоресцентных молекул: Вид ми- localization кроскопии сверхвысокого разрешения (3.5.15). с помощью которой реконстру- microscopy ируют изображение объекта по зарегистрированной с высокой точностью и сохраненной информации о распределении е нем флуоресцентных молекул (флуорофорое).
Примечания
1 В настоящее время существуют различные виды микроскопии локализованных молекул, которые отличаются типами применяемых флуорофорое. флуоресцирующих в зависимости ог вида действующего возбуждения. К микроскопии локализованных молекул относят, например, микроскопию локализованной фотоактивации (МЛФ) (в качестве флуорофорое применяют флуоресцентные белки) и микроскопию стохастической оптической реконструкции (МСОР), которые основаны на контролируемом «включении» и «выключении» флуорофорое и их последовательной регистрации.
2 Для получения картины распределения флуорофорое в объекте (изображение объекта) необходимо наличие достаточного числа последовательных кадров, позволяющих определить точные координаты всех флуорофорое. При этом должны быть созданы такие условия, чтобы флуорофоры флуоресцировали не одновременно, в по очереди, и изображения флуорофорое 8 различных кадрах не были перекрыты.
3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения
3.6.1
удельная площадь поверхности, вычисляемая по массе: Отношение об* mass specific щей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его массе. surface area
Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по массе. — м^/кг. [ИСО 9277:2010. статья 3.11. наименование и определение термина изменено]
3.6.2
удельная площадь поверхности, вычисляемая по объему. Отношение volume specific общей (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его объ- surface area ему.
Примечание — Единица измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по объему. — м^/м3.
[ИСО 9277:2010. статья 3.11, наименование и определение термина изменено)
Вгипаиег— Emmett—Teller Method;
8ET method
3.6.3 метод Брунауэра, Эммета и Теллера; метод БЭТ: Метод определения общей (внутренней и внешней) удельной площади поверхности дисперсных порошков и/или пористых твердых тел путем экспериментального получения данных о количестве адсорбированного газа и вычисления по формуле, выведенной С. Брунауэром, П. Эмметом и Э. Теллером.
Примечания
1 Определение термина соответствует определению, изложенному в статье С. Брунауэра. П. Эммега и Э. Теллера «Адсорбция газов в полимолекулярных слоях», опубликованной в журнале Американского химического общества, томбО. 1938. с. 309.
2 Метод БЭТ применяют для анализе веществ по изотерме адсорбции типов II (адсорбция на напористых или макропористых адсорбентах) и IV (адсорбция на меэопористых твердых адсорбентах, имеющих поры диаметром от 2 до 50 нм). 3 ах рытые поры, недоступные для проникновения молекул газа, при анализе не учитывают. Метод БЭТ не применяют для твердых адсорбентов, поглощающих газ. используемый при измерениях.
4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа
В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «С» означает «спектроскопия» или «спектрометр» в зависимости от контекста.
|
4.1 оптическая спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом, ультрафиолетовом или инфракрасном диапазонах длин волн. 4.2 |
optical spectroscopy |
|
люминесценция. Излучение атомов, молекул или ионов вещества, находящихся в неравновесном (возбужденном) состоянии за счет энергии внешнего воздействия или энергии внутреннего происхождения, представляющее собой избыток над тепловым излучением тела и продолжающееся в течение времени, значительно превышающего период световых колебаний. |МЭК 60050-845:1987. статья 04-18) 4.3 |
luminescence |
|
фотолюминесценция: Люминесценция (4.2). возникающая при поглощении веществом возбуждающего оптического излучения. (МЭК 60050-845:1987. статья 04-19] |
photoluminescence |
|
4.4 фотолюминесцентная спектроскопия; ФЛ~спехтросколия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате поглощения и испускания фотонов исследуемым объектом. |
photoluminescence spectroscopy; PL spectroscopy |
|
4.5 флуоресцентная спектроскопия. Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате явления фотолюминесценции, вызванного в изучаемом объекте посредством возбуждения его светом. |
fluorescence spectroscopy |
|
4.6 спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения в видимом и ультрафиолетовом диапазонах длин волн. |
UV—Vis spectroscopy |
|
4.7 флуоресцентная корреляционная спектроскопия. ФКС: Метод исследования объекта, основанный на корреляционном анализе флуктуаций интенсивности флуоресценции (3.5.12). |
fluorescence correlation spectroscopy; |
FCS
4.8
Примечание — С помощью ФКС определяют среднее число люминесцирующих частиц (2.9). среднее время их диффузии в исследуемом объеме вещества, концентрацию и размер частиц (молекул).
|
инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье: Фурье-ИКС: Метод исследования, основанный на регистрации спектра поглощения при облучении исследуемого объекта инфракрасным излучением с получением интерферограммы, обрабатываемой математическим методом, называемым преобразованием Фурье. [ИС0 13943:2008. статья 4.158, определение термина изменено] |
Fourier transform infrared spectroscopy; FTIR |
|
4.9 | |
|
комбинационное рассеяние света: Явление неупругого рассеяния оптического излучения на молекулах вещества, облученного мокоэнергетичесхим ионизирующим излучением, сопровождающееся переходом рассеивающих молекул на другие колебательные и вращательные уровни энергии. [ИСО 18115-2. статья 5.128] 4.10 |
Raman effect |
|
спектроскопия комбинационного рассеяния света: Метод исследования энергетических уровней молекул вещества, основанный на явлении комбинационного рассеяния света (4.9). [ИСО 18115-2. статья 5.129) |
Raman spectroscopy |
|
4.11 спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света. СПУКР: Метод исследования объекта, основанный на эффекте усиления явления комбинационного рассеяния света (4.9). проявляющемся благодаря молекулам или нанообъектам (2.2). адсорбированным на металлической поверхности (подложке), имеющей неровности размером е нанодиапазоне (2.1). и облученным соответствующим светом. |
surface enhanced Raman spectroscopy: SERS |
Примечания
1 Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света нанообъекты должны быть адсорбированы на подложке из золота, серебра, меди или алюминия.
2 Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света размеры неровностей поверхности должны быть более 10 нм.
|
4.12 | |
|
спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света: СЛУКР: Метод исследования объекта, основанный на облучении его поляризованным светом и анализе единичного активного участка поверхностноусиленного комбинационного рассеяния света (4.9) с помощью металлического зонда, расположенного е непосредственной близости от по верхности исследуемого объекта. [ИСО 18115-2. статья 3.42] 4.13 |
tip enhanced Raman spectroscopy: TERS |
|
электронный спектрометр: Устройство, предназначенное для определения числа электронов или регистрации их энергетических спектров в виде зависимости интенсивности электронного потока от кинетической энергии регистрируемых электронов. |
electron spectrometer |
Примечание — Термин «электронный спектрометр» может быть использован взамен термина «анализатор энергии электронов» или применен для понятия, обозначающего устройство, состоящее из нескольких узлов, включая анализатор энергии электронов и дополнительные функциональные электронно-оптические части. Термин «электронный спектрометр» также может быть применен для понятия, обозначающего измвригегъ-ную систему (спектрометрическую установку), включающую анализатор энергии электронов, функциональные электронно-оптические части, историк возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос. персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработку и выдачу результатов измерений.
[ИСО 18115-1. статьи 4.187.4.190. определение термина изменено}
|
4.14 | |
|
спектроскопия характеристических потерь энергии электронами; СХПЭЭ: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии е процессе взаимодействия с объектом. |
electron energy loss spectroscopy: EELS |
Примечания
1 Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ. будут близки к значениям, полученным с помощью электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) (4.18). а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи лика упруго отраженных электронов.
2 Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.
(ИСО 18115-1, статья 4.197. наименование и определение термина изменены]
4.15
Оже-электрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего Auger electron
излучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних
оболочек.
Примечание — Энергия Оже-электрона характерна для конкретного элемента. Анализ энергии Оже-элек-тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов.
(ИСО 18115-1, статья 4.37, определение термина изменено]
4.16
электронная Оже-спектроскопия; ЭОС: Метод исследования объекта с Auger electron помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации spectroscopy; энергетических спектров Оже-электроное (4.15). испускаемых с поверхности AES объекта.
Примечание — В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные пучки с энергией от 2 до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае применения в ЭОС рентгеновского излучения энергию Оже-электронов отрепывают относительно уровня Ферми, а при применении электронного пучка — уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические спектры Оже-электроное и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в процессе записи спектров.
[ИСО 18115-1, статья 3.1]
4.17
ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия: УФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.
ultraviolet
photoelectron
spectroscopy;
UPS
Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные пампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках, в зависимости от давления газа и тока разряда, генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (Не 1} и 40.8 эВ (Не II). Также в УФЭС применяют источники синхротромного излучения.
[ИСО 18115-1. статья 3.22]
4.18
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: РФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов и Оже-электронов (4.15). испускаемых с поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.
Х-гау
photoelectron
spectroscopy:
XPS
Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для РФЭС рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний (Мд) и алюминий (А!), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253,6 и 1486.6 эв соответственно. В настоящее время существуют электронные спектрометры, е которых используют мишени из других материалов. Также в РФЭС применяют источники синхротронного излучения.
[ИСО 18115-1. статья 3.23]
4.19 рентгеновская спектроскопия поглощения: РСП: Метод исследования X-ray absorption объекта, основанный на определении зависимости коэффициента поглощения spectroscopy: объектом рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения. XAS
Примечания
1 РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/ипи электронной структуре исследуемого объекта.
2 РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СТСРСП). спектроскопию околопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроскопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).
4.20
|
рентгеновская флуоресценция. РФ: Вторичное излучение, возникающее в результате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетического рентгеновского излучения. |
Х-гау fluorescence; XRF |
|
Примечание — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента. | |
|
[ИСО 3497 2000. статья 2.1] | |
|
4.21 | |
|
энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия. ЭДРС: Метод исследования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов. [ИСО 22309:2011. статья 3.11. определение термина изменено] |
energy- dispersive X-ray spectroscopy: EDS: EDX |
|
4.22 | |
|
масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой: ИСП-МС: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущенным е виде аэрозоля через индуктивно связанную аргоновую плазму, образованную специальной горелкой и проходящую внутри высокочастотной катушки индуктивности. [ИСО 15202-3:2004. статья 3.3.7. определение термина изменено] |
inductively coupled plasma mass spectrometry; ICP-MS |
|
4.23 | |
|
масс-спектрометрия вторичных ионов: МС8И: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокупности распределенных в пространстве и/или во времени вторичных ионов объекта, разделенных по значениям отношения массы иона к его заряду, и возникающих при бомбардировке поверхности объекта потоком первичных ионов. |
secondary 4on mass spectrometry: SIMS |
|
Примечание — МСВИ подразделяют на динамическую, применяемую для определения элементного состава нескольких слоев исследуемого объекта как функции глубины, и статическую, применяемую для элементного анализа поверхностного монослоя исследуемого объекта (с целью предотвращения повреждения поверхности исследуемого объекта плотность потока первичных ионов должна быть не более 1016 ионое/м2). | |
|
[ИСО 18115-1. статья 3.17] | |
|
4.24 атомно-зондовая томография: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных атомов или молекул, вылетающих из импульсно распыляемого нановолокна (2.6) (иссле- |
atom-probe tomography |
дуемого объекта).
4.25
Примечание — При исследовании объекта методом атомно-эондоаой томографии применяют позиционно-чувствительный детектор, позволяющий определить координаты ударения ионов, с помощью которых рассчитывают изначальное положение атомов на поверхности нановолокна.
|
анализ выделяемых веществом газов. А8ВГ: Метод исследования объекта. основанный на регистрации измерения состава и/или количества выделяемого газа при нагревании объекта в зависимости от заданной температуры. (ИСО 472:2013, статья 2.345. определение термина изменено] |
evolved-gas analysis; EGA |
|
4.26 спектроскопия ядерного магнитного резонанса. ЯМР-спвктроскопия: Метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта. основанный на явлении ядерного магнитного резонанса. |
nudear magnetic resonance spectroscopy; NMR spectroscopy |
|
4.27 электронный парамагнитный резонанс: ЭПР: Резонансное поглощение электромагнитной энергии в радиочастотном диапазоне парамагнитными частицами, помещенными в постоянное магнитное поле, лежащее е основе метода исследования систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (нечетным числом электронов). |
electron paramagnetic resonance; EPR |
|
Примечание — Метод, основанный на явлении ЭПР аналогичен методу ЯМР-спектросхопии. Но в отличие от ЯМР-спектроскопии в данном методе измеряют спиновые магнитные моменты электронов парамагнитных частиц. | |
|
4.28 | |
|
гамма-резонансная спектроскопия, мёссбауэровская спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэиергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником. (ИСО 921:1997. статья 764] |
Mossbauer spectroscopy |
|
4.29 интерферометрия двойной поляризации; ИДП: Метод исследования на молекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного луча при смене направлений поляризации. |
dual polarization interferometry; DPI |
|
Примечания | |
1 Быстрое переключение направлений поляризации позволяет в режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.
2 ИДП применяют для исследования конформационных изменений белков или биомолекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.
5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов
5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы
5.1.1 метод пьезоэлектрического микровэвешивания; МПМ: Метод изме- quartz crystal рения массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на за- microbalance: еисимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) QCM от количества вещества, нанесенного на его поверхность.
Примечание — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, е газовой или жидкой средах.
5.1.2
|
термогравиметрия: ТГ: Метод измерения массы вещества, основанный на регистрации изменения его массы в зависимости от температуры или времени при нагревании в заданной среде с регулируемой скоростью. [ИСО 472:2013. статья 2.1173. определение термина изменено] |
thermogravimetry; TG |
|
5.1.3 | |
|
дифференциально-сханирующая калориметрия: ДСК: Метод определения характеристик вещества, основанный на регистрации энергии, необходимой для выравнивания температур исследуемого вещества и вещества, используемого в качестве эталона, в зависимости от температуры или времени. [ИСО 472:2013. статья 2.278, определение термина изменено] |
differential scanning calorimetry; DSC |
|
5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов | |
|
5.2.1 дифракция рентгеновского излучения: Явление рассеяния рентгеновского излучения в результате взаимодействия с электронами вещества, лежащее в основе метода рентгеноструктурного анализа, в котором из сформированной дифракционной картины получают информацию о структуре исследуемого объекта. |
X-ray diffraction |
|
Примечание — С помощью метола ренггеноструктурного анализа можно определить размеры области когерентного рассеяния объекта. | |
|
5.2.2 | |
|
дифракция отраженных электронов; ДОЭ: Явление обратного рассеяния электронов, возникающее вследствие взаимодействия электронов с атомными плоскостями кристаллической решетки объекта, при облучении объекта электронным пучком. [ИСО 24173:2009, статья 3.7] |
electron backscatter diffraction: EBSD |
5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях
5.3.1
|
электрофоретическая скорость: Скорость частиц (2.9) во время электрофореза. |
electrophoretic velocity |
|
Примечание — Единица измерения электрофоретической скорости — м/с. [ИСО 13099-1:2012, статья 2.2.6] |
5.3.2
|
электрофоретическая подвижность. Отношение электрофоретической |
electrophoretic |
|
скорости к напряженности электрического поля. |
mobility |
|
Примечания | |
|
1 Положительно заряженные частицы (2.9) перемещаются к отрицательному электроду (катоду), а отрицатегъ- | |
|
но заряженные частицы — к положительному электроду (аноду). 2 Единица измерения электрофоретической подвижности — м2/(Вс). | |
|
[ИСО 13099*1:2012. статья 2.2.5] | |
|
5.3.3 | |
|
плоскость скольжения; плоскость сдвига: Абстрактная плоскость, представляющая собой границу раздела твердой и жидкой фаз. относительно которой происходит движение жидкой фазы под внешним воздействием. (ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.11) |
slipping plane; shear plane |
|
5.3.4 | |
|
электрокикетический потенциал; дэвта-потвициал: Разность между электрическими потенциалами жидкой фазы и плоскости скольжения. |
electrokinetic potential: zeta potential |
|
Примечание — Единица измерения электро кинетического потенциала — В. [ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.8] | |
|
5.3.5 | |
|
поверхностная плотность электрического заряда: Величина, характеризующая распределение электрического заряда по поверхности объекта вследствие удельной адсорбции ионов из жидкой массы или диссоциации поверхностных групп ионов. |
electric surface charge density |
|
Примечание — Единица измерения поверхностной плотности электрического заряда — КлУм2. [ИСО 13099-1:2012, статья 2.1.6) | |
Алфавитный указатель терминов на русском языке
микроскопия конфокальная световая 3.5.10
микроскопия локализованных флуоресцентных молекул 3.5.16
микроскопия полного внутреннего отражения флуоресцентная 3.5.14
микроскопия сверхвысокого разрешения 3.5.15
микроскопия флуоресцентная 3.5.13
микроскопия эллипсометрическая с усилением контраста изображения 3.5.11
|
точка квантовая |
2.8 |
|
УФЭС |
4.17 |
|
ФКС |
3.2.7 |
|
ФКС |
4.7 |
|
ФЛ-спектроскопия |
4.4 |
|
флуоресценция |
3.5.12 |
|
флуоресценция рентгеновская |
4.20 |
|
ФМПВО |
3.5.14 |
|
форма частицы |
3.1.3 |
|
фотолюминесценция |
4.3 |
|
фракционирование проточное в силовом поле |
3.4.1 |
|
Фурье-ИКС |
4.8 |
|
хроматография гель-проникающая |
3.4.3 |
|
центрифугирование дифференциальное |
3.4.2 |
|
ЦОЖ |
3.4.2 |
|
частица |
2.9 |
|
ЭДРС |
4.21 |
|
электрометр с цилиндром Фарадея |
3.3.4 |
|
ЭМУК |
3.5.11 |
|
ЭОС |
4.16 |
|
ЭПР |
4.27 |
|
ЭЦФ |
3.3.4 |
|
ЯМР-спектроскопия |
4.26 |
|
Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке | ||
|
aerosol |
2.12 | |
|
AES |
4.16 | |
|
AFM |
3.5.2 | |
|
agglomerate |
2.10 | |
|
aggregate |
2.11 | |
|
aspect ratio |
3.1.4 | |
|
atomic force microscopy |
3.5.2 | |
|
atom-probe tomography |
4.24 | |
|
Auger electron |
4.15 | |
|
Auger electron spectroscopy |
4.16 | |
|
BET method |
3.6.3 | |
|
Brunauer—Emmett—Teller Method |
3.6.3 | |
|
centrifugal liquid sedimentation |
3.4.2 | |
|
CLS |
3.4.2 | |
|
condensation particle counter |
3.3.1 | |
|
confocal optical microscopy |
3.5.10 | |
|
Coulter counter |
3.4.4 | |
|
CPC |
3.3.1 | |
|
DCS |
3.4.2 | |
|
DEMC |
3.3.2 | |
|
differential centrifugal sedmentabon |
3.4.2 | |
|
differential electrical mobility classifier |
3.3.2 | |
|
differential mobility analysing system |
3.3.3 | |
|
differential scanning calorimetry |
5.1.3 | |
|
DLS |
3.2.7 | |
|
DMAS |
3.3.3 | |
|
DPI |
4.29 | |
|
DSC |
5.1.3 | |
|
dual polarization interferometry |
4.29 | |
|
dynamic light scattering |
3.2.7 | |
|
EBSD |
5.2.2 | |
|
EDS |
4.21 | |
|
EDX |
4.21 | |
|
EELS |
4.14 | |
|
EGA |
4.25 | |
|
electric surface charge density |
5.3.5 | |
|
electrical zone sensing |
3.4.4 | |
|
electrokinetic potential |
5.3.4 | |
|
electron backscatter diffraction |
5.2.2 | |
|
electron energy loss spectroscopy |
4.14 | |
|
electron paramagnetic resonance |
4.27 | |
|
electron spectrometer |
4.13 | |
|
electrophoretic mobility |
5.3.2 |
|
electrophoretic velocity |
5.3.1 |
|
energy-dispersive X-ray spectroscopy |
4.21 |
|
EPR |
4.27 |
|
equivalent diameter |
3.1.5 |
|
evolved-gas analysis |
4.25 |
|
Faraday-cup aerosol electrometer |
3.3.4 |
|
FCAE |
3.3.4 |
|
FCS |
4.7 |
|
FFF |
3.4.1 |
|
field flow fractionation |
3.4.1 |
|
fluorescence |
3.5.12 |
|
fluorescence oorretation spectroscopy |
4.7 |
|
fluorescence microscopy |
3.5.13 |
|
fluorescence spectroscopy |
4.5 |
|
Fourier transform infrared spectroscopy |
4.8 |
|
FTIR |
4.8 |
|
hydrodynamic diameter |
3.2.6 |
|
ICP-MS |
4.22 |
|
inductively coupled plasma mass spectrometry |
4.22 |
|
LEEM |
3.5.8 |
|
light scattering |
3.2.5 |
|
localization microscopy |
3.5.16 |
|
low energy electron microscopy |
3.5.8 |
|
luminescence |
4.2 |
|
mass specific surface area |
3.6.1 |
|
Mossbauer spectroscopy |
4.28 |
|
nanofibre |
2.6 |
|
nano-object |
2.2 |
|
nanoparticle |
2.3 |
|
nanoparticle tracking analysis |
3.2.8 |
|
nanoplate |
2.4 |
|
nanorod |
2.5 |
|
nanoscale |
2.1 |
|
nanotube |
2.7 |
|
near-field scanning optical microscopy |
3.5.4 |
|
neutron diffraction |
3.2.3 |
|
NMR spectroscopy |
4.26 |
|
NSOM |
3.5.4 |
|
NTA |
3.2.8 |
|
nuclear magnetic resonance spectroscopy |
4.26 |
|
optical spectroscopy |
4.1 |
|
particle |
2.9 |
|
particle shape |
3.1.3 |
|
particle size |
3.1.1 |
|
particle size distribution |
3.1.2 |
|
particle tracking analysts |
3.2.8 |
|
PCS |
3.2.7 |
|
photoluminescence |
4.3 |
|
photoluminescence spectroscopy |
4.4 |
|
photon correlation spectroscopy |
3.2.7 |
|
PL spectroscopy |
4.4 |
|
PTA |
3.2.8 |
|
QCM |
5.1.1 |
|
QELS |
3.2.7 |
|
quantum dot |
2.8 |
|
quartz crystal microbalance |
5.1.1 |
|
quasi-elastic light scattering |
3.2.7 |
|
radius of gyration |
3.2.1 |
|
Raman effect |
4.9 |
|
Raman spectroscopy |
4.10 |
|
SANS |
3.2.2 |
|
SAXS |
3.2.4 |
|
scanning electron microscopy |
3.5.5 |
|
scanning force microscopy |
3.5.2 |
|
scanning ion microscopy |
3.5.9 |
|
scanning near-field optical microscopy |
3.5.4 |
|
scanning probe microscopy |
3.5.1 |
|
scanning transmission electron microscopy |
3.5.7 |
|
scanning tunnelling microscopy |
3.5.3 |
|
SEC |
3.4.3 |
|
secondary-ion mass spectrometry |
4.23 |
|
SEEC microscopy |
3.5.11 |
|
SEM |
3.5.5 |
|
SERS |
4.11 |
|
SFM |
3.5.2 |
|
shear plane |
5.3.3 |
|
SIMS |
4.23 |
|
size-exdusion chromatography |
3.4.3 |
|
slipping plane |
5.3.3 |
|
small angle neutron scattering |
3.2.2 |
|
small angle X-ray scattering |
3.2.4 |
|
SNOM |
3.5.4 |
|
SPM |
3.5.1 |
|
STEM |
3.5.7 |
|
STM |
3.5.3 |
|
super-resolution microscopy |
3.5.15 |
|
surface enhanced eilip&ometric contrast midrostbpy |
3.5.11 |
|
25 |
|
surface enhanced Raman spectroscopy |
4.11 |
|
suspension |
2.13 |
|
ТЕМ |
3.5.6 |
|
TERS |
4.12 |
|
TG |
5.1.2 |
|
thermogravimetry |
5.1.2 |
|
tip enhanced Raman spectroscopy |
4.12 |
|
TtRF microscopy |
3.5.14 |
|
total internal reflection fluorescence microscopy |
3.5.14 |
|
transmission electron microscopy |
3.5.6 |
|
ultraviolet photoelectron spectroscopy |
4.17 |
|
UPS |
4.17 |
|
UV—Vis spectroscopy |
4.6 |
|
volume specific surface area |
3.6.2 |
|
XAS |
4.19 |
|
XPS |
4.18 |
|
XRF |
4.20 |
|
X-ray absorption spectroscopy |
4.19 |
|
X-ray diffraction |
5.2.1 |
|
X-ray fluorescence |
4.20 |
|
X-ray photoelectron spectroscopy |
4.18 |
|
zeta potential |
5.3.4 |
|
Библиография | |
|
1SO/TS 80004-1:2010 |
Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Core terms {Нанотехнологии. Словарь. Часть 1. Основные термины) |
|
1SO/TS 27687:2008 |
Nanotechnologies — Terminology and definitions for nano-objects — Nanoparticle, nanofibre and nanoplate {Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов. Наночастица, нановолокно и нанопластина) |
|
ISO 14644-6:2007 |
Cleanrooms and associated controlled environments — Part 6: Vocabulary {Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 6. Словарь) |
|
ISO 15900:2009 |
Determination of particle size distribution — Differential electrical mobility analysis for aerosol particles (Определение гранулометрического состава. Анализ дифференциальной подвижности частиц аэрозолей в электрическом поле) |
|
ISO 4618 |
Paints and varnishes — Terms and definitions (Краски и лаки. Термины и определения) |
|
ISO 26824:2013 |
Particle characterization of particulate systems — Vocabulary {Определение характеристик частиц систем макрочастиц. Словарь) |
|
ISO 14644-1:1999 |
Cleanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness (Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 1. Классификация чистоты воздуха) |
|
ISO 3252:1999 |
Powder metallurgy — Vocabulary (Порошковая металлургия. Словарь) |
|
ISO 14966:2002 |
Ambient air — Determination of numerical concentration of inorganic fibrous particles — Scanning electron microscopy method (Воздух окружающий. Определение концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод растровой электронной микроскопии) |
|
ISO 9276-1:1998 |
Representation of results of particle size analysis — Part 1: Graphical representation {Гранулометрический анализ. Представление результатов. Часть 1. Графическое представление) |
|
ISO 14695:2003 |
Industrial fans — Method of measurement of fan vibration (Вентиляторы промышленные. Метод измерения вибрации вентилятора) |
|
ISO 18115-1:2010 |
Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy (Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины, используемые в спектроскопии) |
|
ISO 13320:2009 |
Particle size analysis — Laser diffraction methods (Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции) |
|
ISO 16014-1:2012 |
Plastics — Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exdusion chromatography — Part 1: General principles (Пластмассы. Определение средней молекулярной массы и молекулярно-массового распределения полимеров с использованием вытеснительной (по размеру) хроматографии. Часть 1. Общие принципы) |
|
ISO 18115-2:2010 |
Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanningprobe microscopy (Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в растровой микроскопии) |
|
ISO 17751:2007 |
Textiles — Quantitative analysis of animal fibres by microscopy — Cashmere, woof, specialty fibres and their blends (Текстиль. Количественный анализ волокон животного происхождения с использованием микроскопа. Кашемир, шерсть, специальные волокна и их смеси) |
|
ISO 29301:2010 |
Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures {Ми-кропучкоеый анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибрующего увеличения изображения с применением стандартных материалов с периодической структурой) |
Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotobes using transmission electron microscopy (Нанотехнологии. Характеристика одностеночных углеродных нанотрубок с использованием трансмиссионного электронного микроскопа)
[18] ISQ^S 10797:2012
[19] IS0 10934-2:2007
[20] ISO 9277:2010
[21] I EC 60050-845:1987
[22] IS013943:2008
[23] ISO 3497:2000
[24] ISO 22309:2011
[25] IS0 15202-3:2004
[26] ISO472:2013
[27] ISO 921:1997
[28] ISO 24173:2009
[29] IS013099-1:2012
Optics and optical instruments — Vocabulary for microscopy — Pari 2: Advanced techniques in light m»croscopy (Оптика и оптические приборы. Словарь по микросхогми. Часть 2. Передовые технологии в оптической микроскопии)
Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — BET method (Определение удельной площади поверхности твердых тел по адсорбции газа с применением метода Брункера. Эммета и Теллера (ВЕТ-метод))
International Electrotechnical Vocabulary — Chapter 845: Lighting (Международный электротехнический словарь — Глава 845: Освещение)
Fire safety — Vocabulary (Пожарная безопасность. Словарь)
Metallic ooatings — Measurement of coating thickness — X-ray spectrometric methods (Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы)
Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above (Анализ с использованием микропучха. Количественный анализ с использованием энвргодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным числом 11 (Na) или выше)
Workplace air — Determination of metals and metalloids in airborne particulate matter by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry — Part 3: Analysis (Воздух рабочей зоны. Определение концентрации металлов и металлоидов в твердых частицах аэрозоля с помощью эмиссионной атомной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Часть 3. Анализ)
Plastics — Vocabulary (Пластмассы. Словарь)
Nuclear energy — Vocabulary (Ядеркая энергия. Словарь)
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (Микропучковый анализ. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции при обратном рассеянии электронов)
Colloidal systems — Methods for zeta-potenbal determination — Part 1;Etectro acoustic and eleclrokinetic phenomena (Системы коллоидные. Методы определения зета-потенциала. Часть 1. Электроакустические и элекгрокинетичвские явления)
УДК 53.04:006.354 ОКС 07.030
01.040.07
Ключевые слова: нанотехнологии, характеристики нанообъекгов, методы определения характеристик, термины, определения
Редактор Н.А. Шламкова Технический редактор В.Н. Прусакова Корректор Л. С. Лысенко Компьютерная верстка Е.Е. Кругова
Гарнитура Ариал
Сеяно я набор 12.01.2016. Подписано а печать t4.02.2016. Формат 60 *64
Усп. печ. п. 4.16 Уч.-иэд. п. 3.60. Тираж 32 »*з. Зак 725.
Издано и отпечатано оо ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 12366S Москва. Гранатный пер.. 4. www.gostm(oru m(o@gos1info ru