ГОСТ 24521-80
Группа Т00
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ ОПТИЧЕСКИЙ
Термины и определения
Optical nondestructive testing. Terms and definitions
MКC 01.040.19
19.100
Дата введения 1982-01-01
ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30 декабря 1980 г. N 6278
ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
ПЕРЕИЗДАНИЕ
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области оптического неразрушающего контроля качества материалов, полуфабрикатов и изделий (далее объектов).
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, научно-технической, учебной и справочной литературе.
Для каждого понятия установлен один стандартизованной термин. Применение терминов-синонимов стандартизованного термина запрещается.
Для отдельных стандартизованных терминов в стандарте приведены в качестве справочных их краткие формы, которые разрешается применять в случаях, исключающих возможность их различного толкования.
Установленные определения можно, при необходимости, изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятий.
В случаях, когда необходимые и достаточные признаки понятия содержатся в буквальном значении термина, определение не приведено и, соответственно, в графе "Определение" поставлен прочерк.
Настоящий стандарт следует применять совместно с ГОСТ 18353-79, ГОСТ 7601-78 и ГОСТ 26148-84.
В стандарте приведен алфавитный указатель содержащихся в нем терминов.
В стандарте имеется приложение 1, содержащее общефизические термины и определения, применяемые в определениях настоящего стандарта, и приложение 2, в котором представлены термины и определения устройств, применяемых при оптическом неразрушающем контроле.
Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткая форма - светлым.
Термин | Определение |
ОСНОВНЫЕ ПОНЯТИЯ | |
1. Оптический неразрушающий контроль | Неразрушающий контроль, основанный на анализе взаимодействия оптического излучения с объектом контроля |
2. Контраст дефекта | Отношение разности энергетических яркостей дефекта и окружающего его фона к одной из них либо к их сумме |
3. Видимость дефекта | Отношение фактического контраста дефекта к его пороговому значению в заданных условиях |
| |
4. Метод прошедшего оптического излучения Метод прошедшего излучения | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, прошедшего сквозь объект контроля |
5. Метод отраженного оптического излучения Метод отраженного излучения | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, отраженного от объекта контроля |
6. Метод рассеянного оптического излучения Метод рассеянного излучения | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, рассеянного объектом контроля |
7. Метод собственного оптического излучения Метод собственного излучения | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров собственного излучения объекта контроля |
8. Метод индуцированного оптического излучения Метод индуцированного излучения | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров оптического излучения, генерируемого объекта контроля при постороннем воздействии |
9. Спектральный метод оптического излучения Спектральный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спектра оптического излучения, после его взаимодействия с объектом контроля |
10. Когерентный метод оптического излучения Когерентный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении степени когерентности оптического излучения после его взаимодействия с объектом контроля |
11. Амплитудный метод оптического излучения Амплитудный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации интенсивности оптического излучения, после его взаимодействия с объектом контроля |
12. Временной метод оптического излучения Временный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации времени прохождения оптического излучения через объект контроля |
13. Геометрический метод оптического излучения Геометрический метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации направления оптического излучения, после его взаимодействия с объектом контроля |
14. Поляризационный метод оптического излучения Поляризационный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации степени поляризации оптического излучения, после его взаимодействия с объектом контроля |
15. Фазовый метод оптического излучения Фазовый метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации фазы оптического излучения, после его взаимодействия с объектом контроля |
16. Интерференционный метод оптического излучения Интерференционный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе интерференционной картины, получаемой при взаимодействии когерентных волн, опорной и модулированной объектом контроля |
17. Дифракционный метод оптического излучения Дифракционный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе дифракционной картины, получаемой при взаимодействии когерентного оптического излучения с объектом контроля |
18. Рефракционный метод оптического излучения Рефракционный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации параметров преломления оптического излучения объектом контроля |
19. Абсорбционный метод оптического излучения Абсорбционный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров поглощения оптического излучения объектом контроля |
20. Визуально-оптический метод оптического излучения Визуально-оптический метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на наблюдении объекта контроля или его изображения с помощью оптических или оптико-электронных приборов |
21. Фотохимический метод оптического излучения Фотохимический метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотохимических процессов, возникающих при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля |
22. Оптико-акустический метод оптического излучения Оптико-акустический метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров оптико-акустического эффекта, возникающего при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля |
23. Фотолюминесцентный метод оптического излучения Фотолюминесцентный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров люминесценции, возникающей при взаимодействии оптического излучения с объектом контроля |
24. Электрооптический метод оптического излучения Электрооптический метод | Поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля внешнего электрического поля |
25. Магнитооптический метод оптического излучения Магнитооптический метод | Поляризационный метод оптического неразрушающего контроля, основанный на дополнительном воздействии на объект контроля магнитного поля |
26. Метод согласованной фильтрации оптического излучения Метод согласованной фильтрации | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе изображения объекта контроля с помощью оптического согласованного фильтра |
27. Метод разностного оптического изображения Метод разностного изображения | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации различий в изображениях объекта контроля и контрольного образца |
28. Метод фотоэлектрического эффекта оптического излучения Метод фотоэлектрического эффекта | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе параметров фотоэлектрического эффекта, возникающего при облучении объекта контроля оптическим излучением |
29. Метод спекл-интерферометрии оптического излучения Метод спекл-интерферометрии | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на использовании пространственной корреляции интенсивности диффузно-когерентного оптического излучения для получения интерференционных топограмм объекта контроля |
30. Метод спекл-структур оптического излучения Метод спекл-структур | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе спекл-структур, образующихся при отражении когерентного оптического излучения от шероховатости поверхности объекта контроля |
31. Метод муаровых полос | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на анализе топограмм объекта контроля, получаемых с помощью оптически сопряженных растров |
32. Фотоимпульсный метод контроля геометрических размеров изделия Фотоимпульный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении длительности импульсов, оптического излучения пропорциональных геометрическим размерам объекта контроля и получаемых с помощью сканирования его изображения |
33. Фотокомпенсационный метод контроля геометрических размеров изделия Фотокомпенсационный метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на измерении изменений интенсивности оптического излучения, вызванных отклонением геометрических размеров объекта контроля от контрольного образца |
34. Фотоследящий метод контроля геометрических размеров изделия Фотоследящий метод | Метод оптического неразрушающего контроля, основанный на регистрации перемещений фотоследящего устройства, пропорциональных изменению геометрических размеров объекта контроля |
35. Голографический метод оптического неразрушающего контроля Голографический метод | - |
| |
36. Прибор оптического неразрушающего контроля | Система, состоящая из осветительных, оптических и регистрирующих устройств, а также средств калибровки и настойки, предназначенная для оптического неразрушающего контроля. Примечание. При наличии у прибора оптического неразрушающего контроля нормируемых метрологических характеристик он может использоваться в качестве измерительного прибора |
37. Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля Источник излучения | Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для облучения или освещения объекта контроля |
38. Оптическая система | Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для формирования пучков оптического излучения, несущих информацию об объекте контроля |
39. Приемное устройство | Часть прибора оптического неразрушающего контроля, предназначенная для регистрации первичного информативного параметра оптического излучения, после его взаимодействия с объектом контроля. Примечание. В зависимости от вида регистрации различают фотоэлектрическое, фотографическое и другие приемные устройства |
40. Оптический дефектоскоп | Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для обнаружения несплошностей и неоднородностей материалов и изделий |
41. Лазерный эллипсометр | Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины и (или) показателя преломления прозрачных пленок поляризационным методом |
42. Оптический структороскоп | Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для анализа структуры и (или) физико-химических свойств материалов и изделий |
43. Оптический толщиномер | Прибор оптического неразрушающего контроля, предназначенный для измерения толщины объектов контроля и (или) глубины залегания дефектов |
ОСВЕЩЕНИЕ ОБЪЕКТА КОНТРОЛЯ | |
44. Световое сечение | Освещение объекта контроля плоским пучком света для получения изображения его рельефа |
45. Темное поле | Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов больше яркости поверхности, на которой они расположены |
46. Светлое поле | Освещение объекта контроля, при котором яркость его дефектов меньше яркости поверхности, на которой они находятся |
47. Стробоскопическое облучение* | Облучение объекта контроля модулизированным оптическим излучением, частота и фаза которого синхронизированы с движением объекта контроля |
48. Когерентное облучение | Облучение объекта контроля когерентным излучением |
49. Монохроматическое облучение | - |
50. Полихроматическое облучение | Облучение объекта контроля полихроматическим оптическим излучением |
51. Сканирующее облучение | Облучение объекта контроля оптическим излучением с применением сканирования |
52. Телецентрическое облучение | Облучение объекта контроля параллельным пучком оптического излучения |
53. Стигматическое облучение | Облучение объекта контроля точечным источником оптического излучения |
| |
54. Наблюдение двойного изображения | Одновременное наблюдение оптически совмещенных изображений объекта контроля и контрольного образца |
55. Наблюдение сведенного изображения | Одновременное наблюдение отдельных частей изображения объекта контроля, спроецированных на плоскость анализа |
56. Сравнительное наблюдение | Наблюдение изображений объекта контроля и контрольного образца, разделенных пространственно |
______________
* При применении оптического излучения в видимом диапазоне - света допускается "облучение" заменять на "освещение".
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ
Видимость дефекта | 3 |
Дефектоскоп оптический | 40 |
Источник излучения | 37 |
Источник излучения прибора оптического неразрушающего контроля | 37 |
Контраст дефекта | 2 |
Контроль неразрушающий оптический | 1 |
Метод абсорбционный | 19 |
Метод амплитудный | 11 |
Метод визуально-оптический | 20 |
Метод временной | 12 |
Метод геометрический | 13 |
Метод голографический | 35 |
Метод дифракционный | 17 |
Метод индуцированного излучения | 8 |
Метод индуцированного оптического излучения | 8 |
Метод интерференционный | 16 |
Метод магнитооптический | 25 |
Метод муаровых полос | 31 |
Метод когерентный | 10 |
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоимпульсный | 32 |
Метод геометрических размеров изделия фотокомпенсационный | 33 |
Метод контроля геометрических размеров изделия фотоследящий | 34 |
Метод оптико-акустический | 22 |
Метод оптического излучения абсорбционный | 19 |
Метод оптического излучения амплитудный | 11 |
Метод оптического излучения временной | 12 |
Метод оптического излучения визуально-оптический | 20 |
Метод оптического излучения геометрический | 13 |
Метод оптического излучения дифракционный | 17 |
Метод оптического излучения интерференционный | 16 |
Метод оптического излучения когерентный | 10 |
Метод оптического излучения магнитооптический | 25 |
Метод оптического излучения оптико-акустический | 22 |
Метод оптического излучения поляризационный | 14 |
Метод оптического излучения рефракционный | 18 |
Метод оптического излучения спектральный | 9 |
Метод оптического излучения фазовый | 15 |
Метод оптического излучения фотоалюминесцентный | 23 |
Метод оптического излучения фотохимический | 21 |
Метод оптического излучения электрооптический | 24 |
Метод оптического неразрушающего контроля голографический | 35 |
Метод отраженного излучения | 5 |
Метод отраженного оптического излучения | 5 |
Метод поляризационный | 14 |
Метод прошедшего излучения | 4 |
Метод прошедшего оптического излучения | 4 |
Метод разностного изображения | 27 |
Метод разностного оптического изображения | 27 |
Метод рассеянного изображения | 6 |
Метод рассеянного оптического изображения | 6 |
Метод рефракционный | 18 |
Метод согласованной фильтрации оптического излучения | 26 |
Метод собственного излучения | 7 |
Метод собственного оптического излучения | 7 |
Метод согласованной фильтрации | 26 |
Метод спекл-интерферометрии | 29 |
Метод спекл-интерферометрии оптического излучения | 29 |
Метод спекл-структур | 30 |
Метод спекл-структур оптического излучения | 30 |
Метод спектральный | 9 |
Метод фазовый | 15 |
Метод фотоимпульный | 32 |
Метод фотокомпенсационный | 33 |
Метод фотолюминесцентный | 23 |
Метод фотоследящий | 34 |
Метод фотохимический | 21 |
Метод фотоэлектрического эффекта | 28 |
Метод фотоэлектрического эффекта оптического излучения | 28 |
Метод электрооптический | 24 |
Наблюдение двойного изображения | 54 |
Наблюдение сведенного изображения | 55 |
Наблюдение сравнительное | 56 |
Облучение когерентное | 48 |
Облучение монохроматическое | 49 |
Облучение полихроматическое | 50 |
Облучение сканирующее | 51 |
Облучение стигматическое | 53 |
Облучение стробоскопическое | 47 |
Облучение телецентрическое | 52 |
Поле светлое | 46 |
Поле темное | 45 |
Прибор неразрушающего контроля оптический | 36 |
Сечение световое | 44 |
Система оптическая | 38 |
Структуроскоп оптический | 42 |
Толщиномер оптический | 43 |
Устройство приемное | 39 |
Эллипсометр лазерный | 41 |
ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Рекомендуемое
Термины общих физических понятий, применяемых при оптическом
неразрушающем контроле
Термин | Определение |
1. Спекл-структура | Случайное распределение интенсивности, характерное для диффузно-когерентного излучения |
2. Сканирование | Анализ исследуемого пространства путем последовательного его просмотра при передвижении мгновенного поля зрения по полю обзора |
ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Рекомендуемое
Термины оптических приборов, применяемых при оптическом
неразрушающем контроле
Термин | Определение |
1. Эндоскоп | Оптический прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для осмотра внутренних поверхностей объекта контроля |
2. Оптический компаратор | Оптический прибор, предназначенный для одновременного наблюдения объекта контроля и контрольного образца |
3. Субтрактивный видеоанализатор | Оптический прибор для формирования разностного изображения объекта контроля и контрольного образца |
4. Оптический дисдрометр | Оптический прибор для анализа объемного распределения микрочастиц в контролируемой среде |
Текст документа сверен по:
Контроль неразрушающий. Термины и определения:
Сб. ГОСТов. - М.: ИПК Издательство стандартов, 2005
