ГОСТ 23902-79*
Группа В59
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
СПЛАВЫ ТИТАНОВЫЕ
Методы спектрального анализа
Titanium alloys. Methods of spectral analysis
ОКСТУ 1809
Дата введения 1981-07-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 21 ноября 1979 г. N 4443 срок введения установлен с 01.07.81
Проверен в 1985 г. Постановлением Госстандарта от 20.12.85 N 4508 срок действия продлен до 01.07.91**
________________
** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 29.04.91 N 609 (ИУС N 8, 1991 год). - .
* ПЕРЕИЗДАНИЕ (октябрь 1988 г.) с Изменением N 1, утвержденным в августе 1986 г. (ИУС 3-86).
ВНЕСЕНО Изменение N 2, утвержденное и введенное в действие Постановлением Государственного комитета СССР по управлению качеством продукции и стандартам от 29.04.91 N 609 с 01.09.91
Изменение N 2 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС N 8, 1991 год
Настоящий стандарт устанавливает методы спектрального анализа для определения массовой доли легирующих элементов и примесей: алюминия, ванадия, железа, кремния, марганца, молибдена, олова, хрома, никеля, циркония, меди в деформируемых и литейных титановых сплавах.
1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ
1.1. Массовая доля легирующих элементов и примесей в титановых сплавах определяют по градуировочным графикам. Предусматривается использование двух методов градуировки приборов:
метода "трех эталонов";
метода "контрольного эталона".
Регистрация спектров фотографическая или фотоэлектрическая.
При проведении анализа фотографическим методом градуировочные графики строят в координатах:
где
При проведении анализа фотоэлектрическим методом градуировочные графики строят в координатах:
где
1.2. Для испарения пробы и возбуждения спектра используют искровые и дуговые источники света.
1.3. Для градуировки приборов применяют государственные стандартные образцы ГСО NN 1641-79 - 1645-79, 1792-80 - 1796-80, 2194-81 - 2198-81, 2881-84 - 2885-84, 3047-84 - 3050-84.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.3.1. Допускается применение отраслевых стандартных образцов (ОСО 5-84 - 7-84, 20-84 - 28-84), стандартных образцов предприятий, а также вновь выпускаемых стандартных образцов состава титановых сплавов всех категорий.
(Введен дополнительно, Изм. N 1).
1.4. Отбор проб производят по нормативно-технической документации.
1.5. Проверку правильности определения массовой доли элементов проводят, сравнивая результаты спектрального анализа с результатами анализа, выполненного химическими методами по ГОСТ 19863.1-80* - ГОСТ 19863.13-80*. Значение абсолютного допускаемого расхождения в процентах должно быть не более рассчитанного по формуле
________________
* На территории Российской Федерации действуют ГОСТ 19863.1-91 - ГОСТ 19863.13-91. Здесь и далее по тексту. - .
где
(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).
2. ФОТОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
2.1. Анализ монолитных образцов
2.1.1. Сущность метода
Метод основан на возбуждении спектра образца дуговым или искровым разрядом с последующей регистрацией его на фотопластинке с помощью спектрографа.
2.1.2. Аппаратура, материалы и реактивы
Спектрограф средней дисперсии с кварцевой оптикой типа ИСП-30.
Источники света: искровой генератор типа ИГ-3 или ИВС-23 или дуговой генератор типа ДГ-2 или ИВС-28.
Микрофотометр типа МФ-2 или ИФО-460.
Ослабитель трехступенчатый.
Угли спектрально чистые марок С-2 или С-3, диаметром 6 мм.
Прутки магния марок МГ-95 или МГ-90 по ГОСТ 804-72*, диаметром 6-8 мм.
______________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 804-93. - .
Прутки меди марок M00, M1 или М2 по ГОСТ 859-78, диаметром 6 мм.
________________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 859-2001. Здесь и далее по тексту. - .
Фотопластинки спектральные типов 1, 2, ЭС, СП-1 или УФШ-3 чувствительностью от 3 до 10 единиц.
Проявитель N 1.
Фиксаж кислый.
Станок токарный настольный типа ТВ16.
Станок шлифовальный типа ЭТ-62.
Приспособление для заточки угольных электродов.
Вата гигроскопическая по ГОСТ 5556-81.
Спирт этиловый ректификованный технический по ГОСТ 18300-87.
Допускается применение другой аппаратуры, оборудования и материалов при условии получения точности анализа, не ниже предусмотренной настоящим стандартом.
(Измененная редакция, Изм. N 2).
2.1.3. Подготовка образцов
Для анализа используют образцы следующих форм и размеров:
прутки круглого или квадратного сечения диаметром (стороной) от 10 до 40 мм, длиной от 20 до 100 мм;
профили, полосы, диски толщиной не менее 2 мм;
листы толщиной не менее 0,5 мм;
стружку толщиной от 0,7 до 1,5 мм, шириной от 12 до 15 мм, длиной не менее 15 мм.
Допускается использование образцов, полученных путем прессования стружки или сплавления ее в инертной атмосфере.
Обыскриваемую поверхность образцов затачивают на плоскость на токарном или шлифовальном станке; параметр шероховатости поверхности
На обыскриваемой поверхности образцов не допускаются раковины, царапины, трещины, шлаковые включения, надиры, волнистость, цвета побежалости.
Подготовка к анализу СО и анализируемых образцов (АО) должна быть однотипной для данной серии измерений. Противоэлектроды затачивают на полусферу с радиусом 3-6 мм, усеченный конус с углом при вершине 60-90° и площадкой диаметром 1,0-1,5 мм или конус с углом при вершине 120°.
2.1.4. Проведение анализа
Условия проведения анализа фотографическим методом приведены в табл.1.
Таблица 1
Аппаратура, материалы | Условия проведения анализа | ||||
монолитных проб | растворов | ||||
элементов | примесей | легирующих элементов и примесей | |||
Спектрограф | Тип ИСП-30 | ||||
Генератор | Типов ИГ-3 ИВС-23 (сложная схема) | Типов ДГ-2 ИВС-28 | Типов ИГ-3 ИВС-23 (сложная схема) | Типа ИГ-3 (сложная схема) | |
Ширина щели спектрографа, мм | 0,010-0,020 | 0,007-0,020 | 0,010-0,020 | 0,020 | |
Система освещения щели | Трехлинзовая | ||||
Емкость, мкФ | 0,01 | - | 0,01 | 0,01 | |
Индуктивность, мГ | 0-0,05 | - | 0,15 | 0,05 | |
Сила тока, А | 1,8-3,0 | 2,0-10,0 | 2,0-3,0 | 2,0 | |
Напряжение, В | 220 | ||||
Аналитический промежуток, мм | 2,0-2,5 | 1,5-2,0 | 2,0 | 2,0 | |
Задающий промежуток разрядника, мм | 3,0 | 0,5-0,9 | 3,0 | 3,0 | |
Время предварительного обыскивания, с | 30-60 | 5 | 30 | 30-60 | |
Противоэлектрод | Угольный, медный или магниевый | Угольный | |||
Фотопластинки | Типов 1, ЭС, УФШ-3 или СП-1 | Типов 2, УФШ-3 | |||
Координаты градуировочного графика |
________________
* Соответствует оригиналу. - .
Примечания:
1. Параметры устанавливают в пределах указанных значений.
2. Время экспозиции устанавливают в зависимости от чувствительности применяемых фотопластинок; оно должно быть не менее 15 с.
3.
Длины волн аналитических спектральных линий и диапазоны определяемых массовых долей приведены в табл.2.
Таблица 2
Определяемый элемент | Вид пробы | Длина волны линии определяемого элемента, нм | Длина волны линии сравнения, нм | Диапазон определяемых массовых долей, % | ||
Алюминий | Монолит | I 396,15 |
|
| ||
| I 310,62 |
| ||||
II 281,62** | II 284,19 |
| ||||
I 257,51 | I 243,41 | 0,004-0,2 | ||||
Раствор | I 394,40 | I 394,86 | 0,2-8,0 | |||
Ванадий | Монолит | II 326,77 | II 326,37 |
| ||
II 310,23 | II 304,88 |
| ||||
II 289,33 | II 282,00 | 1,0-6,0 | ||||
II 268,80 | Фон | 0,002-0,2 | ||||
Раствор | (II) 296,80 | II 303,87 | 0,1-6,0 | |||
Железо | Монолит |
|
| II 288,60 |
| |
Раствор | I 259,94 | I 261,15 |
| |||
Кремний | Монолит |
| 288,60 |
| ||
I 251,43 | (II) 257,26 | |||||
I 251,43 | I 243,83 | 0,002-0,03 | ||||
I 243,52 | I 243,41 | 0,03-0,1 | ||||
Раствор | I 288,16 | II 299,02 | 0,05-0,5 | |||
Марганец | Монолит | II 294,92 | I 310,62 |
| ||
II 261,02 | 288,60 |
| ||||
II 261,02 | Фон | 0,007-0,5 | ||||
II 257,61 | Фон | 0,0005-0,007 | ||||
Раствор | II 293,31 | II 299,02 | 0,5-2,0 | |||
Молибден | Монолит |
|
| II 303,87 |
| |
II 268,41 | Фон | 0,006-0,5 | ||||
Раствор | II 287,15 |
|
| |||
Олово | Монолит | I 303,41 |
|
| ||
II 266,12 | II 255,60 |
| ||||
I 242,95 | I 243,83 | 0,003-1,0 | ||||
Раствор | I 284,00 | II 299,02 | 1,0-5,0 | |||
Хром | Монолит |
| II 303,87 |
| ||
II 268,71 | Фон | 0,02-0,2 | ||||
II 267,72 | Фон | 0,004-0,02 | ||||
Раствор | II 284,98 | II 299,02 | 0,2-3,0 | |||
Цирконий | Монолит | II 355,19 | II 350,03 |
| ||
II 343,05 | ||||||
II 339,20 | II 303,87 | 3,0-10,0 | ||||
| II 303,87 |
| ||||
II 270,01 | II 299,02 | 1,0-5,0 | ||||
II 243,41 | 0,006-0,1 | |||||
II 257,14 | (II) 257,26 | 1,0-5,0 | ||||
Цирконий | Раствор | II 273,84 | II 299,02 | 0,1-10,0 | ||
Медь | Монолит | I 324,75 | II 327,53 | 0,0009-0,01 | ||
II 224,70 | I 224,47 | 0,01-0,25 | ||||
Никель | Монолит | I 341,48 | I 342,89 | 0,01-0,10 | ||
II 239,45 | I 243,41 | 0,10-0,25 |
________________
* Используют при анализе сплавов, не содержащих ванадий.
** Используют при анализе сплавов, не содержащих молибден.
Примечания:
1. Спектральные линии, ограниченные в таблице парантезом, могут быть соответственно объединены в любые аналитические пары.
2. При использовании в аэрозольно-искровом методе в качестве внутреннего стандарта азотнокислого никеля за линию сравнения берут линии никеля 309,91 нм или 277,31 нм.
3. Римские цифры перед значениями длин волн означают принадлежность линий:
I - нейтральному атому;
II - однократно ионизированному атому;
III - двукратно ионизированному атому.
При работе по методу "трех эталонов" выполняют следующие операции:
выбирают не менее трех СО анализируемого сплава;
спектры СО и АО фотографируют на одной фотопластинке при выбранных условиях анализа с рандомизацией порядка съемки. Спектры каждого СО и АО фотографируют 2-3 раза;
измеряют почернения
строят градуировочный график в координатах
по градуировочному графику находят массовую долю элемента в АО.
Время экспозиции выбирают такое, при котором обеспечиваются нормальные почернения всех аналитических линий.
При работе по методу "контрольного эталона" кроме СО, которые нужны для построения основного градуировочного графика, используют СОП, который должен удовлетворять следующим требованиям:
по химическому составу он должен находиться возможно ближе к середине диапазона концентраций, указанного в нормативно-технической документации на данный сплав;
по физико-химическим свойствам (способу литья, обработке), форме и размерам СОП должен соответствовать АО.
Работу начинают с построения основного градуировочного графика. Для этого на одной фотопластинке фотографируют спектры СО данного сплава вместе со спектрами СОП. Спектры каждого СО и СОП фотографируют три-пять раз. По средним значениям разности почернений строят постоянный градуировочный график основной фотопластинки в координатах:
При анализе производственных образцов на рабочей фотопластинке вместе со спектрами АО фотографируют спектры СОП 2-3 раза каждый. Определяют разность почернений аналитических пар линий для СОП и АО (
Переводной коэффициент
где
Через точку с координатами
Для подсчета коэффициента
Ti 257,10 - Ti 257,26;
Ti 252,00 - Ti 255,60;
Ti 257,10 - Ti 255,60
или I и II ступеньки ослабителя (линии Ti 356,16; Ti 303,
87).
2.1.5. Обработка результатов
2.1.5.1. За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое трех параллельных измерений, полученных по трем спектрограммам, если выполняется условие:
где
При проведении экспресс-анализа допускается вычислять результат анализа по двум параллельным измерениям
2.1.5.2. Воспроизводимость фотографического метода анализа, характеризующаяся относительным стандартным отклонением
Таблица 3
Определяемый элемент | Диапазон определяемых массовых долей, % | Фотографический метод | Фотоэлектрический метод | ||||
монолит | раствор | ||||||
не более | |||||||
Марганец, медь | 0,0005-0,001 | 0,20 | 0,20 | - | - | 0,15 | 0,15 |
Алюминий, ванадий, железо, кремний, марганец, медь | 0,001-0,01 | 0,15 | 0,15 | - | - | 0,10 | 0,10 |
Молибден, олово, хром, никель, цирконий | 0,01-0,10 | 0,08 | 0,08 | 0,07 | 0,06 | 0,06 | 0,06 |
Алюминий, железо, кремний, марганец, молибден, хром, никель, цирконий | 0,1-0,5 | 0,05 | 0,045 | 0,05 | 0,045 | 0,04 | 0,035 |
Алюминий, ванадий, железо, марганец, молибден, олово, хром, цирконий | 0,5-2,0 | 0,04 | 0,03 | 0,04 | 0,03 | 0,03 | 0,03 |
Алюминий, ванадий, молибден, олово, цирконий | 2,0-5,0 | 0,04 | 0,03 | 0,03 | 0,03 | 0,03 | 0,03 |
Алюминий, ванадий, молибден, хром | 5,0-10,0 | 0,03 | 0,03 | 0,03 | 0,03 | 0,03 | 0,03 |
2.1.5.3. Методики вычисления
2.1.5.2, 2.1.5.3 (Измененная редакция, Изм. N 1).
2.2. Анализ образцов, переведенных в раствор
2.2.1. Сущность метода
Метод основан на переведении металлического образца в раствор, вдуваемый распылителем в искровой разряд. Спектры регистрируют на фотопластинке.
2.2.2. Аппаратура, материалы и реактивы
Спектрограф средней дисперсии с кварцевой оптикой типа ИСП-30.
Искровой генератор типа ИГ-3 или ИВС-23.
Воздушный компрессор типа КВМ-8 с электроприводом (0,2-0,3 кВт) и ресивером на давление 50-200 кПа.
Распылитель с камерой обратной конденсации (черт.1).
1 - распылитель; 2 - резиновая пробка; 3 - жидкостной капилляр; 4 - воздушный капилляр
Черт.1
Микрофотометр типа МФ-2 или ИФО-460.
Токарный станок для заточки электродов типа ТВ-16.
Приспособление для заточки угольных электродов.
Спектрально чистые угли марок Б3 или С3 диаметром 6 мм.
Фотопластинки спектральные типов I, II или ЭС чувствительностью от 3 до 20 единиц.
Резиновый шланг.
Фарфоровые тигли.
Платиновые тигли.
Полиэтиленовая посуда.
Фильтры беззольные средней плотности ("белая лента") и плотные ("синяя лента") по ТУ 6-09-1678.
Печь муфельная с терморегулятором.
Аммиак водный по ГОСТ 3760-79, 25%-ный раствор.
Кислота серная по ГОСТ 4204-77, разбавленная 1:3.
Кислота соляная по ГОСТ 3118-77.
Кислота фтористоводородная по ГОСТ 10484-78.
Кислота азотная по ГОСТ 4461-77.
Гидроксиламина гидрохлорид по ГОСТ 5456-79, раствор 100 г/дм
Натрия гидроокись по ГОСТ 4328-77, 0,1 н. раствор.
Натрий кремнекислый (Na
Титан губчатый марки ТГ1-00 по ГОСТ 17746-79*.
______________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 17746-96. - .
Алюминий первичный марки А95 по ГОСТ 11069-74*.
______________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 11069-2001. - .
Марганец металлический марки Мр-00 по ГОСТ 6008-82*.
______________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 6008-90. - .
Олово металлическое марки 01 по ГОСТ 860-75.
Никель металлический марки НП1 по ГОСТ 492-73.
Молибден металлический, ванадий металлический (массовая доля основного элемента не менее 99,5%).
Хром металлический марки Х00 по ГОСТ 5905-79*.
______________
* На территории Российской Федерации действует ГОСТ 5905-2004. - .
Железо металлическое восстановленное.
Циркония хлорокись (цирконий хлористый ZrOCl
Вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72.
Стандартные растворы: титана с
Приготовление стандартных растворов описано в обязательном прилож
ении 2.
2.2.3. Подготовка проб
Анализируемую пробу массой 1 г растворяют при нагревании в 50 см
2.2.2, 2.2.3. (Измененная редакция, Изм. N 2).
2.2.4. Проведение анализа
2-3 см
Черт.2
Распылитель 1 (черт.3) закрепляют в держателе штатива спектрографа 2. Включают компрессор 6, перекрывая доступ воздуха в распылитель зажимом 3. При достижении в системе давления 70-80 кПа, измеряемого по манометру 4, снимают зажим 3. Воздух поступает в распылитель, начинается подача аэрозоля в разрядный промежуток и регистрация спектра.
1 - распылитель с пробкой и электродом; 2 - держатели электродов искрового штатива; 3 - зажим;
4 - манометр на 100-200 кПа; 5 - резиновый шланг; 6 - компрессор воздушный с электроприводом
Черт.3
Условия проведения анализа приведены в табл.1.
Длины волн аналитических спектральных линий и диапазоны определяемых массовых долей приведены в табл.2.
Для построения графиков используют растворы для градуирования (РГ), приготовленные из стандартных растворов отдельных элементов.
Количество стандартного раствора
где
Значения величин
Для приготовления РГ допускается использование комплекта СО или одного СО. При использовании одного СО в растворы проб и РГ вводят в качестве внутреннего стандарта 15 см
Состав РГ (С) в процентах, приготовленных из одного СО, вычисляют по формуле
где
Анализ растворов проб проводят по методу "трех эталонов".
2.2.2-2.2.4. (Измененная редакция, Изм. N 1).
2.2.5. Обработка результатов
2.2.5.1. Обработка результатов приведена в п.2.1.5.
2.2.5.2. Воспроизводимость метода
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3. ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МЕТОД СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
3.1. Сущность метода
Метод основан на возбуждении спектра дуговым или искровым разрядом с регистрацией интенсивности линий с помощью фотоэлектрической установки.
3.2. Аппаратура и реактивы
Установка фотоэлектрическая (квантометр) типа ДФС-10М, ДФС-36, ДФС-41 или МФС-4.
Генератор типа ГЭУ-1, УГЭ-4, ИВС-1, "АРКУС" или ИГ-3.
Угли спектрально чистые марки С2 или С3, диаметром 6 мм.
Прутки меди марки M00, M1 или М2 по ГОСТ 859-78, диаметром 6 мм.
Токарный станок типа ТВ-16.
Приспособление для заточки углей.
Станок шлифовальный.
Допускается применение другой аппаратуры, оборудование и материалов при условии получения точности анализа, не ниже предусмотренной настоящим стандартом.
3.3. Подготовка образцов
Образцы готовят, как указано в п.2.1.3.
3.4. Проведение анализа
Анализ проводят по методу "трех эталонов" или "контрольного эталона".
Условия проведения анализа приведены в табл.4.
Длины волн аналитических спектральных линий приведены в табл.5.
Аналитические линии выбирают в зависимости от массовой доли элемента в образце, возможности размещения выходных щелей на каретках квантометра и т.д. Допускается использование других аналитических линий при условии, что они обеспечивают точность и чувствительность, отвечающие требованиям настоящего стандарта.
Массовая доля элементов в АО определяют с помощью градуировочного графика, построенного в координатах:
При работе на квантометрах по методу "контрольного эталона" с построением градуировочного графика в координатах
При построении градуировочного графика в координатах
Перед анализом образцов регистрируют спектры СОП 3-5 раз, через точку вращения и точку с координатами
АО.
3.5. Обработка результатов
3.5.1. Обработка результатов приведена в п.2.1.5.
3.5.2. Воспроизводимость фотоэлектрического метода анализа
(Измененная редакция, Изм. N 1).
Таблица 4
Контролируемые параметры | Условия проведения анализа | ||||
Квантометр ДФС-10М, генератор ГЭУ-1 | Квантометр ДФС-36, генератор УГЭ-4 | Квантометр ДФС-41, | Квантометр МФС-4 | ||
генератор | |||||
"АРКУС" | ИГ-3 | ||||
Дуга переменного тока | Импульсный апериодический разряд повышенного напряжения | Дуга переменного тока | Высоковольтная искра | ||
Напряжение питания, В | 220 | ||||
Сила тока, А | 1-3 | 1-2 | 5,5 | 1,1-1,8 | 2,5 |
Метод управления | Фазовый | ||||
Фаза поджига, град. | 90 | ||||
Емкость, мкФ | - | - | 16 | - | 0,01 |
Индуктивность, мГ | - | - | 500 | - | 0,01 |
Разрядный промежуток, мм | - | - | - | 5,5 | 3,0 |
Аналитический промежуток, мм | 1,5 | 1,5 | 5,0 | 1,5 | 2,0 |
Ширина входной щели, мм | 0,02-0,06 | ||||
Ширина выходных щелей, мм | 0,04-0,20 | Выбираются в зависимости от концентрации элемента | |||
Обжиг, с | 7-10 | 7 | 25 | 5-30 | 20 |
Экспозиция, с | 30 | 30 | 25 | 30 | 20 |
Противоэлектрод | Угольный диаметром 6 мм, заточенный на полусферу | ||||
Система координат |
Примечания:
1. Параметры выбирают в пределах указанных значений.
2. Для сплава марки ВТ5Л можно использовать подставной медный электрод диаметром 4 мм, заточенный на усеченный конус с площадкой 1 мм.
3. При проведении анализа на квантометре ДФС-41 с генератором ИВС-1 следует использовать сопротивление 11,5 Ом.
Таблица 5
Определяемый элемент | Длина волны линии определяемого элемента, нм | Диапазон определяемых массовых концентраций, % |
Алюминий | I 265,2 III 360,1 I 396,15 I 394,40 I 308,21 | 0,004-10,0 |
Ванадий | I 572,70 I 437,92 I 326,77 I 318,54 II 311,84 | 0,002-6,0 |
Железо | II 271,41 II 259,94 II 259,84 II 238,20 | 0,01-2,0 |
Кремний | I 288,1 | 0,002-0,5 |
Марганец | II 294,92 II 293,31 | 0,0005-2,0 |
Молибден | I 553,30 I 386,41 II 277,54 II 284,8 | 0,006-10,0 |
Олово | I 326,23 I 317,50 I 284,00 | 0,005-5,0 |
Хром | I 534,58 I 425,43 II 296,17 I, II 284,92 II 267,72 | 0,004-3,0 |
Никель | I 341,48 | 0,01-0,25 |
Цирконий | I 477,23 I 349,62 II 343,82 II 339,20 | 0,006-10,0 |
Медь | I 324,75 | 0,001-0,25 |
Примечания:
1. В качестве линии сравнения используют линии титана: I 453,32 нм; I 363,55 нм; II 324,19 нм; II 271,62 нм; I 334,9 нм или неразложенный свет.
2. Линию ванадия II 311,84 нм нельзя использовать в присутствии хрома.
3. Линию алюминия I 308,21 нм нельзя использовать в присутствии ванадия.
ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное
ОЦЕНКА ТОЧНОСТИ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
1. Точность спектрального метода анализа - качество измерений, отражающее близость их результатов к истинному значению измеряемой величины - определяется значением систематических и случайных погрешностей при условии, что промахи исключены из расчетов (случайные погрешности подчиняются нормальному закону распределения).
(Измененная редакция, Изм. N 2).
2. При правильно настроенной спектральной аппаратуре и выполнении рекомендаций стандарта по процедуре анализа основными источниками систематических погрешностей являются погрешности, связанные с влиянием структуры и химического состава проб на результаты анализа.
Эти погрешности должны быть выявлены сопоставлением результатов анализа проб, выполненного химическим и спектральным методами анализа по большой выборке (не менее 30 проб) и устранены корректировкой положения градуировочных графиков по СОП. Проверку правильности результатов химического анализа проводят в соответствии с ГОСТ 19863.1-80 - ГОСТ 19863.13-80.
3. Результат анализа пробы, полученный как среднее арифметическое, например, из двух (трех) параллельных измерений, т.е. по двум (трем) спектрам, следует рассматривать как одно определение.
4. Воспроизводимость спектрального метода анализа - качество измерений, отражающее близость друг к другу результатов измерений, выполняемых в различных условиях (в различное время, в различных местах, различными методами и средствами) - характеризуется значением относительной средней квадратической погрешности (относительным стандартным отклонением) единичного определения
(Измененная редакция, Изм. N 2).
5. Для подсчета
При фотоэлектрической регистрации перед началом измерений проводят корректировку градуировочных графиков, а затем регистрацию спектров.
Всего от каждого образца получают за 5 сут по 15 измерений (пять определений).
Для каждого образца вычисляют стандартное отклонение
где
Далее вычисляют стандартное отклонение
где
Относительное стандартное отклонение
где
где
6. Сходимость результатов измерений - качество измерений, отражающее близость друг к другу результатов измерений, выполняемых в одинаковых условиях, - характеризуется значением относительной средней квадратической погрешности единичного измерения.
(Измененная редакция, Изм. N 2).
7. Значение
Сначала вычисляют стандартное отклонение
где
________________
* Формула и экспликация к ней соответствуют оригиналу. - .
Далее вычисляют относительное стандартное отклонение
8. При проведении анализов часто возникает необходимость в оценке погрешности результата анализа
где
Вычисленное значение
При этом наиболее вероятным результатом анализа является значение
9. Смещение градуировочного графика относительно основного (дрейф
Положение градуировочного графика рекомендуется контролировать по 1-2 СОП 2-3 раза в смену.
10. Если разность между результатом анализа и одним из предельных значений массовой доли элемента для данного сплава, указанных в ГОСТ 19807-74*, по абсолютной величине меньше или равна
где
______________
* На территории Российской Федерации действуют ГОСТ 19807-91. - .
11. Комплексную оценку работы генератора возбуждения спектра, спектрального прибора и электронного измерительного устройства рекомендуется периодически (1-2 раза в месяц) проводить путем определения относительного стандартного отклонения
Найденное значение
Если
ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Обязательное
ПРИГОТОВЛЕНИЕ СТАНДАРТНЫХ РАСТВОРОВ
1. Стандартный раствор титана с массовой концентрацией
(Измененная редакция, Изм. N 2).
2. Стандартный раствор алюминия с
3. Стандартный раствор ванадия с
4. Стандартный раствор железа с
5. Стандартный раствор кремния с
Устанавливают массовую концентрацию раствора
Массовую концентрацию стандартного раствора кремния
где
0,4675 - коэффициент пересчета двуокиси кремния на кремний;
6. Стандартный раствор марганца с
7. Стандартный раствор молибдена с
.
8. Стандартный раствор никеля с
9. Стандартный раствор олова с
10. Стандартный раствор хрома с
11. Стандартный раствор циркония с
Устанавливают массовую концентрацию стандартного раствора циркония: 50 см
Массовую концентрацую стандартного раствора циркония
где
0,7403 - коэффициент пересчета двуокиси циркония на цирконий;
Приложение 2. (Измененная редакция, Изм. N 1).
Электронный текст документа
и сверен по:
М.: Издательство стандартов, 1988
Редакция документа с учетом
изменений и дополнений
подготовлена З