allgosts.ru03. УСЛУГИ. ОРГАНИЗАЦИЯ ФИРМ, УПРАВЛЕНИЕ И КАЧЕСТВО. АДМИНИСТРАЦИЯ. ТРАНСПОРТ. СОЦИОЛОГИЯ.03.120. Качество

ГОСТ 4.198-85 Система показателей качества продукции. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей

Обозначение:
ГОСТ 4.198-85
Наименование:
Система показателей качества продукции. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей
Статус:
Действует
Дата введения:
01/01/1987
Дата отмены:
-
Заменен на:
-
Код ОКС:
03.120, 19.100

Текст ГОСТ 4.198-85 Система показателей качества продукции. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей



государственный стандарт

СОЮЗА ССР

СИСТЕМА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ

АППАРАТЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ

НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ

ГОСТ 4.198—85

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва

УДК 621.386.1 : 006.354    Группа Т51

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

Система показателей качества продукции

АППАРАТЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ АНАЛИТИЧЕСКИЕ

Номенклатура показателей

Product-quality index system X-ray analytical apparatus Nomenclature of indices

ОКСТУ 0004

гост

4.198-85

Дата введения    01.01.87

Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества рентгеновских аналитических .аппаратов, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив этой группы, государственные стандарты с перспективными требованиями (ГОСТ ОТТ), а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ).

Коды рентгеновских аналитических аппаратов, входящих в труппу однородной продукции по ОКП:

42 7651 —аппаратура рентгеноструктурная: дифрактометры общего назначения (прецизионные, средней точности, упрощенные), дифрактометры специализированные (текстурные, для исследования монокристаллов, для определения макронапряжений, малоугловые, для исследования в особых условиях — низкотемпературные и высокотемпературные, для исследования реальной структуры кристаллов — на основе детекторов телевизионного типа), аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом);

42 7651 —аппаратура рентгеноспектральная: спектрометры крис-талл-дифракционные (многоканальные, сканирующие), спектрометры бездифракционные с полупроводниковым детектором, анализаторы рентгеновские;

Издание официальное

Перепечатка воспрещена © Издательство стандартов, 1989

42 7651 —микроскопы рентгеновские: с фоторегистрацией, анализаторы, рентгенотелевизионные;

42 7651 — аппараты рентгенолюминесцентные: сепараторы люминесцентные;

42 7651 — микроанализаторы рентгеновские;

42 7651 —приборы рентгенофизические: аппараты для исследования тонкой структуры рентгеновских спектров;

42 7658 — приборы рентгенофизические: спектрометры рентгеноэлектронные, спектрометры оже-электронные.

Алфавитный перечень показателей качества продукции приведен ь справочном приложении 1.

Термины, применяемые в стандарте, и пояснения к ним приведены в справочном приложении 2.

Примеры расчета некоторых показателей качества продукции приведены в справочном приложении 3.

(Измененная редакция, Изм. № 1).

1. НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ АНАЛИТИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

1.1. Номенклатура показателей качества и характеризуемые ими ствойетва рентгеновских аналитических аппаратов приведены в табл. 1.

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Таблица 1

Наименование характеризуемого свойства

1. ПОКАЗАТЕЛИ НАЗНАЧЕНИЯ

1.1.    Диапазон углового перемещения блока детектирования, град

1.2.    Основная аппаратурная погрешность, (ГОСТ 16865—79), %

1.3.    Допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, град

1.4.    Диапазон поворота по углу а, . . • °

1.5.    Диапазон рабочих углов, ... °

1.6.    Сходимость показаний аппарата

1.7.    Интервал рабочих температур, при которых исследуется образец, °С

1 8. Номинальная мощность рентгеновской трубки, Вт (кВт)

1.9. Угловая установка кристалла (ф, X, со), . .. °

1Л0. Диапазон анализируемых элементов

2@н, 20к;

VH, Vk, Yh, Yk

Aq

бо

20

т(Д T)

w

Диапазон регистрации дифрактограмм

Стабильность аналитического сигнала аппарата Искажение дифрактограмм ы

Аналитические возможности аппарата То же

Стабильность выходного параметра аппарата Диапазон воздействующих факторов Аналитические возможности аппарата То же

Аналитические возможности аппарата

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

1.11. Максимальное количество одно-

Аналитические возмож

временно анализируемых элементов

ности аппарата

1.12. Время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), с

—■

Производительность

1.13. Скорость счета на линии на

ц

Аналитические возмож

контрольном образце, с-1

ности аппарата

1.14. Спектральное разрешение (волновое, энергетическое), нм, зВ, %

Селективность анализа

1.15, Погрешность угловой установки кристалла (по ф, х» <*>)»••• °

Достоверность анализа

1.16. Разрешение, .. /

1.17. УвелинениеХ „

Возможность получения требуемого линейного разрешения

1.18. Линейное разрешение, мкм

■-

Линейная разрешающая Способность

1.19. Извлечение минерала, °/о

Эффективность работы аппарата

1.20 Производительность на классе крупности, т/ч

~—

Производительность

1.21. Выход материала на отсечку

(или на 10 отсечек), кг (зерен)

Качество сортировки

1.22. Диапазон исследуемого излуче

Аналитические возмож

ния, нм, кэВ

ности аппарата

1.22а. Среднее квадратическое откло

Стабильность аналити

нение от среднего значения измеряемых деформаций, %

ческого сигнала

1.23. Диапазон.ускоряющих напряжений, кВ

То же

1.24. Наименьшее увеличение в растровом режимех

-—

Наибольшее поле зрения

1.25. Отношение сигнал/шум

Чувствительность прибо-

1.25а. Погрешность регулирования за

._

ра

Стабильность аналити

данной температуры

ческого сигнала

1.26. Рабочая площадь входного ок

Аналитические возмож

на детектора, мм2

1.27—1.27.2. (Исключены, Изм. № 1).

ности аппарата

1.28. Минимальный шаг сканирова

•—

Аналитические возмож

ния, нм

ности аппарата

1.29. Установочная скорость угловых

Производительность ап

перемещений блока детектирования,

. . . °/мин

парата

1.30. Диапазон угловых перемещений

Аналитические возмож

рентгеновской трубки,... 0

ности аппарата

1.31. Допускаемые размеры исследуемого образца, мм

1.32. Рабочая среда

1.33. Наименьшее (предельное остаточное) давление в рабочем объеме,

Па

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

1.34. Диапазон регулировки высокого

Аналитические возмож

напряжения и анодного тока, кВ, мА

ности аппарата

1.35. Класс крупности обрабатываемо-

Характеристика обогаща

го материала, мм

емого материала

1.36. Контрастность (ГОСТ 16865—79)

к

1.37. Предел обнаружения (ГОСТ

Аналитические возмож

16865-79), г, %

ности

1.38. Удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки (ГОСТ 20337—74), Вт/мм2

Производительность

1.39.    Контрастная чувствительность,

%

1.40.    Осциллирование блока детекти-

Качество изображения

Аналитические возмож

рования сцинтилляционного, . .. °

ности аппарата

1.41. Нестабильность анодного напряжения и тока, %

-

То же

1.42. Размеры экрана для визуально

Удобство наблюдения,

го наблюдения, мм

обзорность

1.43.    Наличие сканирующего канала

1.44.    (Исключен, Изм. № 1).

Аналитические возможности аппарата

1.45. Автоматическое управление сме

Способность автомати

ной образцов

ческого управления сменой образцов

1.46. Наличие автоматизации управ

Возможность комплекс

ления и обработки данных

ной работоспособности системы «аппарат—ЭВМ»

1.47. Оснащенность дополнительными

Ускорение анализа

устройствами (например наличие приставок)

——

1,48. Воспроизводимость положения линии спектра, эВ

1.49. Габаритные размеры (или установочная площадь), мм (мм2)

' ' “

1.50. Условия эксплуатации 1.50.1. Параметры питающей сети

1.50.2. Устойчивость к климатическим воздействиям

'

1.50.3. Устойчивость к механическим воздействиям

2. ПОКАЗАТЕЛИ НАДЕЖНОСТИ

2.1.    Показатели безотказности

2.1.1. Средняя наработка на отказ    Т0

(ГОСТ 27.002—83), ч (цикл)

2.1.2. Установленная безотказная на-    Ту работка (РД 50—650—87), ч (цикл)

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

2.2. Показатели долговечности

2.2.1. Полный средний срок службы

Г СЛ

(ГОСТ 27.002—83), лет

2.2.2. Установленный срок службы

Гсл у

(ГОСТ 27.003—83), лет 2.3. Показатель ремонтопригодности

2.3.1. Среднее время восстановления

работоспособного состояния (ГОСТ

Тв

27.003—83), ч

3. ПОКАЗАТЕЛИ ЭКОНОМНОГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ,

ЭНЕРГИИ

3.1.    Масса, кг

3.2.    Потребляемая мощность, В* А

Экономичность расхода материала

Экономичность энергопотребления

4. ЭРГОНОМИЧЕСКИЕ ПОКАЗАТЕЛИ

4.1.    Показатель уровня шума    —

4.2.    Показатель уровня освещенности    ■—

4.3.    Показатель уровня температуры,    —

влажности

4.4.    Показатель уровня вибрации    —

4.5.    Уровень радиопомех

4.6.    Соответствие изделия силовым,    —

энергетическим возможностям человека

4.7.    Соответствие изделия слуховым и    —

зрительным возможностям человека

4.8.    Соответствие изделия закреплен-    —

ным и вновь формируемым навыкам человека

4.9.    Возможность восприятия и пере-    —

работки информации

4.10.    Соответствие изделия размерам    —

тела человека и его частей

4.11.    Соответствие изделия форме те-    —

ла человека и его отдельных частей

5. ЭСТЕТИЧЕСКИЕ ПОКАЗАТЕЛИ

5.1.    И н ф о р м а ц и о н н а я в ы р а-    —

зительность

5.1.1.    Соответствие современным эс-    —

тетическим представлениям

5.2.    Рациональность формы    —

5.2.1.    Функциональность

5.3.    Целостность компози-    —

ц и и

Продолжение табл. 1

Наименование показателя качества

Обозначение

показателя

качества

Наименование характеризуемого свойства

5.3.1. Уровень композиционного решения

5.4. Совершенство производственного исполнения (товарный вид)

6. ПОКАЗАТЕЛИ ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ

(ГОСТ 14.205—83)

6.L Трудоемкость изготовления изделия, нормо-ч.

7„

6.2. Технологическая себестоимость изделия, руб.

Ст

7. ПОКАЗАТЕЛИ ТРАНСПОРТАБЕЛЬНОСТИ

7.1. Температура транспортирования, °С

7.2. Верхнее значение относительной влажности при температуре, %

7.3. Транспортная тряска при частоте ударов в минуту

8. ПОКАЗАТЕЛИ СТАНДАРТИЗАЦИИ И УНИФИКАЦИИ

8.1. Коэффициент применяемости, %

Кпр

8.2. Коэффициент повторяемости, %

Кп

9. ПАТЕНТНО-ПРАВОВЫЕ ПОКАЗАТЕЛИ

9.1. Показатель патентной защиты

/7пз

9.2. Показатель патентной чистоты

Яп.ч

10. ЭКОЛОГИЧЕСКИЙ ПОКАЗАТЕЛЬ

10.1. Мощность экспозиционной дозы рентгеновского излучения, А/кг

11. ПОКАЗАТЕЛИ БЕЗОПАСНОСТИ

11.1. Время срабатывания защиты, с

11 2. Электрическая прочность изоляции, кВ

“—

11.3. Электрическое сопротивление изоляции, Ом

11 4. Наличие блокирующих устройств

115. Наличие аварийных сигнализаций, световой индикации

Примечания:

1.    Основные показатели качества набраны жирным шрифтом.

2.    Показатель 1.24 считать основным только при отсутствии встроенного светового микроскопа.

1.2. Показатели качества аппаратов, приведенные в табл. 1, могут быть дополнены показателями, которые отражают особенности функционального назначения, области применения и др.

2. ПРИМЕНЯЕМОСТЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕНТГЕНОВСКИХ АНАЛИТИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

2.1. Перечень основных показателей качества:

дифрактометров общего назначения (прецизионных, средней точности, упрощенных): диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, установочная скорость угловых перемещений блока детектирования, оснащенносгь дополнительными устройствами, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных текстурных: диапазон углового перемещения блока детектирования, основная аппаратурная погрешность, диапазон поворота по углу, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования монокристаллов: диапазон углового перемещения блока детектирования, допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота, угловая установка кристалла, погрешность угловой установки кристалла, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования реальной структуры кристаллов (на основе детекторов телевизионного типа): рабочая площадь входного окна детектора, линейное разрешение, контрастная чувствительность, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для определения макронапряжений: диапазон рабочих углов, среднее квадратическое отклонение от среднего значения измеряемых деформаций, осцил-лирование блока детектирования ецннтилляционного, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных малоугловых: диапазон рабочих углов, разрешение, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

дифрактометров специализированных для исследования в особых условиях (низкотемпературных, высокотемпературных): интервал рабочих температур, при которых исследуется образец, погрешность регулирования заданной температуры, наличие автоматизации управления и обработки данных, наименьшее давление в рабочем объеме,, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгеновских для структурного анализа с фоторегистрацией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся

анодом): удельная нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки, нестабильность анодного напряжения и тока, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных многоканальных: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количество одновременно анализируемых элементов, время одного цикла (ввод пробы, измерение, вывод пробы), скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наличие сканирующего канала, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров кристалл-дифракционных сканирующих: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров бездифракционных с полупроводниковым детектором: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, спектральное разрешение (энергетическое), установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

анализаторов рентгеновских: основная аппаратурная погрешность, диапазон анализируемых элементов, максимальное количес

тво одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, предел обнаружения, автоматическое управление сменой образцов, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроскопов рентгеновских (с фоторегистрацией, анализаторов, рентгенотелевизионных): номинальная мощность рентгеновской трубки, увеличение, линейное разрешение, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов рентгенолюминесцентных: извлечение минерала, производительность на классе крупности, выход материала на отсечку, класс крупности обрабатываемого материала, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

микроанализаторов рентгеновских: максимальное количество одновременно анализируемых элементов, скорость счета на линии на контрольном образце, линейное разрешение, диапазон анализируемых элементов, диапазон ускоряющих напряжений, наименьшее увеличение в растровом режиме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров рентгеноэлектронных: разрешение спектральное (энергетическое), воспроизводимость положения линии спектра, скорость счета на линии на контрольном образце, контрастность, наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

спектрометров оже-электронных: отношение сигнал/шум, линейное разрешение, спектральное разрешение (энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность;

аппаратов для исследований гонкой структуры рентгеновских спектров: диапазон исследуемого излучения, воспроизводимость положения линии спектра, спектральное разрешение (волновое, энергетическое), наименьшее давление в рабочем объеме, наличие автоматизации управления и обработки данных, установленная безотказная наработка, средняя наработка на отказ, полный средний срок службы, масса, потребляемая мощность.

2.2. Применяемость показателей качества по подгруппам однородной продукции для рентгеноструктурной аппаратуры приве

дена в табл. 2, рентгеноспектральной—в табл. 3, микроскопов рентгеновских, аппаратов рентгенолюминесцентных, микроанализаторов рентгеновских — в табл. 4, приборов рентгенофизических — в табл. 5.

Применяемость показателей качества аппаратов рентгеновских аналитических, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития, ГОСТ ОТТ, в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, ТУ, КУ, ТЗ на ОКР, приведена в табл. 6

(Измененная редакция, Изм. № 1).

Номер показателя по табл. 1

Дифрактометры    о,

общего    з

назначения    £_

н

о

Ьй

f-

1.1

1.2

1.3

1.4

1.5

1.6

1.7

1.8 1.9

1.10-1.14

1.15

1.16

1.17

1.18

1Л 9—1.22 1.22а

1.23—1.25

1.25а

1.26

1.28

1.29

1.30

1.31

1.32

+

+

+

+

±
±

+

+

±

±

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Дифрактометры специализированные

для исследования монокристаллов

для определения макронапряжений

О)

А

со

о

и

>>

о

4 «

5

для исследования в особых условиях

н >,

о н

ЙЙ 03 ..

n ai

К <У А SCI

I са о a J йй о 3 о с я НЕС,

Л О) >1

со н н

для исследования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизионного типа

Аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией

с отпаянной рентгеновской трубкой

с вращающимся анодом

+

Ч-

+

+

±

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

±

+

+

+

+

+

±
±
±

ГОСТ 4.198—85 С. 11

Продолжение табл. 2

О

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Дифрактометры специализированные

Номер показателя по

Дифракто

метры

для иссле-

для определения макронапряжений

малоугловые

для исследования в особых условиях

для исследования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизионного типа

липара1ы реп и ctiutstftHC

для структурного анализа с фоторегистрацией

табл. 1

общего

назначения

текстурны*

дования

монокри

сталлов

низкотем-^

ператур-

ные

высоко

темпера

турные

с отпаянной рентгеновской трубкой

с вращающимся анодом

1.33

_

_

_

±

+

1.34

±

±

dr

±

).35—1.37

1.38

—■

+

+

1.39

+

■—

1.40

•—

+

—■

1.41

■—•

•—

+

1.42—1.43

•—

■—

1.45

±

—.

1.46

±

±

+

+

+

+

+

1

—.

1.47

±

1.48

■—

—.

1.49

+

+

+

+

+

-L

1

-L

ч

+

+

+

1.50.1—

1.50.3

+

+

+

+

1 Г’

+

+

+

+

2.1.1

+

+

+

+

J-

1

-L

1

+

+

+

2.1.2

+

+

+

+

+

+

_L

i

+

+

+

212.1

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

2.2.2

d=

±

±

±

±

±

±:

zb

±

dr

2.3.1

dh

+

±

±

±

±

dr

3.1—3.2

+

+

+

1

+

+

+

+

+

+

4.1—4.11

dr

±

Ч-

d=

±

±

±

±

±

5.1—5.4

±

±

±

±

±

±

±

±

±

±

6.1— 6.2

+

+

+

+

+

+

+

+

+

. 12 ГОСТ 4.198—85

Продолжение табл. 2

Номер показателя по табл. 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Дифракто

метры

общего

назначения

Дифрактометры специализированные

Аппараты рентгеновские для структурного анализа с фоторегистрацией

текстурные

для исследования монокристаллов

для определения макронапряжений

малоугловые

для исследования в особых условиях

для исследования реальной структуры кристаллов на основе детекторов телевизионного типа

низкотем

ператур

ные

высоко

темпера

турные

с отпаянной рентгеновской трубкой

с вращающимся анодом

7.1—7.3

+

+

+

+

+

+

4-

+

+

+

8.1—8.2

+

+

+

+

+

+

+

+

+

+

9.1—9.2

+

+

+

+

4~

+

+

+

10.1

+

+

+

+

+

+

+

+

11.1—11.5

±

-х-

±

±

±

±

±

ГОСТ 4.198—85 С. 13

Номер показателя по табл 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Спектрометры кристалл-дифракционные

Спектрометры без-дифракционные с полупроводниковым детектором

Анализаторы

рентгеновские

многоканальные

сканирующие

1.1

—1 ,

_. _

1.2

+

+

4-

1.3—1.9

■—

1.10

+

+

4-

4-

1.11

+

4-

1.12

н-

■4-

1.13

+

+

4-

±

1.14

4-

1.15—1.26

1.28

±

1.29—1.30

1.31

±

±

1.32—1.33

_

1.34

rb

±

±

1.35

1.36

+

+

1.37

dz

±

—,

zt

1.38—1.42

.—-

1.43

4~

Н-

1.45—1 46

-h

±

4~

1.47—1.48

1.49

+

+

4-

+

1.50.1—1.50.3

+

+

+

2.1.1

+

+

44

+

2.1.2

+

+

+

+

2.2.1

+

+

4"

+

2.2.2

±

±

±

2.3.1

±:

±

±

3.1—3.2

+

+

4-

4-

4.1—4.11

-4-

db

5.1—5 4

±

±

±

±

6.1—6.2

+

4*

+

4-

7.1—7.3

+

+

+

4-

8.1—8 2

4-

4*

+

+

9.1—9.2

+

+

+

4-

10.1

4-

4-

4-

4-

11.1—11.5

dt

±

=t

Номер показателя по табл 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Микроскопы

рентгеновские

Аппараты рентгенолюминесцентные

Микроанализаторы

рентгеновские

1.1—1.7

_

_

1.8

и-

1.9

1.10

+

1.11

+

1.12

——

1.13

+

1.14—1.16

1.17

+

1.18

+

1.19

+

1.20

•—

+

1.21

+

1.22— 1.22а

1 23

+

1.24

+

1.25—1.25а

1.26

■—

1.28—1.30

1.31

±

—.

СО

1

со

4*

1.35

•—

+

1.36—1.38

.—

_

1.39

dz

--

_

1.40—1.41

_

1.42

_

±

1.43

+

1.45

_

1.46

+

+

1.47

_

_

±

1.48

__

__

1.49

+

+

+

1.50.1—1.50.3

+

+

+

2.1.1

+

+

+

2.1.2

+

+

+

2.2.1

+

+

2.2.2

±

±

2 3.1

±

±

3.1—3.2

+

+

+

4.1—4.11

±

5.1—5.4

±

±

±

6.1—6.2

+

+

+

7.1—7.3

+

+

+

8.1—8.2

+

+

+

9.1—9.2

+

+

+

10.1

+

+

11.1—11.5

±

±

Номер показателя по табл. 1

Применяемость по подгруппам однородной продукции

Приборы рентгенофизические

спектрометры рентгеноэлектронные

спектрометры оже-электронные

аппараты для исследования тонкой структуры рентгеновских спектров

1.1—1.12

1.13

4-

±

±

1.14

+

4-

zb

1.15—1.17

1.18

■—

4-

1.19—1.21

1.22

+

1.22а

1.23—1.24

1.25

+

-—

1.25а

■—

1.26—1.32

1.33

±

1.34—1 35

■—

1.36

+

4=

1.37—1.45

■—

1.46

Ч—

±

1.47

+

4=

.—

1 48

+

zb

1.49

4-

+

+

со

о

ю

1

о

ю

4-

+

4-

2.1.1

4-

4-

+

2.1.2

4-

+

4-

2.2.L

4-

+

4-

2 2.2

±

ЧЬ

rh

2.3.1

нн

4=

zb

3.1—3.2

+

4-

-i-

*

4.1—4.11

zfc

±

5.1—5.4

rfc

±

4=

6.1—6.2

4-

+

7.1—7.3

4-

+

4-

8.1—8.2

4*

+

4-

9 1—9.2

4-

4-

4-

10.1

4-

+

4-

11.1—11.5

=fc

±

Область применения показателя

fc

>>

н

а

*

о

х

СП

н

Я Р

« so

Q,£_(

са ЗУ

н О U и

ЛН

*0

ио

"8

ни

+1 +1 +1 +1 +1 +1 +1 +| +| +1 +1 +1 +1 +1 +| +1 +1 +1 +1 +1 +1 +1 +1 +1 41 41 М 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 4! +1

41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 44 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41

41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41 41

] i + | | | 1+1 | 14-1 1 4- I 4- I 4- | | + |

+ I I I 4- I 4-4- I 4- 4--44- |

О К

O.S'O

2 « 2 й » н

X * к

^    СО    оз

OmC^CO^^^NQOiJiO^!(M(MOO'tWlOCOOOO)0»riMCOr)<lOCOS00050^<NOOlOCOS ^c^co^^c0h*<X)a>^^^~^^^^~^^csjwcscsics{Csics}c^c4C^cqcooocqcocococococo^Tr^'O<Tf<Tf<Tf<

Продолжение табл. 6

Область применения

показателя

Номер показателя по табл. 1

ТЗ на НИР, ГОСТ ОТТ

Стандарты (кроме ГОСТ ОТТ)

ТЗ на ОКР

ТУ

КУ

1.48

-

_

±2

нь

1.49

+

+

1.50.1 — 1 50 3

+

+

+

2.1.1

+

+

+

+

2.1.2

+

+

+

+

+

2.2 1

+

+

”\~

+

+

2.2 2

■±

+

±

±

2.3.1.

+

±

do

±

±

3.1—3.2

+

+

+

4.1—4 11

+

5.1—5 4

—-

+

_

6 1—6 2

—.

+

_

+

7 1—7.3

+

+

+

8 1—8 2

__

+

9.1—9 2

.

+

10 1

-—

±

11.1—11.5

±

±

Примечание к табл. 2—6. Знак « + » означает применяемость, знак *—> — неприменяемость, знак «±» — ограниченную применяемость (в технически обоснованных случаях) соответствующих показателей качества.

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 Справочное

АЛФАВИТНЫЙ ПЕРЕЧЕНЬ ПОКАЗАТЕЛЕЙ

Номер показателя по табл 1

Возможность восприятия и переработки информации    4.9

Воспроизводимость положения линии спектра    1.48

Время восстановления работоспособного состояния среднее    2.3.1

Время одного цикла    1.12

Время срабатывания защиты    11.1

Выразительность информационная    5.1

Выход материала на отсечку    1.21

Давление в рабочем объеме наименьшее (предельное остаточное)    1 33

Диапазон анализируемых элементов    110

Диапазон исследуемого излучения    1.22

Диапазон поворота по углу а    1.4

Диапазон регулировки высокого напряжения и анодного тока    1.34

Диапазон рабочих углов    1.5

Диапазон угловых перемещений рентгеновской трубки    1.30

Диапазон ускоряющих напряжений    1.23

Диапазон углового перемещения блока    детектирования    1.1

Значение относительной влажности при температуре верхнее    7.2

Извлечение минерала    1.19

Интервал рабочих температур, при которых исследуется образец    1.7

Класс крупности обрабатываемого материала    1.35

Количество одновременно анализируемых элементов максимальное    1.11

Контрастность    1.36

Коэффициент повторяемости    в.2

Коэффициент применяемости    8.1

Масса    3.1

Мощность потребляемая    3.2

Мощность рентгеновской трубки номинальная    1.8

Мощность экспозиционной дозы рентгеновского излучения    10.1

Нагрузка на действительное фокусное пятно рентгеновской трубки удельная    1 38

Наличие аварийных сигнализаций, световой индикации    115

Наличие автоматизации управления и обработки данных    1 46

Наличие блокирующих устройств    11 4

Наличие сканирующего канала    1.43

Наработка на отказ средняя    2.1.1

Наработка безотказная установленная    2 1.2

Нестабильность анодного напряжения и тока    1.41

Оснащенность дополнительными устройствами (например, наличие приставок)    1 47

Отношение сигнал/шум    1.25

Отклонение блока детектирования от заданного угла поворота допускаемое    1.3

Отклонение от среднего значения измеряемых деформаций среднее квадратическое    1.22а

Осциллирование блока детектирования сцинтилляционно-го    1.40

Параметры питающей сети    1.50.1

Площадь входного окна детектора рабочая    1.26

Погрешность основная аппаратурная    1.2

Погрешность регулирования заданной температуры    1.25а

Погрешность угловой установки кристалла    1.15

Показатели безотказности    2.1

Показатели долговечности    2.2

Показатель патентной защиты    9.1

Показатель патентной чистоты    9.2

Показатель ремонтопригодности    2.3

Показатель уровня вибрации    4.4

Показатель уровня освещенности    4.2

Показатель уровня температуры, влажности    4.3

Показатели уровня шума    4.1

Предел обнаружения    1.37

Прочность изоляции электрическая    Ц.2

Производительность на классе крупности    1.20

Размеры габаритные (или площадь установочная)    1.49

Размеры исследуемого образца допускаемые    1.31

Размеры экрана для визуального    наблюдения    1,42

Разрешение    1.16

Разрешение линейное    1.18

Разрешение спектральное (волновое, энергетическое)    1.14

Рациональность формы    5.2

Себестоимость изделия технологическая    6.2

Скорость счета на линии на контрольном образце    1.13

Скорость угловых перемещений блока детектирования установочная    1 29

Совершенство производственного исполнения (товарный вид)    5.4

Сопротивление изоляции электрическое    П.З

Соответствие изделия силовым, энергетическим возможностям человека    4.6

Соответствие изделия слуховым и зрительным возможностям человека    4.7

Соответствие изделия закрепленным и вновь формируемым навыкам человека    4.8

Соответствие изделия размерам тела человека и его частей    4.10

Соответствие изделия форме тела человека и его отдельных частей    4.11

Соответствие современным эстетическим представлениям    5.1.1

Среда рабочая    1.32

Срок службы установленный    2.2 2

Срок службы полный средний    2.2.1

Сходимость показаний аппарата    1.6

Температура транспортирования    7.1

Трудоемкость изготовления изделия    6.1

Тряска при частоте ударов в минуту транспортная    7.3

Увеличение    1.17

Увеличение в растровом режиме наименьшее    1.24

Установка кристалла угловая    1.9

Управление сменой образцов автоматическое    1.45

Уровень радиопомех    4.5

Уровень композиционного решения    5.3.1

Условия эксплуатации    1.50

Устойчивость к климатическим воздействиям    1.50.2

Устойчивость к механическим воздействиям    1.50.3

Функциональность    5.2.1

Целостность композиции    5.3

Чувствительность контрастная    1.39

Шаг сканирования минимальный    1.28

(Измененная редакция, Изм. № 1).

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 Справочное

ТЕРМИНЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ В СТАНДАРТЕ, И ПОЯСНЕНИЯ К НИМ

Наименование показателя качества

Номер показателя [to табл 1

Пояснение

Выход материала на отсечку

1.21

Диапазон рабочих углов

1.5

Допускаемое отклонение блока детектирования от заданного угла поворота

1 3

Извлечение минерала

1.19

Контрастная чувствительность

1.39

Линейное разрешение

1.18

Отношение сигнал/шум

1.25

Предел обнаружения

1.37

Увеличение

1.17

Установочная скорость угловых перемещений

1.29

блока детектирования

Сходимость показаний аппарата

1.6

(Измененная редакция

, Изм. № 1).

Масса материала, поступающего в концентрат при однократном (10-кратном) срабатывании исполнительного устройства

Диапазон углов, в котором может быть зарегистрировано рентгеновское излучение, рассеянное или дифрагированное исследуемым образом Отклонение действительного углового положения блока детектора, установленного системой управления аппарата, от заданного углового положения

Отношение извлеченной массы минерала к его массе в исходном материале

Отношение минимального наблюдаемого изменения толщины к толщине контрольного образца материала Минимальный линейный размер элемента контрольного образца, различимый по изображению объекта или при помощи средств регистрации Отношение амплитуды ожепика определяемого элемента к междупиковому значению шума при заданных значениях энергии и тока первичного пучка электронов и постоянной времени тракта регистрации Минимально обнаружимое количество или концентрация элемента (вещества) в искусственном (контрольном) образце

Отношение линейного размера элемента изображения контрольного образца к размеру соответствующего элемента образца

Транспортная скорость углового перемещения блока детектирования

Качество измерений, отражающее близость друг к другу результатов измерений, выполняемых в одинаковых условиях

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 Справочное

ПРИМЕРЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕКОТОРЫХ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ

1. Показатели стандартизации и унификации

Для оценки уровня унификации изделий приборостроения устанавливают следующие показатели:

коэффициент применяемости по типоразмерам /С^р ; коэффициент применяемости по себестоимости К^ф ; коэффициент повторяемости /Сп.

1.1. Коэффициент применяемости по типоразмерам    (и. 8.1 табл. 1) в

процентах определяют по формуле

К

г

пр

П—По

п

•100,
О)

где п— общее количество типоразмеров составных частей изделия;

По— количество типоразмеров оригинальных составных частей изделия. Перечень типоразмеров соответствует спецификации сборочных единиц,

1.2.    Коэффициент применяемости по себестоимости К пР (и. 8.1 табл. 1) в процентах определяют по формуле

=njr-°-100,    (2)

где С — стоимость всех составных частей изделия, руб;

Со — стоимость оригинальных составных частей изделия, руб.

1.3.    Коэффициент повторяемости составных частей /Сп (п. 8.2 табл. 1) в процентах определяют по формуле

г, N Кп = —*100,

где N — общее количество составных частей изделия;

п — общее количество типоразмеров составных частей изделия.

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ

1.    РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством приборостроения, средств автоматизации и систем управления

ИСПОЛНИТЕЛИ

И. А. Брытов, д-р физ.-мат. наук; В. А. Карпушенко; Р. И. Плотников, канд. техн. наук (руководитель темы); В. К. Муха

2.    УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 30 сентября 1985 г. № 3195

3.    Срок проверки — 1990 г.

4.    ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

5.    ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ

Обозначение НТД, на коюрын дана ссылка

Номер пункта

ГОСТ 27.002—83

Пп. 2.1.1, 2.2.1 табл. 1

ГОСТ 27.003—83

Пп. 2.1.2, 2.2.2, 2.3.1 табл. 1

ГОСТ 16865—79

Пп. 1.2, 1.36, 1.37 табл. 1

ГОСТ 20337—74

П. 1.38 табл. 1

6. ПЕРЕИЗДАНИЕ (октябрь 1988 г.) с Изменением № 1, утвержденным в августе 1987 г. (ИУС 12—87)

Редактор В. С. Бабкина Технический редактор AT М. Герасименко Корректор С. И. Ковалева

Сдано в наб. 15.11.88 Подп. в печ. 23 01 89 1,75 уел. п. л. 1,75 уел. кр.-отт. 1,76 уч.-изд. л.

Тираж 4000 Цена Ю коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123840, Москва, ГСП,

Новопресненский пер., д. 3.

Вильнюсская типография Издательства стандартов, ул. Даряус и Гирено, 39. Зак. 3027.

Величина

Единица

Наименование

Обозначение

международное

русское

ОСНОВНЫ

Е ЕДИНИ1

1Ы СИ

Длина

метр

m

м

Масса

килограмм

kg

кг

Время

секунда

s

с

Сила электрического тока

ампер

А

А

Термодинамическая температура

кельвин

К

К

Количество вещества

моль

mol

моль

Сила света

кандела

cd

КД

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ЕД

[ИНИЦЫ СИ

Плоский угол

радиан

rad

рад

Телесный угол

стерадиан

sr

СР

ПРОИЗВОДНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ, ИМЕЮЩИЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ НАИМЕНОВАНИЯ

Единица

Выражение через основные и до

Величина

Обозначение

Наименова

ние

междуна

родное

русское

полнительные единицы СИ

Частота

герц

Hz

Гц

с-1

Сила

ньютон

N

Н

МКГС“2

Давление

паскаль

Ра

Па

М"1 • кге^2

Энергия

джоуль

J

Дж

М2‘КГ'С-а

Мощность

ватт

W

Вт

М^кг-С"*

Количество электричества

кулон

С

Кл

с* А

Электрическое напряжение

вольт

V

В

м2*кг*с~3 • А“*

Электрическая емкость

фарад

F

Ф

м^кг*-1 - с4-А*

Электрическое сопротивление

ом

а

Ом

мг*кГ'С"® * А"*

Электрическая проводимость

сименс

S

См

M-fycr^-c^A*

Поток магнитной индукции

вебер

Wb

Вб

м2 * кг- с“2 А~*

Магнитная индукция

тесла

т

Тл

кг*с~2' А“'

Индуктивность

генри

н

Гн

м2кгс“2 • А"“2

Световой поток

люмен

лм

кд • ср

Освеще н ность

люкс

лк

м-2 * КД • Ср

Активность радионуклида

беккерель

Bq

Бк

С“!

Поглощенная доза ионизирую

грэЙ

Gy

Гр

М2 ' с~2

щего излучения Эквивалентная доза излучения

зиверт

Sv

Зв

м2 • с-2