ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
ГОСТР
ИСО 21561-2—
2023
КАУЧУКИ БУТАДИЕН-СТИРОЛЬНЫЕ
Определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации
Часть 2
Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье
[ISO 21561-2:2016, Styrene-butadiene rubber (SBR) — Determination of the microstructure of solution-polymerized SBR — Part 2: FTIR with ATR method, IDT]
Издание официальное
Москва Российский институт стандартизации 2023
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 160 «Продукция нефтехимического комплекса» на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии стандарта, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 160 «Продукция нефтехимического комплекса»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 14 июля 2023 г. № 541-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО 21561-2:2016 «Бутадиенстирольный каучук (SBR). Определение микроструктуры SBR растворной полимеризации. Часть 2. Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье» [ISO 21561-2:2016 «Styrene-butadiene rubber (SBR) — Determination of the microstructure of solution-polymerized SBR — Part 2: FTIR with ATR method», IDT].
Стандарт разработан подкомитетом ПК 2 «Испытания и анализ» Технического комитета ТК 45 «Каучук и резиновые изделия» Международной организации по стандартизации (ИСО).
Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного международного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5—2012 (пункт 3.5).
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных международных стандартов соответствующие им межгосударственные стандарты, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)
© ISO, 2016 © Оформление. ФГБУ «Институт стандартизации», 2023
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
ГОСТ Р ИСО 21561-2—2023
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
КАУЧУКИ БУТАДИЕН-СТИРОЛЬНЫЕ
Определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации
Часть 2 Метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье
Styrene-butadiene rubbers. Determination of the microstructure of solution-polymerized styrene-butadiene rubbers. Part 2. Fourier transform infrared spectrometry with attenuated total reflection method
Дата введения — 2024—07—01
Предупреждение 1 — Пользователи настоящего стандарта должны быть знакомы с нормальной лабораторной практикой. В настоящем стандарте не предусмотрено рассмотрения всех вопросов обеспечения безопасности, связанных с его применением. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление безопасности и охраны здоровья, а также определяет целесообразность применения законодательных ограничений перед его использованием.
Предупреждение 2 — Некоторые процедуры, описанные в настоящем стандарте, могут включать использование или образование веществ, или образование отходов, которые могут представлять опасность для окружающей среды. Следует использовать документацию по безопасному обращению и утилизации данных веществ после использования.
1 Область применения
Настоящий стандарт устанавливает метод количественного определения микроструктуры бутадиеновой части и содержания стирольных звеньев в бутадиен-стирольных каучуках растворной полимеризации (S-SBR) с использованием ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения (ATR) с преобразованием Фурье (FTIR) (далее — FTIR ATR-спектрометрии). Содержание стирольных звеньев выражают в процентах по массе относительно всего полимера. Содержание винильных, транс-и цис-звеньев выражают в молярных процентах относительно бутадиена. Метод применим только для каучуков.
Примечание 1 — Прецизионность, приведенная в приложении А, не может быть достигнута для S-SBR с блок-сополимером полистирола или с содержанием стирольных звеньев более 45 % масс.
Примечание 2 — В настоящем стандарте используют термины «винильные звенья», «транс-звенья» и «цис-звенья». Однако общепринятые выражения «винил», «транс» и «цис» означают следующее:
- винил: винильное звено, винильная связь, 1,2-звено, 1,2-связь, 1,2-винильная группа или 1,2-винильная связь;
- транс: 1,4-транс-звено, 1,4-транс-связь, транс-1,4-звено или транс-1,4-связь;
- цис: 1,4-цис-звено, 1,4-цис-связь, цис-1,4-звено или цис-1 ,4-связь.
2 Нормативные ссылки
В настоящем стандарте использована нормативная ссылка на следующий стандарт [для датированных ссылок применяют только указанное издание ссылочного стандарта, для недатированных — последнее издание (включая все изменения)]:
Издание официальное
ISO 1795, Rubber, raw natural and raw synthetic — Sampling and further preparative procedures (Каучук натуральный и синтетический. Отбор проб и дальнейшие подготовительные процедуры)
3 Сущность метода
Измеряют ИК-спектр образца S-SBR с помощью FTIR ATR-спектрометрии. По специальным формулам определяют содержание стирольных звеньев и микроструктуры каждого компонента бутадиеновой части, используя оптические плотности, характерные для каждого компонента на определенных длинах волн.
4 Аппаратура
4.1 FTIR-спектрометр со следующими характеристиками:
- детектор: триглицинсульфат дейтерия (DTGS) или триглицинсульфат (TGS);
- количество сканов: 32;
- разрешение: 2 см-1;
- диапазон волновых чисел: от 600 до 1800 см-1.
4.2 Приставка ATR со следующими характеристиками:
- тип: однократное отражение ATR;
- кристалл: алмаз;
- угол падения: 45°;
- прижимное устройство для образца с вогнутым или плоским зажимом, способное поддерживать постоянное давление на образец. Рекомендуется использовать динамометрический ключ.
5 Калибровка
5.1 FTIR-спектрометр
Регулируют оптическую систему ИК-спектрометра в соответствии с инструкцией изготовителя.
5.2 Приставка ATR
Устанавливают приставку ATR в камере для образцов FTIR-спектрометра и регулируют оптическую систему приставки ATR в соответствии с инструкцией изготовителя.
6 Отбор проб
6.1 Готовят пробу по ИСО 1795.
Примечание — Экстракция обычных масел растворителем не требуется.
6.2 Отрезают испытуемый образец от пробы. Образец должен иметь плоскую поверхность, обеспечивающую хороший контакт с кристаллом приставки ATR, и иметь приблизительно такой же размер, как кристалл, обычно несколько квадратных миллиметров.
7 Измерение спектра ATR
7.1 Настраивают FTIR-спектрометр в соответствии с инструкцией изготовителя.
7.2 Устанавливают приставку ATR в камере для образцов FTIR-спектрометра.
7.3 Измеряют фоновый спектр при условиях по 4.1.
7.4 Помещают образец на кристалл ATR и максимально плотно прижимают его к поверхности кристалла, предпочтительно используя прижимное устройство, указанное в 4.2. Контакт между образцом и кристаллом влияет на значение оптической плотности спектра ATR.
7.5 Измеряют спектр образца при условиях по 4.1.
7.6 Во время измерений спектров фона и образцов атмосфера в камере для образцов FTIR-спектрометра должна поддерживаться постоянной, чтобы избежать влияния СО2 на поглощение при волновых числах 668 и 723 см-1.
8 Определение микроструктуры бутадиеновой части и содержания стирольных звеньев
8.1 Измерение оптической плотности для каждого компонента микроструктуры
Измеряют значения оптической плотности при волновых числах, соответствующих компонентам микроструктуры, как указано в таблице 1. Пики поглощения цис-звеньев являются слабыми и на положение пиков влияет содержание стирольных звеньев в полимере. Пример спектра ATR типичного S-SBR показан на рисунке 1.
Таблица 1 — Измерение оптической плотности для каждого компонента микроструктуры S-SBR
Обозначение оптической плотности | Компонент микроструктуры | Примечание |
АЮ | Стирол | Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 695 до 700 см-1 |
А20 | цис-звенья | На волновое число в этом максимуме пика влияет природа полимера, например содержание стирола. Когда максимум пика виден, измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 720 до 730 см-1. Если содержание стирольных звеньев более 30 %, пик цис-связи скрывается между двумя большими пиками стирола при 758 см-1 и примерно при 698 см-1. В этом случае измеряют оптическую плотность при 726 см-1 |
АЗО | Стирол | Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 755 до 761 см-1 |
А40 | Винильные звенья | Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 905 до 912 см-1 |
А50 | транс-звенья | Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 962 до 967 см-1 |
А60 | Винильные звенья | Измеряют оптическую плотность в максимуме пика в диапазоне от 991 до 996 см-1 |
А70 | Базовая линия | Измеряют оптическую плотность при 1200 см-1 как нулевую точку каждого значения оптической плотности |
8.2 Вычисление микроструктуры
8.2.1 Общие положенияВычисляют микроструктуру S-SBR по формулам регрессии и измеренным значениям оптической плотности спектров ATR каждого образца. Формулы регрессии получены по результатам статистического анализа спектров ATR различных образцов S-SBR с известной микроструктурой. После корректировки базовой линии спектров ATR получают значения коэффициента поглощения соответствующих оптических плотностей в качестве параметра для вычисления микроструктуры. Микроструктуру вычисляют путем подстановки значений этого параметра в формулы регрессии.
8.2.2 Корректировка базовой линии каждого пика поглощения
Вычисляют поглощение каждого пика А11—А61 со скорректированной базовой линией по формулам (1)—(6):
А11 = А10-А70;
А21=А20-А70;
А31=А30-А70;
А41=А40-А70;
А51=А50-А70;
А61 = А60-А70.
(6)
8.2.3 Коэффициент поглощения
Вычисляют коэффициенты поглощения А12—А62 по формулам (7)—(12):
А12 =-----------—-----------;
А11 - А21 + А31 + А41 + А51 + А61
(7)
А22 =----------—----------;
А11 + А21 + А31 + А41 + А51 + А61
(8)
Д32 —А31.
А11 + А21 + А31 + А41 + А51 + А61 ’
(9)
ЛИО А41
А 42 —--------------------------------;
А11 + А21 + А31 + А41 + А51 + А61
(Ю)
А62 =
А51
А11 + А21 + А31 + А41 + А51 + А61 ’
(11)
А61
А11 + А21 + А31 + А41 + А51 + А61
(12)
8.2.4 Члены второго порядка
Вычисляют члены второго порядка как квадраты коэффициентов поглощения А12—А62.
8.2.5 Вычисление содержания стирольных звеньев и микроструктуры в процентах по массе по формулам регрессии
Вычисляют содержание каждого компонента микроструктуры S-SBR по формулам регрессии (13)—(16):
Sm = 9,0 + 12,9 ■ А12 + 25,9 • А122- 111,2 • А22 + 412,5 • А222 + 105,0 • А32 + 891,9 • А322 -
- 0,5 • А42 - 21,5 • А422 - 30,7 • А52 + 28,9 • А522 + 24,5 • А62 - 47,2 • А622;
Ут = 32,9 + 5,3 А12-12.9 -А122- 183,6 ■ А22 + 1168,4 • А222 + 13,2 • А32 - 572,5 • А322 +
+ 33,7 • А42 + 3,5 • А422 - 90,5 • А52 + 33,5 • А522 + 129,6 • А62 + 168,9 • А622,
Тт = 42,5-16,3 • А12 - 18,8 ■ А122 + 61,4 А22- 1368,2 -А222-65,1 • А32 -
- 127,7 • А322 - 19,6 • А42 + 14,9 • А422 + 93,3 • А52 - 13,9 • А522 - 129,8 • А62 - 116,6 • А622; (15)
Ст= 15,6-1,9 ■ А12 + 5,8 -А122 + 233,5 -А22-212,6 -А222-53,1 А32-191,7 • А322-
- 13,6 • А42 + 3,1 • А422 + 27,9 • А52 - 48,5 • А522 - 24,3 • А62 - 5,1 • А622,
где Sm — содержание стирольных звеньев в S-SBR, % масс.;
\/т — содержание винильных звеньев в S-SBR, % масс.;
Тт — содержание транс-звеньев в S-SBR, % масс.;
Ст — содержание цис-звеньев в S-SBR, % масс.
8.2.6 Вычисление микроструктуры в молярных процентах
Вычисляют содержание каждого компонента микроструктуры бутадиеновой части S-SBR по формулам (17)—(19):
V =----
(17)
(18)
(19)
Чп + An + ст
Т =-----
Цп + 7т + Ст
с =----
Чп + 7т + Ст
где V — содержание винильных звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол.;
Т — содержание транс-звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол.;
С — содержание цис-звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол.
9 Прецизионность
Прецизионность метода приведена в приложении А.
10 Протокол испытаний
Протокол испытаний должен содержать:
а) описание образца:
1) полную идентификацию образца и его происхождения;
2) способ приготовления испытуемого образца из пробы, при необходимости;
Ь) обозначение настоящего стандарта;
с) сведения об отклонениях от указанной процедуры;
d) результаты испытания:
1) количество использованных образцов;
2) результаты определений, выраженные в процентах и округленные до первого десятичного знака;
е) дату проведения испытаний.
Приложение А (справочное)
Прецизионность, установленная по результатам программы межлабораторных испытаний
А.1 Общие положения
Программа межлабораторных испытаний (ITP) была проведена в 2014 г.
Все расчеты для повторяемости и воспроизводимости выполнены в соответствии с ISO/TR 9272 [2]. Термины и номенклатура прецизионности также приведены в ISO/TR 9272.
А.2 Прецизионность, установленная по результатам программы межлабораторных испытаний
А.2.1 Детали программы
ITP организована и проведена в Японии в 2014 г. Испытуемые образцы были подготовлены в одной лаборатории и отправлены 16 лабораториям-участникам.
В программе использовали два типа S-SBR каучука, обозначенные S-33 и S-34.
Количество лабораторий, которые представили данные прецизионности для каждого свойства, указано в таблицах А.1—А.4. Количество участвующих лабораторий в этих таблицах является окончательным после исключения значений определенных лабораторий как выбросов.
ITP проводили последовательно в 2 нед. В одну из 2 нед. в течение дня определяли фон и испытывали каждый тип каучука (л = 1 х 2). Через неделю повторяли холостой опыт и определения (л = 1 х 2). Затем анализировали полученные результаты испытаний.
А.2.2 Результаты определения прецизионности
Результаты прецизионности приведены в таблицах А.1—А.4.
Повторяемость г метода установлена как соответствующее значение, приведенное в таблицах А.1—А.4. Два отдельных результата испытания, расхождение между которыми превышает указанное значение, считают сомнительными и требующими принятия корректирующих действий.
Воспроизводимость R метода установлена как соответствующее значение, приведенное в таблицах А.1—А.4. Два отдельных результата испытания, расхождение между которыми превышает указанное значение, считают сомнительными и требующими принятия корректирующих действий.
Показатели прецизионности не следует использовать для принятия или отклонения какой-либо группы материалов без документального свидетельства о том, что они применимы к конкретной группе материалов и конкретным протоколам испытаний.
В таблицах А.1—А.4 использованы следующие обозначения:
sr— внутрилабораторное стандартное отклонение, единицы измерения;
г— повторяемость, единицы измерения;
(г) — повторяемость, проценты от среднего значения;
sR — межлабораторное стандартное отклонение, единицы измерения;
R — воспроизводимость, единицы измерения;
(R) — воспроизводимость, проценты от среднего значения.
Таблица А.1 — Прецизионность определения содержания стирольных звеньев в S-SBR
Образец | Среднее значение, % | sr | г | (г) | SR | R | (R) | Число лабораторий3 |
S-33 | 24,8 | 0,80 | 0,65 | 2,61 | 0,64 | 1,80 | 7,27 | 14 |
S-34 | 34,5 | 0,12 | 0,35 | 1,00 | 0,60 | 1,69 | 4,91 | 15 |
а Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий). |
Таблица А.2 — Прецизионность определения содержания винильных звеньев в S-SBR
Образец | Среднее значение, % | sr | г | (г) | SR | R | (R) | Число лабораторий3 |
S-33 | 61,1 | 0,35 | 1,00 | 1,64 | 0,80 | 2,25 | 3,69 | 14 |
S-34 | 42,3 | 0,20 | 0,55 | 1,31 | 0,81 | 2,30 | 5,44 | 15 |
а Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий). |
Таблица А.З — Прецизионность определения содержания транс-звеньев в S-SBR
Образец | Среднее значение, % | sr | г | (г) | SR | R | (R) | Число лабораторий3 |
S-33 | 21,9 | 0,16 | 0,45 | 2,07 | 0,26 | 0,73 | 3,35 | 12 |
S-34 | 33,8 | 0,14 | 0,38 | 1,13 | 0,47 | 1,34 | 3,97 | 12 |
а Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий). |
Таблица А.4 — Прецизионность определения содержания цнс-звеньев в S-SBR
Образец | Среднее значение, % | sr | г | (г) | SR | R | (R) | Число лабораторий3 |
S-33 | 17,0 | 0,21 | 0,58 | 3,43 | 0,74 | 2,10 | 12,38 | 13 |
S-34 | 23,5 | 0,24 | 0,69 | 2,95 | 0,95 | 2,69 | 11,45 | 13 |
а Количество лабораторий после удаления выбросов (в ITP участвовали 16 лабораторий). |
Приложение В (справочное)
Выведение формул регрессии для определения микроструктуры
В.1 Формулы регрессии для определения микроструктуры каучука получены методами частных наименьших квадратов (PLS).
В.2 Анализировали 19 образцов S-SBR с известной микроструктурой, показанной в таблице В.1, с использованием 1Н-ЯМР- и 13С-ЯМР-спектрометрии. Содержание стирольных, винильных, транс- и цис-звеньев определяли в соответствии с приложением С. Испытания проводили в трех лабораториях, результаты усреднены. Значения, полученные методом ЯМР-спектрометрии, использовали в качестве зависимых переменных в регрессионном анализе методом PLS.
Таблица В.1 — Микроструктура образцов, использованных для регрессионного анализа методом PLS
Образец | Содержание стирольных звеньев в S-SBR, % масс. | Содержание винильных звеньев в бутадиеновой части, % мол. | Содержание транс-звеньев в бутадиеновой части, % мол. | Содержание цис-звеньев в бутадиеновой части, % мол. |
R-01 | 18,1 | 10,2 | 52,2 | 37,6 |
R-02 | 25,7 | 10,3 | 53,8 | 35,9 |
R-03 | 20,7 | 62,8 | 21,4 | 15,7 |
R-04 | 4,8 | 20,1 | 46,4 | 33,5 |
R-05 | 23,2 | 32,6 | 42,2 | 25,2 |
R-06 | 13,4 | 48,1 | 30,9 | 21,0 |
R-07 | 0,0 | 10,6 | 51,9 | 37,5 |
R-08 | 24,8 | 34,5 | 39,7 | 25,8 |
R-09 | 41,4 | 46,1 | 31,2 | 22,7 |
R-10 | 34,7 | 56,4 | 24,0 | 19,5 |
R-11 | 36,3 | 41,3 | 33,9 | 24,8 |
R-12 | 41,9 | 34,5 | 39,8 | 25,7 |
R-13 | 26,2 | 9,9 | 53,7 | 36,4 |
R-14 | 0,0 | 55,9 | 24,6 | 19,5 |
R-15 | 0,0 | 70,5 | 16,7 | 12,8 |
R-16 | 8,6 | 37,3 | 37,8 | 24,9 |
R-17 | 4,9 | 77,2 | 12,5 | 10,4 |
R-18 | 25,5 | 49,2 | 29,2 | 21,7 |
R-19 | 29,7 | 30,0 | 44,6 | 25,4 |
Примечани е— Значения микроструктуры получены с использованием 1Н-ЯМР-и 13С-ЯМР-спектрометрии. |
В.З Измеряли спектры ATR образцов в соответствии с разделом 7. Измерения проводили в семи лабораториях по одному разу.
В.4 Измеренные значения оптической плотности спектров ATR преобразовали в коэффициенты поглощения по 8.1—8.2.3.
В.5 Вычисляли члены второго порядка как квадраты значений А12—А62. Значения А12—А62 и их квадраты использовали в качестве независимых переменных в регрессионном анализе методом PLS (см. 8.2.4).
В.6 Формулы регрессии (13)—(16) для определения микроструктуры, приведенные в разделе 8, были получены следующим образом:
а) применяли готовое программное обеспечение для регрессии методом PLS (JMP®1> от SAS Institute Inc.).
b) значения содержания стирольных, винильных, транс- и цис-звеньев 19 образцов, полученные методами ЯМР по В.2, использовали в качестве зависимых переменных в методе PLS.
с) значения, полученные из оптических плотностей ATR спектров соответствующими лабораториями по В.5, использовали в качестве независимых переменных в методе PLS;
d) коэффициенты, полученные с помощью регрессионного анализа методом PLS, соответствуют коэффициентам в формулах (13)—(16) для содержания стирольных, винильных, транс- и цис-звеньев (см. 8.2.5).
Пример подходящего программного обеспечения, доступного на рынке. Эта информация предоставлена для удобства пользователей настоящего стандарта и не является одобрением ИСО данного программного обеспечения.
Приложение С (справочное)
Определение микроструктуры методом ЯМР-спектрометрии
С.1 Общие положения
Содержание стирольных звеньев и микроструктуры бутадиеновой части для 19 образцов каучука, использованных для выведения формул регрессии, определяли с использованием 1Н-ЯМР-спектрометрии и 13С-ЯМР-спектрометрии.
С.2 Определение содержания стирольных, винильных звеньев и суммы транс- и цис-звеньев в S-SBR с использованием 1Н-ЯМР-спектрометрии
Содержание стирольных, винильных звеньев и суммы транс- и цис-звеньев определяли с использованием 1Н-ЯМР-спектрометрии в соответствии с ИСО 21561-1:2015, подраздел 3.6 [1]. Дополнительно использовали следующие формулы:
J100-Sm)V. m V + G
(С.1)
(С.2)
G = 100 - Sm - Vm, m m пт
где \/m — содержание винильных звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % масс.;
Sm — содержание стирольных звеньев в S-SBR, % масс.;
V — содержание винильных звеньев в бутадиеновой части S-SBR, мол. %;
G — содержание транс- и цис-звеньев в бутадиеновой части S-SBR, % мол;
Gm — суммарное содержание транс- и цис-звеньев в S-SBR, мае. %.
С.З Определение транс- и цис-звеньев с использованием 13С-ЯМР-спектрометрии
С.3.1 Условия измерения спектров 13С-ЯМР
Измеряли спектры 13С-ЯМР с помощью ЯМР-спектрометра с рабочей частотой 400 МГц и двух ЯМР-спектрометров с рабочей частотой 500 МГц при следующих условиях:
- растворитель: CDCI3, содержащий 0,03 % тетраметилсилана (TMS) в качестве внутреннего стандарта; чистота CDCI3 не менее 99,8 %;
- концентрация образца: 50 мг/мл;
- режим: полная развязка 1Н.
Примечание —Для количественного анализа методом 13С-ЯМР-спектрометрии в основном используют «обратную прерываемую развязку». Однако в данном анализе использована «полная развязка 1Н», которая является распространенным методом качественного анализа. Причина применения полной развязки 1Н заключалась в том, что в отношении пиков 13С-ЯМР как для транс-метиленовых, так и для цис-метиленовых атомов углерода, использовавшихся для количественного анализа, различие по ядерному эффекту Оверхаузера (NOE) считали небольшим, поскольку эти метиленовые атомы углерода магнитно-эквивалентные. Фактически значения, полученные методом полной развязки 1Н, сопоставимы со значениями, полученными с использованием метода обратной прерываемой развязки, как показано в таблице С.1;
- температура измерения: комнатная температура;
- количество точек данных: 32 000;
- смещение: 100 ppm;
- ширина развертки: 250 ppm;
- ширина импульса: 30°;
- время повторения: 3 с;
- количество сканирований: 5000 раз;
- количество холостых сканирований: 4 раза;
- скорость вращения: 15 Гц;
- регулировка резонанса эталонного пика до 0,00 ppm для TMS.
Таблица С.1 — Сравнение значений содержания транс- и цис-звеньев, полученных с использованием различных режимов определения
Содержание компонента микроструктуры, % мол. | Обратная прерываемая развязка (обычно применяют для количественного анализа) | Полная развязка 1Н (обычно применяют для качественного анализа) |
транс-звенья | 63,2 | 62,4 |
цис-звенья | 36,8 | 37,6 |
С.3.2 Анализ спектра 13С-ЯМР
Области сигналов спектра 13С-ЯМР приведены в таблице С.2.
На рисунке С.1 приведен пример спектра 13С-ЯМР, показывающий области от Na до A/f.
Для определения содержания транс- и цис-звеньев получены интегральные значения площадей от Na до A/f.
Таблица С.2 — Определение областей интеграции сигналов
Область | Диапазон интеграции сигнала |
Na | От точки минимальной интенсивности примерно 24,7 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 25,6 ppm |
% | От точки минимальной интенсивности примерно 27,1 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 27,7 ppm |
Nc | От точки минимальной интенсивности примерно 29,8 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 30,7 ppm |
Nd | От точки минимальной интенсивности примерно 32,4 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 33,0 ppm |
Ne | От точки минимальной интенсивности примерно 33,8 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 34,2 ppm |
Л/f | Отточки минимальной интенсивности примерно 38,05 ppm до точки минимальной интенсивности примерно 38,35 ppm |
X — сдвиг, ppm; Na—Nf — области интеграции сигналов Рисунок С.1 — Пример спектра 13С ЯМР S-SBR
С.3.3 Определение содержания транс- и цис-звеньев
Используя значения площадей пиков от Л/а до A/f, полученные по С.2.2, и значение Gm, вычисленное по формуле (С.2), вычисляют содержание транс- и цис-звеньев в S-SBR по следующим формулам:
Л/с +
^d-^e+A/f
Тт ~ Nh
Na+^- + Nc +
2____________,r .
Nd-Ne+Nf m’
2
(С.З)
_________________a 2
(C.4)
.. Л/к .. Na — Ne + Nt Na+ — + Nc+ —3--
a 2 ~
где Tm — содержание транс-звеньев в S-SBR, % масс.;
Gm — сумма значений содержания транс- и цис-звеньев в S-SBR, полученная по формуле (С.2), % масс.
Ст — содержание цис-звеньев в S-SBR, % масс.
Приложение ДА (справочное)
Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов межгосударственным стандартам
Таблица ДА.1
Обозначение ссылочного международного стандарта | Степень соответствия | Обозначение и наименование соответствующего межгосударственного стандарта |
ISO 1795 | IDT | ГОСТ ISO 1795—2020 «Каучук натуральный и синтетический. Отбор проб и дальнейшие подготовительные процедуры» |
Примечание — В настоящей таблице использовано следующее условное обозначение степени соответствия стандарта: - IDT — идентичный стандарт. |
Библиография | |
[1] ISO 21561-1:2015 | Styrene-butadiene rubber (SBR) — Determination of the microstructure of solution-polymerized SBR — Part 1: 1H-NMR and IR with cast-film method [Бутадиен-стирольный каучук (SBR). Определение микроструктуры SBR растворной полимеризации. Часть 1. Методы протонного магнитного резонанса и ИК-спектрометрии с использованием литой пленки] |
[2] ISO/TR 9272:20051) | Rubber and rubber products — Determination of precision for test method standards (Каучук и резиновые изделия. Определение прецизионности стандартных методов испытаний) |
УДК 678.766.2:678.012.4:006.354 | ОКС 83.060 |
Ключевые слова: каучуки бутадиен-стирольные, определение микроструктуры бутадиен-стирольных каучуков растворной полимеризации, метод ИК-спектрометрии нарушенного полного внутреннего отражения с преобразованием Фурье
Редактор Л.С. Зимилова
Технический редактор И.Е. Черепкова
Корректор И.А. Королева
Компьютерная верстка А.Н. Золотаревой
Сдано в набор 18.07.2023. Подписано в печать 24.07.2023. Формат 60x84%. Гарнитура Ариал.
Усл. печ. л. 2,33. Уч.-изд. л. 1,90.
Подготовлено на основе электронной версии, предоставленной разработчиком стандарта
Создано в единичном исполнении в ФГБУ «Институт стандартизации» , 117418 Москва, Нахимовский пр-т, д. 31, к. 2.
1
> Действует ISO 19983:2022, Rubber— Determination of precision of test methods (Резина. Определение прецизионности методов испытаний).