ГОСТ Р ИСО 24497-1-2009 Контроль неразрушающий. Метод магнитной памяти металла. Часть 1. Термины и определения

2.1 магнитная память металла; МПМ: Последействие, которое проявляется в виде остаточной намагниченности металла изделий и сварных соединений, сформировавшейся в процессе их изготовления и охлаждения в слабом магнитном поле, или в виде необратимого изменения намагниченности изделий в зонах концентрации напряжений и повреждений от рабочих нагрузок.

Примечание - Слабое магнитное поле - геомагнитное поле Земли и другие внешние поля в области Рэлея.

en Metal magnetic memory

2.2 собственное магнитное поле рассеяния изделия; СМПР: Магнитное поле рассеяния, возникающее на поверхности изделия в зонах устойчивых полос скольжения дислокаций под действием рабочих или остаточных напряжений или в зонах максимальной неоднородности структуры металла.

Примечание - СМПР характеризует МПМ.

en Self-magnetic-leakage field of the components

2.3 метод магнитной памяти металла; метод МПМ: Метод неразрушающего контроля, основанный на анализе распределения СМПР на поверхности изделий для определения зон концентрации напряжений, дефектов и неоднородности структур металла и сварных соединений.

en Method of metal magnetic memory

2.4 магнитодислокационный гистерезис: Петля гистерезиса, обусловленная закреплением стенок магнитных доменов (стенок Блоха) на скоплениях дислокаций в слабом магнитном поле.

en Magneto-dislocation hysteresis

2.5 критический размер локальных зон нарушения устойчивости оболочки изделия : Минимальное расстояние между двумя ближайшими устойчивыми полосами скольжения дислокаций в слоях материала, возникающее в момент потери устойчивости оболочки изделия под действием нагрузок.

Примечание - Критический размер оболочки на поверхности изделия характеризуется расстоянием между двумя ближайшими экстремальными значениями СМПР, кратными типоразмеру оболочки.

en Critical size of the local zones of instability of the shell of a component

2.6 напряженность СМПР: Числовая характеристика напряженности магнитного поля рассеяния, измеренной на поверхности изделия по методу магнитной памяти металла.

en SMLF intensity

2.7 градиент СМПР: Отношение модуля разности напряженности магнитного поля рассеяния, измеренной в двух точках контроля, к расстоянию между ними.

en SMLF gradient

2.8 магнитный показатель деформационной способности металла : Отношение максимального значения градиента СМПР к среднему значению.

en Magnetic index of the deformation capability of the metal

2.9 предельный магнитный показатель деформационной способности металла : Отношение максимального значения градиента СМПР, соответствующего пределу прочности металла, к среднему значению градиента СМПР, соответствующему пределу текучести металла.

en Limiting value of the magnetic index of the metal deformation capability

2.10 канал измерений СМПР: Напряженность СМПР, измеренная одним феррозондовым преобразователем.

en SMLF measurement channel

2.11 базовое расстояние между двумя каналами измерений СМПР : Расстояние между двумя каналами измерений СМПР, устанавливаемое при настройке датчика.

en Base distance between two SMLF measurement channels

2.12 диаграмма СМПР: Графическое изображение распределения СМПР и его градиента вдоль контролируемого участка.

en SMLF diagram

2.13 дискретность записи напряженности СМПР: Расстояние между двумя соседними точками измерений напряженности магнитного поля рассеяния.

en Discreteness unit of the SMLF intensity recording

2.14 калибровка аппаратуры, применяемой для измерений магнитной памяти металла: Настройка датчиков измерения магнитного поля рассеяния с использованием эталонной катушки и устройства, чувствительного к изменению пространственного положения, с использованием эталонного образца для измерения длины.

en Calibration of the equipment used to measure the metal magnetic memory

2.15 установка режима работы аппаратуры по методу МПМ: Настройка аппаратуры, описанная в руководстве по эксплуатации, в соответствии с главным меню прибора.

en Setting of equipment operational mode by the МММ method

2.16 помехи при измерениях по методу МПМ: Наличие факторов, искажающих СМПР объекта контроля.

en Interference noise during measurements by the МММ method

Примечание - Факторы, искажающие СМПР объекта контроля:

- источники сильного и неоднородного магнитного поля вблизи объекта контроля;

- наличие постороннего ферромагнитного изделия на объекте контроля или вблизи зоны контроля;

- наличие внешнего магнитного поля и поля от электросварки на объекте контроля;

- наличие локальной искусственной намагниченности металла.

гистерезис магнитодислокационный

2.4

градиент СМПР

2.7

диаграмма СМПР

2.12

дискретность записи напряженности СМПР

2.13

калибровка аппаратуры, применяемой для измерений магнитной памяти металла

2.14

канал измерений СМПР

2.10

метод магнитной памяти металла

2.3

метод МПМ

2.3

МПМ

2.3

напряженность СМПР

2.6

память металла магнитная

2.1

показатель деформационной способности металла магнитный

2.8

показатель деформационной способности металла магнитный предельный

2.9

поле рассеяния изделия магнитное собственное

2.2

помехи при измерениях по методу МПМ

2.16

размер локальных зон нарушения устойчивости оболочки изделия критический

2.5

расстояние между двумя каналами измерений СМПР базовое

2.11

СМПР

2.2

установка режима работы аппаратуры по методу МПМ

2.15

base distance between the two SMLF measurement channels

2.11

calibration of the equipment used to measure the metal magnetic memory

2.14

critical size of the local zones of instability of the shell of a component

2.5

discreteness unit of the SMLF intensity recording

2.13

interference noise during measurements by the МММ method

2.16

limiting value of the magnetic index of the metal deformation capability

2.9

magnetic index of the deformation capability of the metal

2.8

magneto-dislocation hysteresis

2.4

metal magnetic memory

2.1

method of metal magnetic memory

2.3

self-magnetic-leakage field of the components

2.2

setting of equipment operational mode by the МММ method

2.15

SMLF diagram

2.12

SMLF gradient

2.7

SMLF intensity

2.6

SMLF measurement channel

2.10