allgosts.ru31. ЭЛЕКТРОНИКА31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника

ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции

Обозначение:
ГОСТ 24613.8-83
Наименование:
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Статус:
Действует
Дата введения:
06/30/1984
Дата отмены:
-
Заменен на:
-
Код ОКС:
31.200

Текст ГОСТ 24613.8-83 Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции



Цена 3 коп.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ И ОПТОПАРЫ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ СКОРОСТИ ИЗМЕНЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ИЗОЛЯЦИИ

ГОСТ 24613.8-83

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Мо сила

УДК 621.3.049.77.083:006.354    Группа Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ

И ОПТОПАРЫ

Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции

Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage

ОКП 62 3000

гост

24613.8-83

Взамен

ГОСТ 22440.4—77

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 21 июня 1983 г. № 2607 срок действия установлен

с 01.07.84 до 01.07.89

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов (далее — приборы), и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.

Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора.

Общие условия при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 24613.0—81.

1. ПРЯМОЙ МЕТОД

1.1. Принцип и условия измерения

1.1.1.    Критическая скорость изменения напряжения изоляции — скорость, при которой еще не происходит срабатывание прибо-ра.

1.1.2.    Температурный режим, значения постоянных напряжений, амплитуда и длительность фронта импульса напряжения изоляции должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях.

Издание официальное ★

Перепечатка воспрещена

© Издательство стандартов, 1983

1.2. Аппаратура

1.2.1.    Измерения следует проводить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.

1.2.2.    Генератор входного сигнала G1 должен обеспечивать задание и поддержание на входе проверяемого прибора входного

сигнала постоянного тока или напряжения, значение уровня которого должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов. Погрешность задания входного сигнала должна быть в пределах ±5 %.

1.2,3. Генератор импульсного напряжения G2 должен обеспечивать задание линейно-нарастакицего или экспоненциально-на-растающего напряжения, значение которого должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов. Погрешность задания и поддержания амплитуды напряжения и задания фронта импульса, определяемого на уровнях 0,1 и 0,9, должна быть в пределах ±10%.

1.2.4.    Измеритель выходного сигнала PV должен обеспечивать измерение уровней выходного сигнала с погрешностью в пределах ±5% и иметь входное сопротивление RBX , отвечающее условию #вх>20ЯВЫх> где /?вых — выходное сопротивление проверяемого прибора.

п р имечание Измеритель PV допускается заменить устройством регистрации низкого и высокого уровня с теми же требованиями к погрешности и выходному сопротивлению

1.2.5.    Источник постоянного напряжения G3 должен обеспечивать задание напряжения питания проверяемого прибора в соответствии с требованиями, установленными в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов. Погрешность задания и поддержания напряжения питания должна быть в пределах ±3%.

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1.    К измерительной установке подключают проверяемый прибор.

1.3.2.    Устанавливают заданные значения: напряжения питания от источника G3, входного сигнала от генератора G1 и амплитуды импульса напряжения изоляции от генератора G2.

1.3.3.    Уменьшая длительность фронта входного импульса от

G1 — генератор входного сигнала, D — провс ряемыи прибор, G2 — генератор импульсного напряжения, PV—измеритель выходного сиг нала G3 — источник постоянного напряжения

Черт I

генератора G2, добиваются экстремального значения длительности фронта, при котором не происходит срабатывание проверяемого прибора.

1.4. Обработка результатов измерения

1.4.1. Критическую скорость изменения напряжения изоляции

где £/амп — амплитуда импульса напряжения изоляции;

Тф — длительность фронта импульса напряжения изоляции;

К — коэффициент, учитывающий форму импульса напряжения изоляции и равный /С==0,8 — для линейно-нарастающего импульса, 2,2 — для экспоненциально-нарастающего импульса.

1.5. Показатели точности измерений

1.5.1.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью 0,997.

1.5.2.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции 6i определяют по формуле

где б и — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания напряжения режима измерения на проверяемом приборе, %;

бм — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания амплитуды импульса на входе проверяемого прибора, %;

бТф — составляющая погрешности, обусловленная неточностью измерения длительности фронта, %.

2.1.    Принцип и условия измерения

2.1.1.    Критическую скорость изменения напряжения изоля\щи определяют на основе результатов измерения проходной емкости С „р и порогового входного тока /пор микросхемы.

2.1.2.    Пороговый входной ток измеряют на входе встроенной микросхемы.

2.1.3.    Температурный режим и значения напряжений должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на приборы конкретных типов.

кр

определяют по формуле

б,= ± К(8у)2 3+(8м)а+(8тфр .

2. КОСВЕННЫЙ метод

на

на

\РА

D

-@-i

2.2. Аппаратура

2.2.1. Измерения порогового входного тока следует проводить установке, электрическая структурная схема которой приведена черт. 2.

2.2.2.    Регулируемый источник постоянного напряжения G должен иметь пределы регулировки в соответствии с

_    _ требованиями для низкого и высокого

_L    уровня, установленными в стандартах

или технических условиях на приборы конкретных типов.

2.2.3.    Измеритель тока РА должен обеспечивать измерение входного тока с погрешностью в пределах ±3%.

2.2.4.    Измеритель постоянного напряжения PV должен соответствовать требованиям п. 1.2.4.

и проведение измерений

G — регулируемый источник постоянного    напряжения,

РА — измеритель тока, D — проверяемый прибор; Ру — измеритель постоянного напряжения

Черт. 2

"2.3. Подготовка

2.3.1.    Измеряют проходную емкость по ГОСТ 24613.1—81.

2.3.2.    Измеряют пороговый ток. Для этого проверяемый прибор подключают к измерительной установке, приведенной на черт. 2, и устанавливают значения напряжения питания микросхемы, указанные в стандартах или технических условиях на прибо

ры конкретных типов.

2.3.3. От источника G подают напряжение, увеличивая его до

максимального значения, при котором не происходит срабатывание прибора D. Значение тока /пор регистрируют по измерителю

РА.

2.4. ' dU ' dt

Значение критической скорости изменения изоляции определяют по формуле

кр

напряжения

ddJ 1    ___Лтор

_ dt JKp    С пр

где 7пор — пороговый входной ток микросхемы, А;

Спр — проходная емкость, Ф.

2.5. Показатели точности измерений

2.5.1.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции должна быть в пределах ±15% с доверительной вероятностью 0,997.

2.5.2.    Погрешность измерения критической скорости изменения напряжения изоляции 62 определяют по формуле

82 = ± К(8</)2+(8. )2+(Зс)2,

где б(у — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания напряжения;

б 1 — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности задания тока на входе проверяемого прибора, %;

б с — составляющая погрешности, обусловленная влиянием неточности измерения проходной емкости, %.

Редактор Е. И. Глазкова Технический редактор Л. Я. Митрофанова Корректор А. Г* Старостин

Сдано в наб. 23.06.83 Подп. в псч. 09 09.83 0,Э гг. л. 0,27 уч.-изд. л. Тир. 10000 Цена 3 коп.

Ордена «Знак Почета» Издательство стандартов, 123557, Москва, Новопресненский пер., 3. Калужская типография стандартов, ул. Московская, 256. Зак. 1915