allgosts.ru31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника31 ЭЛЕКТРОНИКА

ГОСТ Р 71068-2023 Микросхемы интегральные микропроцессорные. Система параметров

Обозначение:
ГОСТ Р 71068-2023
Наименование:
Микросхемы интегральные микропроцессорные. Система параметров
Статус:
Действует
Дата введения:
01.03.2024
Дата отмены:
-
Заменен на:
-
Код ОКС:
31.200

Текст ГОСТ Р 71068-2023 Микросхемы интегральные микропроцессорные. Система параметров

        ГОСТ Р 71068-2023


НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ


МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОПРОЦЕССОРНЫЕ


Система параметров


Integrated microprocessor circuit. Parameters system

ОКС 31.200

Дата введения 2024-03-01


Предисловие


1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом "Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" (АО "РНИИ "Электронстандарт")

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 "Электронная компонентная база, материалы и оборудование"

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 30 октября 2023 г. N 1302-ст

4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. N 162-ФЗ "О стандартизации в Российской Федерации". Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе "Национальные стандарты", а официальный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты". В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты". Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)


1 Область применения

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микропроцессорные микросхемы и устанавливает состав параметров и типовых характеристик интегральных микропроцессорных микросхем (далее - микросхемы), подлежащих включению в технические условия (ТУ) или стандарты на микросхемы конкретных типов при их разработке или пересмотре.

Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов.

Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации микросхем в соответствии с действующим законодательством.


2 Нормативные ссылки

В настоящем стандарте использована нормативная ссылка на следующий стандарт:

ГОСТ Р 57441 Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров

Примечание - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылочных стандартов в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указателю "Национальные стандарты", который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам ежемесячного информационного указателя "Национальные стандарты" за текущий год. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом утверждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.


3 Термины, определения и сокращения

3.1 В настоящем стандарте применены термины по ГОСТ Р 57441, а также следующие термины с соответствующими определениями:

3.1.1
ток нагрузки
(
):
Значение тока, протекающего в цепи нагрузки интегральной микросхемы.
3.1.2
время умножения
(
):
Интервал времени между входными импульсами и результатом умножения на выходе микросхемы, измеренный на уровне 0,5 или на заданных значениях напряжения.

3.2 В настоящем стандарте применены следующие сокращения:

АЛУ - арифметико-логическое устройство;

- интегрально-инжекционная логика (структура);

МДП - металл-диэлектрик-полупроводник (структура);

ОЗУ - оперативное запоминающее устройство;

ПЗУ - постоянное запоминающее устройство;

ЭСЛ - эмиттерно-связанная логика (структура).


4 Система параметров

4.1 Состав параметров микросхем и способ задания норм приведены в таблице 1.

Таблица 1


Наименование параметра

Буквенное обозначение параметра

Пара-

метры,

Способ задания

Приме-

чание

русское

между-

народное

подле-

жащие обяза-

тель-

ному вклю-

чению в ТУ

нормы

1 Параметры микросхем

1.1 Выходное напряжение

-

ОП, Р

-

1.2 Выходное напряжение низкого уровня

+

ОП

-

1.3 Выходное напряжение высокого уровня

+

ОП

-

1.4 Выходное пороговое напряжение низкого уровня

+

ОП, Р

Для ЭСЛ-

микросхем

1.5 Выходное пороговое напряжение высокого уровня

+

ОП, Р

То же

1.6 Напряжение инжектора

+

ОП, Р

Для И2Л-

микросхем

1.7 Прямое падение напряжения на антизвонном диоде

-

ОП

-

1.8 Помехоустойчивость при низком уровне

-

ОП

-

1.9 Помехоустойчивость при высоком уровне

-

ОП

-

1.10 Отрицательное напряжение на выходе при заданном токе

-

ОП

-

1.11 Ток потребления

+

ОП

-

1.12 Ток потребления динамический

-

ОП

-

1.13 Ток потребления в состоянии "Выключено"

-

ОП

Для микросхем с тремя состоя-

ниями

1.14 Входной ток

-

ОП, Р

-

1.15 Входной ток низкого уровня

+

ОП, Р

-

1.16 Входной ток высокого уровня

+

ОП, Р

-

1.17 Ток утечки на входе

-

ОП

Для МДП-

микросхем

1.18 Ток утечки низкого уровня на входе

+

ОП

То же

1.19 Ток утечки высокого уровня на входе

+

ОП

"

1.20 Ток утечки на выходе

-

ОП

"

1.21 Ток утечки низкого уровня на выходе

+

ОП

"

1.22 Ток утечки высокого уровня на выходе

+

ОП

"

1.23 Ток короткого замыкания на выходе

-

ОП

-

1.24 Выходной ток

-

ОП, Р

-

1.25 Выходной ток низкого уровня

+

ОП

Для И2Л-

микросхем

1.26 Выходной ток высокого уровня

+

ОП

То же

1.27 Выходной ток в состоянии "Выключено"

-

ОП

Для микросхем с тремя состояни-

ями на выходе

1.28 Выходной ток низкого уровня в состоянии "Выключено"

+

ОП

То же

1.29 Выходной ток высокого уровня в состоянии "Выключено"

+

ОП

"

1.30 Потребляемая мощность

+

ОП

-

1.31 Динамическая потребляемая мощность

-

ОП

-

1.32 Рассеиваемая мощность

-

ОП

-

1.33 Время

t

t

+

ОП, Р, НР

-

1.34 Время задержки

-

ОП, Р

-

1.35 Время задержки распространения сигнала

-

ОП, Р

-

1.36 Время задержки распространения сигнала при включении

-

ОП, Р

-

1.37 Время задержки распространения сигнала при выключении

-

ОП, Р

-

1.38 Время задержки распространения сигнала при переходе из состояния высокого уровня в состояние "Выключено"

-

ОП, Р

-

1.39 Время задержки распространения сигнала при переходе из состояния низкого уровня в состояние "Выключено"

-

ОП, Р

-

1.40 Время задержки распространения сигнала при переходе из состояния "Выключено" в состояние высокого уровня

-

ОП, Р

-

1.41 Время задержки распространения сигнала при переходе из состояния "Выключено" в состояние низкого уровня

-

ОП, Р

-

1.42 Время задержки включения

-

ОП, Р

-

1.43 Время задержки выключения

-

ОП, Р

-

1.44 Время выбора

-

ОП

-

1.45 Время цикла

-

ОП

-

1.46 Время записи

-

ОП

-

1.47 Время считывания

-

ОП

-

1.48 Время умножения

-

ОП

-

1.49 Время выполнения операции

-

ОП

-

1.50 Длительность сигнала

-

ОП, Р, НР

-

1.51 Длительность сигнала низкого уровня

-

ОП, Р, НР

-

1.52 Длительность сигнала высокого уровня

-

ОП, Р, НР

-

1.53 Время фронта нарастания сигнала

-

ОП, Р

-

1.54 Время фронта спада сигнала

-

ОП, Р

-

1.55 Период следования импульсов тактов сигналов

-

ОП, Р

-

1.56 Длительность тактовых сигналов

-

ОП, Р

-

1.57 Длительность импульсов строба

-

ОП, Р

-

1.58 Частота

f

f

+

ОП, Р, НР

-

1.59 Частота следования импульсов тактовых сигналов

-

ОП, Р

-

1.60 Частота генерирования

-

ОП, Р

-

1.61 Входное сопротивление

-

ОП, НР

-

1.62 Выходное сопротивление

-

ОП, НР

-

1.63 Сопротивление входа/выхода

-

ОП, НР

Для комбини-

рованных входов-

выходов

1.64 Сопротивление резистора, встроенного в микросхему

-

ОП, НР

-

1.65 Входная емкость

+

ОП

-

1.66 Выходная емкость

+

ОП

-

1.67 Емкость входа/выхода

+

ОП

Для комбини-

рованных входов-

выходов

1.68 Разрядность данных

+

Н

-

1.69 Разрядность адреса

-

Н

-

1.70 Разрядность команды (микрокоманды)

-

Н

-

1.71 Разрядность каналов

-

Н

-

1.72 Разрядность АЛУ

-

Н

-

1.73 Разрядность регистров общего назначения

-

Н

-

1.74 Разрядность внутренних регистров состояния

-

Н

-

1.75 Количество команд (микрокоманд)

-

Н

-

1.76 Количество каналов ввода информации

-

Н

-

1.77 Количество каналов вывода информации

-

Н

-

1.78 Количество каналов ввода/вывода информации

-

Н

-

1.79 Количество регистров общего назначения

-

Н

-

1.80 Количество внутренних регистров состояния

-

Н

-

1.81 Количество каналов обмена

-

Н

-

1.82 Количество каналов запроса прерывания

-

Н

-

1.83 Количество уровня прерывания

-

Н

-

1.84 Количество режимов работы

-

Н

-

1.85 Количество адресуемых устройств ввода/вывода

-

Н

-

1.86 Количество операций в секунду

-

Н

-

1.87 Скорость обмена информацией с внешними устройствами

-

Н

-

1.88 Объем адресуемой памяти

-

Н

-

1.89 Объем памяти внутреннего стека

-

Н

-

1.90 Емкость ОЗУ

-

Н

-

1.91 Емкость ПЗУ

-

Н

-

1.92 Вид адресации

-

-

-

-

-

2 Параметры режима эксплуатации и (или) измерений

2.1 Напряжения питания

+

НР, Р

-

2.2 Напряжение смещения подложки

-

НР, Р

-

2.3 Входное напряжение

-

ОП, Р

-

2.4 Входное напряжение низкого уровня

+

ОП, Р

-

2.5 Входное напряжение высокого уровня

+

ОП, Р

-

2.6 Пороговое напряжение низкого уровня

-

ОП, Р

-

2.7 Пороговое напряжение высокого уровня

-

ОП, Р

-

2.8 Ток инжектора

+

НР

-

2.9 Выходной ток низкого уровня

+

ОП

-

2.10 Выходной ток высокого уровня

+

ОП

-

2.11 Ток нагрузки

-

ОП, Р

-

2.12 Время сохранения сигнала

-

ОП, Р

-

2.13 Время хранения информации

-

ОП

-

2.14 Время установления сигнала

-

ОП, Р

-

2.15 Время восстановления

-

ОП, Р

-

2.16 Время удержания

-

ОП, Р

-

2.17 Сопротивление нагрузки

-

ОП, НР

-

2.18 Емкость нагрузки

-

ОП, НР

-

Примечания

1 Для указания способа задания норм на параметры микросхем в настоящей таблице применены следующие обозначения:

- Н - номинальное значение параметра;

- НР - номинальное значение параметра с двухсторонним допускаемым отклонением (разбросом);

- Р - двухсторонние границы значения параметра (разброс) без указания номинального значения;

- ОП - односторонний предел значения параметра без указания номинального значения.

2 Необходимость включения в ТУ на конкретные типы микросхем параметров, не отмеченных как обязательные, а также дополнительных параметров, определяется разработчиком совместно с заказчиком и основным потребителем микросхем.

3 В ТУ устанавливают состав параметров 1.34-1.49, 1.59, 1.60, 1.68-1.92 в зависимости от специфики микросхем и наиболее полно характеризующий их по быстродействию.

4 В ТУ могут включаться производные параметров 1.34-1.57, буквенные обозначения которых образовывают по способу, указанному в ГОСТ Р 57441.

В этом случае способ задания норм на эти параметры следует брать из таблицы 1 для соответствующего параметра как основного.

5 Параметры 2.1, 2.4, 2.5, 2.9, 2.10, 2.18 дополнительно включают в таблицу предельно допустимых и предельных режимов эксплуатации ТУ.



4.2 Основные параметры микросхем

Основные параметры подлежат обязательному включению в ТУ или стандарты на микросхемы конкретных типов:

- количество регистров общего назначения;

- количество каналов обмена;

- скорость обмена информацией с внешними устройствами;

- разрядность регистров общего назначения;

- разрядность адреса;

- разрядность данных;

- разрядность команды (микрокоманды);

- количество команд (микрокоманд); объем адресуемой памяти;

- емкость ОЗУ;

- емкость ПЗУ;

- количество режимов работы;

- количество уровней прерывания;

- потребляемая мощность.

4.3 Параметры-критерии годности микросхем в различных видах испытаний установлены в таблице 2.

Таблица 2


Наименование

Контроль соответствия требованиям

параметра-

критерия годности

к конст-

рукции

стойкости к внешним воздействующим факторам

надежности

к воз-

дей-

ствию

к упа-

ковке

Виды испытаний

специ-

на теп-

лосто-

йкость

на вибро-

устой-

на вибро-

проч-

на удар-

ную

на воз-

дей-

на воз-

дей-

на воз-

дей-

на воздей-

ствие

на воздей-

ствие

на воздей-

ствие

крат-

ковре-

менное

дли-

тель-

ное

на воз-

дей-

на воз-

дей-

на воз-

дей-

на опре-

деле-

на без-

отказ-

на дол-

говеч-

на сох-

раня-

на хра-

нение

альных факто-

ров

при пайке

чиво-

сть

ность

проч-

ность

ствие оди-

ноч-

ных уда-

ров

ствие лине-

йного уско-

рения

ствие акус-

тиче-

ского шума

повы-

шенной темпе-

ратуры среды при экс-

плуа-

тации

пони-

женной темпе-

ратуры среды при экс-

плуа-

тации

изме-

нения темпе-

ратуры окру-

жаю-

щей среды

на воздействие повышенной влажности воздуха

ствие атмо-

сфе-

рного пони-

жен-

ного дав-

ления

ствие повы-

шен-

ного дав-

ления

ствие инея и росы

ние запа-

сов устой-

чиво-

сти к воз-

дей-

ствию меха-

ниче-

ских, тепло-

вых и элек-

триче-

ских нагру-

зок

ность

ность

емо-

сть

при повы-

шен-

ной тем-

пера-

туре

Параметры функциональ-

ного контроля

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Выходное напряжение низкого уровня (выходной ток низкого уровня)

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Выходное напряжение высокого уровня (выходной ток высокого уровня)

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Входной ток низкого уровня

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Входной ток высокого уровня

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Напряжение инжектора

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Ток потребления

+

+

+

+

+

+

о

+

+

+

+

+

+

+

о

о

+

+

+

о

о

+

Динамические параметры, наиболее полно характе-

ризующие микросхемы по быстродей-

ствию

-

-

-

-

-

-

-

+

+

-

-

-

-

-

-

-

+

+

+

-

о

-

Выходной ток в состоянии "Выключено"

-

-

-

-

-

-

-

+

+

-

+

+

+

-

о

-

+

+

+

-

-

+

Примечания

1 Знаком "+" обозначена принадлежность параметров-критериев годности к различным видам испытаний для микросхем категорий качества ВП, ОС, ОСМ и ОТК.

Буквой "о" обозначена принадлежность параметров-критериев годности к различным видам испытаний для интегральных микропроцессорных микросхем категорий качества ВП, ОС, ОСМ.

2 Параметры функционального контроля выбирают из таблицы 1.



4.4 Состав типовых характеристик микросхем установлен в таблице 3.

Таблица 3


Наименование типовой характеристики

Обозначение характеристики

Характеристики, подлежащие обязательному включению в ТУ

Зависимость мощности потребления от температуры

+

Зависимость тока потребления от напряжения питания

+

Зависимость тока потребления от частоты следования импульсов тактовых сигналов

+

Зависимость выходного напряжения от напряжения питания

-

Зависимость выходного напряжения от температуры

-

Зависимость выходного напряжения от выходного тока в диапазоне температур

+

Зависимость входного тока от входного напряжения в диапазоне температур

+

Зависимость тока утечки на входе от температуры

-

Зависимость тока утечки на выходе от температуры

-

Зависимость основных динамических параметров от температуры

+

Зависимость основных динамических параметров от напряжения питания

+

Зависимость основных динамических параметров от емкости нагрузки

+

Примечание - Необходимость включения в ТУ характеристик, не отмеченных как обязательные, а также дополнительных характеристик, определяется разработчиком совместно с заказчиком и основным потребителем интегральных микропроцессорных микросхем.



УДК 621.316.8:006.354


ОКС 31.200

Ключевые слова: микропроцессорные интегральные микросхемы, система параметров, параметры-критерии годности, типовые характеристики