ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
ГОСТ Р
70972—
2023
ИЗДЕЛИЯ ОПТИЧЕСКИЕ ИЗ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ, ОПТИЧЕСКИ НЕЛИНЕЙНЫХ И АКУСТООПТИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛОВ ДЛЯ ИЗДЕЛИЙ КВАНТОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
Система параметров
Издание официальное
Москва Российский институт стандартизации 2023
ГОСТ Р 70972—2023
Предисловие
1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт»)
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 «Электронная компонентная база, материалы и оборудование»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 5 октября 2023 г. № 1064-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)
©Оформление. ФГБУ «Институт стандартизации», 2023
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
II
ГОСТ Р 70972—2023
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
ИЗДЕЛИЯ ОПТИЧЕСКИЕ ИЗ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ, ОПТИЧЕСКИ НЕЛИНЕЙНЫХ И АКУСТООПТИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛОВ ДЛЯ ИЗДЕЛИЙ КВАНТОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
Система параметров
Optical products made of electro-optical, optically nonlinear and acousto-optical crystals for quantum electronics products. Parameters system
Дата введения — 2024—03—01
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые оптические изделия из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов для изделий квантовой электроники (далее — оптические изделия) и устанавливает состав конструктивных параметров, параметров лазерной прочности, способы задания норм на них, параметры-критерии годности при испытаниях, подлежащих включению в общие технические условия и технические условия на оптические изделия при их разработке или пересмотре.
Настоящий стандарт следует применять для выбора параметров при разработке технических заданий на научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы, программ испытаний опытных образцов.
Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения, а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в разработке, производстве, эксплуатации оптических изделий в соответствии с действующим законодательством.
2 Система параметров
2.1 Состав параметров оптического изделия и способы задания норм установлены в таблице 1.
Таблица 1
Наименование параметра, единица измерения | Буквенное обозначение параметра | Способ задания нормы |
1 Параметры оптического изделия | ||
1.1 Конструктивные параметры и характеристики | ||
1.1.1 Габаритные размеры, мм | — | HP, Г |
1.1.2 Угол разориентации поверхностей (нормалей к поверхностям) относительно заданных кристаллографических плоскостей (осей), мин | де | Г, Н, HP |
1.1.3 Шероховатость поверхности | н, нр ОП | |
1.1.4 Допустимая сферичность плоской поверхности, число интерференционных полос | N | оп |
Издание официальное
1
ГОСТ Р 70972—2023
Окончание таблицы 1
Наименование параметра, единица измерения | Буквенное обозначение параметра | Способ задания нормы |
1.1.5 Местная ошибка допускаемой сферичности поверхности (предельное отклонение формы поверхности от сферы или плоскости), число интерференционных полос | △Л/ | ОП |
1.1.6 Предельная клиновидность, мин (с), или разнотолщин-ность, мм | 0 | ОП |
1.1.7 Класс чистоты полированных поверхностей | Р | ОП |
1.1.8 Световая зона или световой диаметр, мм | Св(СвФ) | г, н |
1.1.9 Масса, г | т | HP |
1.1.10 Отсутствие дефектов, определяемых внешним осмотром | — | ОП |
1.2 Параметры лазерной прочности | ||
1.2.1 Лазерная прочность поверхности, Дж/см2 (Вт/см2) | ^ES^PS) | ОП |
Примечание —Для указания способа задания норм на параметры применены следующие обозначения: - Н — номинальное значение параметра; - HP — номинальное значение параметра с двусторонним допускаемым отклонением (разбросом); - Г — графическое изображение; - ОП — односторонний предел значения параметра без указания номинального значения. | ||
2.2 К важнейшим параметрам оптического изделия относят:
- габаритные размеры;
- класс чистоты полированных поверхностей;
- лазерную прочность поверхности.
2.3 К параметрам-критериям годности при испытании на сохраняемость относят:
- класс чистоты полированных поверхностей;
- лазерную прочность поверхности.
2.4 В технически обоснованных случаях по согласованию с заказчиком состав параметров и типовых характеристик оптических изделий, регламентированный настоящим стандартом, при составлении конкретных документов на оптические изделия допускается расширять или сокращать.
2
ГОСТ Р 70972—2023
УДК 621.38:006.354
ОКС 31.020
Ключевые слова: изделия оптические, система параметров, лазерная прочность поверхности
3
Редактор Е.В. Якубова
Технический редактор И.Е. Черепкова
Корректор Л. С. Лысенко
Компьютерная верстка И.Ю. Литовкиной
Сдано в набор 06.10.2023. Подписано в печать 31.10.2023. Формат 60*84%. Гарнитура Ариал.
Усл. печ. л. 0,93. Уч-изд. л. 0,50.
Подготовлено на основе электронной версии, предоставленной разработчиком стандарта
Создано в единичном исполнении в ФГБУ «Институт стандартизации» , 117418 Москва, Нахимовский пр-т, д. 31, к. 2.
