allgosts.ru77.080 Черные металлы77 МЕТАЛЛУРГИЯ

ГОСТ 18895-81 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа

Обозначение:
ГОСТ 18895-81
Наименование:
Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа
Статус:
Заменен
Дата введения:
01.01.1983
Дата отмены:
Заменен на:
ГОСТ 18895-97
Код ОКС:
77.080.20

Текст ГОСТ 18895-81 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа


ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР









СТАЛЬ

МЕТОД ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

ГОСТ 18895—81

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ

Москва

РАЗРАБОТАН Министерством черной металлургии СССР

ИСПОЛНИТЕЛИ

Н. П. Лякишев, В. П. Замараев, Н. В. Буянов, А. В. Титевец, А. В. Кри-невская, А. И. Устинова, Е. А. Свешникова.

ВНЕСЕН Министерством черной металлургии СССР

Член Коллегии А. А. Кугушин

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29 декабря 1981 г. № 5720

УДК 669.14.001.4:006.354 Группа В39

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ГОСТ 18895-81

Взамен

ГОСТ 18895—73


СТАЛЬ

Метод фотоэлектрического спектрального анализа

Steel. Method of photoelectric spectral analysis

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29 декабря 1981 г. № 5720 срок действия установлен

с 01.01. 1983 Г.

до 01.01. 1988 г.

Несоблюдение стандарта преследуется по закону

Настоящий стандарт устанавливает фотоэлектрический спектральный метод определения в стали элементов, %:

углерод

ОТ I

0,01 д

0

2,00

сера

0,004

0,10

фосфор

0,004

»

0,15

кремний

0,01

2,50

марганец

0,05

2,20

хром

0,01

4,00

никель

0,01

»

4,40

медь

0,01

1,00

алюминий

0,005

1,00

мышьяк

0,005

»

0,20

молибден

>

0,01

»

4,00

вольфрам

0,02

»

4,00

ванадий

0,01

2,00

титан

0,005

1,00

ниобий

>

0,02

1,50

бор

2>

0,001

2>

0,10

Издание официальное

Метод основан на возбуждении атомов стали электрическим разрядом, разложении излучения в спектр, измерении аналитических сигналов, пропорциональных интенсивности или логарифму интенсивности спектральных линий, и последующем определении содержания элементов с помощью градуировочных характеристик.

  • 1. ОТБОР И ПОДГОТОВИЛ ПРОБ

    • 1.1. Отбор и подготовка проб — по ГОСТ 7565—81. Поверхность пробы, предназначенную для обыскривания, затачивают на плоскость. На поверхности не допускаются раковины, шлаковые включения, цвета побежалости и другие дефекты; шероховатость поверхности Rz должна быть не более 20 мкм по ГОСТ 2789—73.

  • 2. АППАРАТУРА И МАТЕРИАЛЫ

    • 2.1. Фотоэлектрические вакуумные и воздушные установки индивидуальной градуировки.

Отрезные станки типа 8230 и 2К337.

Шлифовальный станок модели ЗЕ881.

Точильно-шлифовальный станок (обдирочно-наждачный) типа ТШ 500.

Универсальный станок для заточки электродов модели КП—35. Токарно-винторезный станок модели 1604.

Отрезные диски 400X4X32 по ГОСТ 21963—76.

Электрокорундовые абразивные круги с керамической связкой, зернистостью № 50, твердостью СТ-2, размером 300X40X70 по ГОСТ 2424—75.

Шлифовальная шкурка типа ШБ-200, зернистостью № 40—50 по ГОСТ 6456—75.

  • 2.2. В случае применения вакуумных фотоэлектрических установок используют постоянные электроды-прутки серебряные, медные и вольфрамовые диаметром 5—6 мм или вольфрамовая проволока диаметром 1—2 мм, длиною не менее 50 мм.

Для воздушных фотоэлектрических установок используют медные прутки марки М00, Ml, М2 по ГОСТ 858—78 и угольные стержни диаметром 6 мм, длиною не менее 50 мм.

  • 2.3. Для определения массовой доли элементов в прокатной стали применяют вакуумные и воздушные фотоэлектрические установки. Если образец не перекрывает полностью отверстие в штативе вакуумной фотоэлектрической установки, применяют контактную камеру (см. чертеж) или другое приспособление, ограничивающее отверстие в столе штатива.

Контактная камера для вакуумного спектрометра

/—контакт: 2—поужина: Л— пластина: 4—прокладка

  • 2.4. Допускается применение другой аппаратуры, оборудования и материалов, обеспечивающих точность анализа, предусмотренную настоящим стандартом.

  • 3. ПОДГОТОВКА К АНАЛИЗУ

    • 3.1. Подготовку установки к выполнению измерений проводят согласно описанию по обслуживанию и эксплуатации установки.

    • 3.2. Градуировку каждой фотоэлектрической установки осуществляют экспериментально при внедрении методики выполнения измерений с помощью стандартных образцов (СО) состава, аттестованных в соответствии с ГОСТ 8.315—78.

    • 3.3. При первичной градуировке выполняют не менее пяти серий измерений в разные дни работы фотоэлектрической установки. В серии для каждого СО проводят по две пары параллельных (выполняемых одно за другим на одной поверхности) измерений.

Порядок пар параллельных измерений для всех СО в серии рандомизируют. Вычисляют среднее арифметическое значение аналитических сигналов по серии и среднее арифметическое значение аналитических сигналов для пяти серий измерений для каждого СО.

Расчетным или графическим способом устанавливают градуировочные характеристики, которые выражают в виде формулы, графика или таблицы.

Градуировочные характеристики используют для определения массовой доли контролируемых элементов непосредственно или с учетом влияния химического состава и физико-химических свойств объекта.

  • 3.4. Повторную градуировку выполняют в соответствии с п. 3.3, при этом допускается сокращение числа измерений.

  • 4. ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА

    • 4.1. Условия проведения анализа приведены в рекомендуемом приложении (см. табл. 1, 2).

    • 4.2. Длины волн спектральных линий и диапазон значений массовой доли приведены в табл. 1.

      Кремний


      • 181.69

      185,07

      198,84

      212,41

      243,52

      • 250.69

      251,61

      288,16

      390,55


      Железо, вольфрам

      Ванадий, железо

      Ванадий


      0,10—2,50

      0,01—1,00

      0,01—2,50

      0,01—2,50

      0,10—2,50

      0,01—1,50

      0,01—1,50

      0,01—2,00

      0,05—2,50


Таблица 1

Определяемый элемент

Длина волны опреде* ляемого элемента, нм

Мешающие элементы

Диапазон значепий массовой доли элементов, %

Углерод

193,09

229,69

426,73

Железо

Углерод

0,01—2,00

0,05—2,00

0,02—2,00

Сера

180,73

182,04

481,55

545,39

0,004—0,10

0,004—0,10

0,005—0,10

0,005—0,10

Фосфор

177,50

178,29

214,91

Железо, вольфрам

0,004—0,15

0,004—0,15

0,005—0,15

192,13

263,82

0,10—2,00

0,10—2,20

Марганец

293,31

0,05—2,20

293,93

0,05—2,20

294,92

0,05—2,20

478,34

0,05—2,20

482,35

0,05—2,20

Продолжение табл. 1

Определяемый элемент

Длина волны определяемого элемента, нм

Мешающие элементы

Диапазон значений массовой доли элементов, %

205,56

ао 1—2,00

206,55

Вольфрам

0,01—3,00

267,72

Вольфрам

0,01—2,00

275,29

Вольфрам

о:,01—2,00

279,22

Вольфрам

0,20-4,00

Хром

298,92

0,50—4,00

314,72

Кобальт, вольф-

An If

0,10—4,00

520,60

рам

Вольфрам

0,01—2,00

425,43

0,10-4,00

462,62

0,01—2,00

534,58

0,05-4,00

218,55

0,10-4,00

225,39

0,01-4,00

227,02

0,01—4,00

231.60

0,10-4,00

231,72

Железо

0,10—4,00

Никель

309,71

Марганец, титан

0,05—4,00

341,48

0,01—1,00

351,51

0,01—1,00

385,83

0,01—2,00

471,44

——

0,05—4,00

200,04

0,01—1,00

211,21

0,20-1,00

219,23

0,01-1,00

223,01

0,10-1,00

Медь

224,26

0,10—1,00

282,44

0,05-1,00

324,75

Ниобий, марганец

0,01-1,00

327,40

Ниобий

0,01—0,50

510,55

Вольфрам

0,01—1,00

186,28

0,005—1,00

199,05

0,005—1,00

257,51

0,01—1,00

Алюминий

308,22

Ванадий

0,01—1,00

394,40

0,005—0,50

396,15

Молибден, цирконий

0,005-0,50

Продолжение табл. 1

Определяемый

элемент

Длина волны определяемого элемента, нм

Мешающие элементы

Диапазон значений массовой доли элементов, %

189,04

0,005—0,15

193,76

0,005—0,15

Мышьяк

197,26

0,005—0,15

234,98

Ванадий

0,01—0,15

286,05

0,02—0,15

202,03

Железо

0,05—4,00

281,62

Алюминий

0,05—4,00

Молибден

317,04

386,41

Железо

0,01—2,00

0,01—2,00

476,02

•—

0,10—4,00

553,31

Вольфрам

0,10—4,00

603,07

0,10—4,00

202,92

0,10—4,00

207,91

0,05—4,00

209,86

0,10—4,00

220,45

Алюминий

0,05—4,00

239,71

•—

0,10—4,00

Вольфрам

258,69

0,10—4,00

330,00

Железо

0,10—4,00

364,65

Ванадий

0,10—4,00

400,88

Железо, титан

0,02—4,00

465,99

0,02—4,00

484,35

0,10—4,00

214,01

0,10—2,00

266,33

Свинец

0,10—2,00

271,57

Вольфрам, ниобий

0,01—2,00

311,07

Титан, железо

0,01—2,00

Ванадий

311,84

0,01—0,50

312,29

——

0,01—2,00

313,03

Вольфрам

0,01—0,50

411,18

Хром

0,10—2,00

437,92

0,01—2,00

190,80

0,005—0,50

316,85

0,005—1,00

324,20

0,005—1,00

Титан

334,94

Ниобий

0,005—1,00

337,28

Ниобий

0,005—1,00

363,55

0.03—1,00

453,32

0,005—1,00

Продолжение табл. 1

Определяемый

элемент

Длина волны опреде» ляемого элемента, нм

Мешающие элементы

Диапазон значений массовой доли элементов, К

212,65

0,10—1,50

295,09

—-

0,02—1,50

309,42

Ванадий, вольфрам, медь

0,02—1,50

Ниобий

320,63

Вольфрам, хром

0,10—1,50

351,54

Никель

0,02—1,50

358,03

0,02—1,50

372,05

Вольфрам, желе-

0,10—1,50

30

410,09

Железо

0,02—1,50

534,42

0,02—1,50

182,59

0,001—0,10

Бор

208,96

0,001—0,10

249,68

Вольфрам, желе-

0,001-0,10

30

187,75

  • 241.33

  • 249.33

262,83

Вольфрам

271,44

Кобальт, ванадий

272,02

Вольфрам

Железо

281,33

Линии сравнения

282,33

297,01

300,96

309,16

438,35

440,48

447,60

Из приведенных линий для конкретной аналитической методики выбирают оптимальные линии в зависимости от их интенсивности типа фотоэлектрической установки, наложения других линий, возможности размещения выходных щелей на каретках прибора.

  • 4.3. Выполняют три параллельных измерения для каждого контролируемого элемента анализируемой пробы. Допускается выполнять два параллельных измерения.

  • 5. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

    • 5.1. За окончательный результат анализа принимают среднее арифметическое двух или трех параллельных определений.

    • 5.2. Если расхождение значений аналитического сигнала, выраженное в единицах массовой доли, не более dcx (табл. 2) для трех параллельных измерений или 0,8 dcx для двух параллельных измерений, вычисляют среднее арифметическое этих определений.

Таблица 2

Контролируемый элемент

Диапазон значений массовой доли. %

Допускаемое расхождение трех параллельных измерени й dcx. %

Допускаемое расхождение результатов первичного и повторного анализа, d0 < %

От 0,01 до 0,020

0,004

0,005

Св. 0,020 » 0,040

0,007

0,009

> 0,040 > 0,10

0,010

0,013

Углерод

» 0,10 > 0,20

0,015

0,020

» 0,20 > 0,40

0,020

0,025

» 0,40 > 0,80

0,040

0,050

» 0,80 » 2,00

0,050

0,060

От 0,004 до 0,010

0,0025

0,003

Св. 0,010 > 0,025

0,004

0,005

Сера

» 0,025 > 0,050

0,006

0,008

» 0,050 » 0,10

0,010

0,013

От 0,004 до 0,008

0,003

0,004

Св. 0,008 > 0,015

0,004

0,005

Фосфор

» 0,015 » 0,03

0,005

0,006

» 0,03 > 0,06

0,006

0,008

» 0,06 » 0.15

0,008

0,010

От 0,010 до 0,020

0,006

0,008

Св. 0.020 » 0,050

0,010

0,013

» 0,050 > 0,10

0,015

0,020

Кремний

» 0,10 » 0,20

0,020

0,025

> 0,20 > 0,40

0,030

0,040

» 0,40 » 1,00

0,050

0,060

» 1,00 > 2,50

0,080

0,100

От 0,05 до 0,10

0,008

0,010

Св. 0,10 » 0,20

0,013

0,016

Марганец

> 0,20 > 0,40

0,020

0,025

» 0,40 > 0,80

0,030

0,040

» 0,80 > 1,60

» 1,60 > 2,20

0,050

0,060

Продолжение табл. 2

Контролируемый элемент

Диапазон значений массовой доли. %

Допускаемое расхождение трех параллельных измерений

^сх* *

Допускаемое расхож* дение результатов первичного и повторного анализа, dB ♦ к

От 0.010 до 0,025

0,005

0,006

Св. 0,025 » 0,05

0,008

0,010

Хром

» 0,05 » 0,12

0,010

0,013

» 0,12 » 0,25

0,020

0,025

» 0,25 > 0,50

0,030

0,040

> 0,50 > 1,00

0,040

0,050

» 1,00 » 2,00

0,050

0,060

» 2,00 » 4,00

0,08

0,10

От 0,010 до 0,020

0,006

0,008

Св. 0,020 > 0,040

0,008

0,010

> 0,040 > 0,080

0,010

0,013

> 0,080 > 0,15

0,015

0,020

пикель

» 0,15 > 0,25

0,025

0,030

» 0,25 > 0,50

0,040

0,050

» 0,50 > 1,00

0,060

0,080

» 1,00 > 2,00

0,080

0,10

» 2,00 > 4,40

0,10

0,13

От 0,01 до 0,02

0,007

0^009

Св. 0,02 > 0,04

0,010

0,013

Медь

» 0,04 » 0,08

0,015

0,020

» 0,08 > 0,20

0,025

0,030

» 0,20 > 0,50

0,040

0,050

» 0,50 > 1,00

0,050

0,060

От 0,005 до 0,010

0,004

0,005

Св. 0,010 > 0,025

0,007

.0,009

» 0,025 > 0,050

0,010

0,013

Алюминий

» 0,050 > 0,10

0,015

0,020

> 0,10 > 0,20

0,020

0,025

» 0,20 » 0,50

0,030

0,040

э 0,50 > 1,00

0,040

0,050

От 0,005 до 0,010

0,003

0,004

Св. 0,010 » 0,020

0,005

0,006

Мышьяк

» 0,020 » 0,040

0,007

0,009

» 0,040 » 0,10

0,012

0,015

» 0,10 » 0,20

0,020

0,025

От 0,01 до 0,02

0,006

0,008

Молибден

Св. 0,02 > 0,05

0,009

0,011

> 0,05 > 0,10

0,013

0,016

> 0,10 > 0,25

0,020

0^025

Продолжение табл. 2

Контролируемый элемент

Диапазон значений массовой доли, %

Допускаемое расхождение трех параллельных измерений Д. х

Допускаемое расхождение результатов первичного и повторного анализа, 4В • X

Св. 0,25 до 0,50

0,030

0,040

Молибден

» 0,50 > 1,00

» 1,00 > 2,00

0,050

0,060

0,060

0,080

> 2,00 > 4,00

0,080

0,10

От 0,02 до 0,05

0,008

0,010

Св. 0,05 » 0,10

0,013

0,016

Вольфрам

» 0,10 > 0,25

> 0,25 » 0,50

0,020

0,040

0,025

0,050

> 0,50 » 1,00

0,060

(Х080

> 1,00 > 2,00

0,10

0,13

» 2,00 » 4,00

0,15

0,20

От 0,01 до 0,02

0,006

0,008

Св. 0,02 » 0,05

0,008

0,010

> 0,05 > 0,10

0,010

0,013

Ванадий

> 0,10 > 0,20

0,020

0,025

> 0,20 » 0,50

0,030

0,040

» 0,50 > 1,00

0,040

0,050

> 1,00 > 2,00

0,070

0,090

От 0,005 до 0,008

0,003

0,004

Св. 0,008 > 0,015

0,004

0,005

> 0,015 > 0,030

0,006

0,008

> 0,030 » 0,050

0;009

01011

Титан

> 0,050 > 0,10

0,015

0,020

> 0,10 > 0,20

0,025

0,030

> 0,20 » 0,50

0,040

0,050

> 0,50 » 1,00

0,060

0,080

От 0,02 до 0,05

0,012

0,015

Св. 0,05 > 0,10

0,02

0,025

Ниобий

> 0,10 > 0,20

0,03

0,04

> 0,20 > 0,50

0,05

0,06

> 0,50 > 1,00

0,09

0,11

» 1,00 > 1,50

0,12

0L15

Продолжение табл. 2

Контролируемый элемент

Диапазон значений массовой доли, %

1

Допускаемое расхождение трех параллельных измерений %

Допускаемое расхож* донне результатов первичного и повторного анализа d • % в

От 0,001 до 0,002

0,0005

0,0006

Св. 0,002 > 0,005

0,0007

0,0009

Бор

» 0,005 » 0,010

0,0010

0,0013

» 0,010 » 0,025

0,002

0,0025

» 0,025 » 0,050

0,005

0,006

> 0,050 > 0,101

0,010

0,013

* d сх — допускаемое для доверительной вероятности (0,95) расхождение параллельных измерений.

dCK = 3,31 оСХ(

где сСх— генеральное среднее квадратическое отклонение, характеризую

щее сходимость измерений.

** dR — допускаемое для доверительной вероятности (0,95) расхождение между результатами первичного и повторного анализа.

dB = 2,77ов,

где с0— генеральное среднее квадратическое отклонение, характеризующее

воспроизводимость результатов измерений.

В случае превышения допускаемых значений анализ повторяют.

  • 5.3. Контроль стабильности результатов анализа

    • 5.3.1. Не реже чем через 4 ч работы фотоэлектрической установки осуществляют контроль стабильности градуировочных характеристик для верхнего и нижнего предела диапазона измерений.

Допускается выполнять контроль только для верхней границы или середины диапазона измерений.

  • 5.3.2. Стабильность градуировочных характеристик контролируют с помощью СО, аттестованных в соответствии с ГОСТ 8.315—78. Для контроля стабильности выполняют по два параллельных измерения аналитического сигнала для СО. Допускается увеличение числа параллельных измерений до четырех.

  • 5.3.3. Если расхождение значений аналитического сигнала, выраженное в единицах массовой доли, не превышает 0,8 dcx , dcx> 1,1 dCx (см. табл. 2) соответственно для двух, трех и четырех параллельных измерений, вычисляют среднее арифметическое значение аналитических сигналов W и разность Д#=Л^—Л\ где — среднее арифметическое значение аналитического сигнала для СО, полученное способом, указанным в п. 3.4, в условиях, при которых выполнялась градуировка.

Допускается выражение Ni, Nt ДАТ в единицах массовой доли с помощью установленных в соответствии с п. 3.5 градуировочных характеристик.

  • 5.3.4. Если расхождение результатов параллельных измерений превышает допускаемое значение (см. п. 5.3.3) проводят повторные измерения аналитического сигнала для СО в соответствии с п. 5.3.2.

  • 5.3.5. Если Д# превышает допускаемое значение 0,5 dQ (табл. 2) измерения повторяют в соответствии с пп. 5.3.2, 5.3.3. Если при повторных измерениях AW превышает допускаемое значение, осуществляют восстановление градуировочной характеристики регулировкой параметров установки или коррекцией результатов измерений введением поправок.

  • 5.3.6. Внеочередной контроль стабильности осуществляют после ремонта или профилактики фотоэлектрической установки.

  • 5.4. Контроль воспроизводимости результатов анализа

    • 5.4.1. Контроль воспроизводимости результатов спектрального анализа выполняют повторным определением массовой доли контролируемых элементов в проанализируемых ранее пробах не реже одного раза в квартал.

    • 5.4.2. Число повторных определений устанавливают в зависимости от общего числа определений и должно быть не менее 0,3%.

    • 5.4.3. Вычисляют число расхождений результатов первичного и повторного анализа, превышающих допускаемое значение (см. табл. 2). Если расхождение результатов первичного и повторного анализа превышает допускаемое значение не более чем в 5% случаев, воспроизводимость измерений считают удовлетворительной.

  • 5.5. Контроль правильности результатов анализа

    • 5.5.1. Контроль правильности проводят выборочным сравнением результатов спектрального анализа проб с результатами химического анализа, выполняемого стандартизованными или аттестованными в соответствии с ГОСТ 8.010—78 методиками, не реже одного раза в квартал.

    • 5.5.2. Число результатов спектрального анализа, контролируемых методами химического анализа, устанавливают в соответствии с п. 5.4.2.

    • 5.5.3. Вычисляют число расхождений результатов спектрального и химического анализа, превышающих допускаемое значение (см. табл. 2).

Если расхождение результатов спектрального и химического анализа превышает допускаемое значение не более чем в 5% случаев, точность спектрального анализа считают согласованной с точностью химического анализа.

  • 5.5.4. Допускается выполнять контроль правильности методом спектрального анализа на основе воспроизведения значений массовой доли элемента в СО предприятия.

ПРИЛОЖЕНИЕ Рекомендуемое


Таблица I

Контролируемые параметры

Возлушиыо фотоэлектрические установки

Спектрометры ФЭС-1 и ФСПА-У, генераторы ГЭУЧ и ИВС-28.

Дуга переменного тока

ДФСЮМ Генератор ГЭУ-1

МФС-4 и МФС’6 Генератор АРКУС

ДФС-36 Генератор УГЭ-4

Напряжение, В

220

220

Режимы генератора:

дуга постоянного тока от 1.5 до 20 А;

дуга переменного тока раз* личной скважности и поляр* кости от 1.5 до 20 А;

низковольтная искра

250-300 В;

220

Частота, Гц

50

50

высоковольтная искра от 7500 до 15000 В;

импульсный разряд большой мощности

50

Сила тока, А Аналитический

1,5— 5.0

1,5-5,0

1,5-5,0

1.5-2,0

1,5-2,0

1.5-2,0

1,5-2,0

промежуток, мм

Ширина выходных щелей, мм

0,05 я 0,10

0,04; 0.075;

0,10

0,05 и 0,10

0,02-0,04

Время обжига, с

5-10

5-10

5-10

5-10

ВрСМЯ ЭКСП03И-

20-30

20-30

20—30

20—30

ими, с

Электроды

Используют медные прутки диаметром 6 мм н угольные стержни марки С-3. Стержни

затачивают на полусферу с радиусом кривизны 3—4 м.м либо на усеченный конус под углом 45—90 с диаметром площадки 1,5—2,0 мм

Примечание. Параметры выбираются в пределах указанных значений.


Стр. 14 ГОСТ 1B89S—31


Таблица 2

Контролируемые параметры

Вакуумные фотоэлектрические установки

ДФС-41 Генератор И ВС-2 Высоковольтная искра

АРЛ 31000

Поливах Е 600

Генератор Полнсурс

Генератор Минисурс П. Низковольтная дуге

Генератор PS 139 Низковольтная дуга

Высоковольт» мая искра

Низковольтная искра

Напряжение, В

650

15000

600-1000

500 и 800

500

Емкость, мкФ

6—24

7,5*10-’

15

10

10—20

Ин ду кти вность, м к Гн

10-500

О и 3600

50 н 360

20

60 и 560

Частота, Гц

50 и 150

100

50

50 и 100

50

Сопротивление, Ом

0,1—16,9

0,2 и 18,3

0 и 2,2

0,1 и 3.0

Ширина выходных

0,04; 0,075;

0,038; 0,05;

щелей, мм

0,10

0,075

Время продувки ка-

10-15

меры аргоном, с

Аналитический проме-

5,0

жуток, мм

Продувка камеры ар*

4—6

гоном, л/мнн

Время обжига, с

7—20

10

20

20

20

Время экспозиции, с

7—20

10

20

10 и 20

10 к 20

Электроды

Используют прутки серебряные, медные

к вольфрамовые

диаметром 5—6 мм

и затачивают на

конус 9(г или

вольфрамовую проволоку диаметром 1—2 мм и эата*

ч и вл ют ла плоскость.

Примечание. Параметры выбираются в пределах указанных значений.


ГОСТ 18895—«1 Стр. 15