ГОСТ 19834.3-76 Излучатели полупроводниковые. Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения

ГОСТ 19834.3-76*
(СТ СЭВ 3788-82)

Группа Э29

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ИЗЛУЧАТЕЛИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения

Semiconductor emitters. Methods for measurement of relative spectral radiant energy distribution and spectral bandwidth

ОКП 621000

Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 13 апреля 1976 г. N 810 срок действия установлен с 01.07.77 до 01.07.87**

________________

** Ограничение срока действия снято постановлением Госстандарта СССР от 05.03.91 N 217 (ИУС N 6, 1991 год). - .

* ПЕРЕИЗДАНИЕ (апрель 1985 г.) с Изменением N 1, утвержденным в декабре 1983 г.; Пост. N 5736 от 06.12.83 (ИУС N 3-84).

ВНЕСЕНО Изменение N 2, утвержденное и введенное в действие Постановлением Госстандарта СССР от 01.06.1987 N 1783 c 01.10.1987

Изменение N 2 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС N 9, 1987 год

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения (далее - излучатели) и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения.

Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0-75.

Стандарт соответствует СТ СЭВ 3788-82 в части измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения (см. справочное приложение 1).

(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).

1а. ПРИНЦИП И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ

1a.1. Принцип измерения основан на сравнении спектрального распределения энергии излучателя и образцового источника излучения.

1а.2. Значение прямого тока через излучатель должно соответствовать установленному в стандартах или технических условиях на излучатели конкретных типов.

Разд.1а. (Введен дополнительно, Изм. N 1).

1. АППАРАТУРА

1.1. Измерение спектрального состава излучения проводят на установке, структурная схема которой приведена на чертеже.

- генератор тока; - излучатель (проверяемый или образцовый); , - контакты подключения излучателя; - спектральный прибор; - фотоприемник; - регистрирующий прибор

(Измененная редакция, Изм. N 2).

1.2. Генератор тока должен обеспечивать задание и поддержание тока через излучатель с погрешностью в пределах ±5%.

1.3. В качестве образцового источника излучения следует использовать лампы с ленточным телом накала по ГОСТ 8.023-86*, МИ 1685-87**.

_______________

* На территории Российской Федерации документ не действует. Действует ГОСТ 8.023-2003;

** На территории Российской Федерации документ не действует. Действует ГОСТ 8.195-89. - .

1.4. В качестве спектральных приборов следует использовать спектрографы, спектроскопы или монохроматоры с призменным или дифракционным диспергирующим элементом.* Спектральный прибор должен быть проградуирован с погрешностью в пределах ±5% измеряемой ширины спектра излучения.

________________

* Типы приборов - по рекомендуемому приложению 2.

1.3, 1.4. (Измененная редакция, Изм. N 2).

1.5. Режим работы фотоприемника должен обеспечивать регистрацию излучения на линейном участке его энергетической характеристики.

1.6. Регистрирующий прибор должен иметь класс точности не ниже 1,5.

(Измененная редакция, Изм. N 2).

Разд.1. (Измененная редакция, Изм. N 1).

2. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

2.1. (Исключен, Изм. N 1).

2.2. При измерениях ширина входной щели спектрального прибора не должна превышать ширины выходной щели. Ширину выходной щели выбирают из следующих условий:

поток излучения на выходе спектрального прибора должен быть достаточно большим для регистрации его фотоприемником;

спектральная ширина щели не должна превышать интервал длин волн, в котором производятся измерения.

Ширину щели в миллиметрах определяют из условия

,

где - обратная линейная дисперсия спектрального прибора, нм/мм;

- выделяемый интервал измерения, нм.

(Измененная редакция, Изм. N 1, 2).

2.3. При измерениях фотоприемник должен быть жестко зафиксирован относительно спектрального прибора и весь поток излучения из выходной щели должен попадать на фотоприемник.

2.4. Перед входной щелью спектрального прибора устанавливают конденсор.

2.5. Показания регистрирующего прибора для длины волны снимают при следующих условиях:

при освещении входной щели спектрального прибора образцовым источником ;

при освещении входной щели спектрального прибора измеряемым излучателем .

2.6. Измерения по п.2.5 производят во всем спектральном диапазоне излучений не менее чем в 10 точках и не реже чем через 10 нм.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

3. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

3.1. Для каждой длины волны вычисляют относительную спектральную плотность энергии излучения измеряемого излучателя по формуле

, (2)

где - относительная спектральная плотность энергии излучения образцового источника, выбираемая по рекомендуемому приложению 3.

Строят относительную спектральную характеристику

, (3)

где - максимальная относительная спектральная плотность энергии излучения измеряемого излучателя из ряда вычислений по формуле (2).

3.2. По относительной спектральной характеристике находят длину волны , соответствующую максимальной спектральной плотности энергии излучения измеряемого источника, и ширину спектра .

4. ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ

4.1. Погрешность измерения относительного спектрального распределения излучения и ширины спектра излучения должна быть в пределах ±10% с доверительной вероятностью 0,95.

Разд.4. (Введен дополнительно, Изм. N 1).

ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное

ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
о соответствии ГОСТ 19834.3-76 СТ СЭВ 3788-82

ГОСТ 19834.3-76 соответствует разд.6 СТ СЭВ 3788-82.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Рекомендуемое

АППАРАТУРА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО СОСТАВА ИЗЛУЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ

1. Рабочие светоизмерительные лампы с ленточным телом накала СИ-10-300у с увиолевым окном (10 В, 300 Вт) с блоком питания типа МТКС-35М.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

2. Спектрографы ИСП-51, ДФС-8, ДФС-12.

3. Монохроматоры МДР-4, МДР-6, МДР-12, МДР-23, МДР-1.

(Измененная редакция, Изм. N 2).

ПРИЛОЖЕНИЕ 3
Рекомендуемое

Зависимость относительной спектральной плотности излучения образцового источника от длины волны

Электронный текст документа

и сверен по:

Излучатели полупроводниковые. Методы измерения

параметров: Сб. ГОСТов. ГОСТ 19834.0-75,

ГОСТ 19834.2-74-ГОСТ 19834.5-80 (СТ СЭВ 3788-82). -

М.: Издательство стандартов, 1985

Редакция документа с учетом
изменений и дополнений подготовлена