ГОСТ 19656.14-79
Группа Э29
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЬНЫЕ
Метод измерения критической частоты
Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency
Дата введения 1981-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентября 1979 г. N 3457 срок действия установлен с 01.01 1981 г. до 01.01 1986 г.*
_______________
* Ограничение срока действия снято по протоколу N 3-93 Межгосударственного Совета по стандартизации, метрологии и сертификации (ИУС N 5/6, 1993 год). - .
Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты .
Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0-74 и ГОСТ 18986.0-74.
1. ПРИНЦИП И УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЙ
1.1. Метод основан на измерении полного входного сопротивления измерительной диодной камеры с включенным в нее измеряемым диодом.
1.2. Режим измерения (уровень СВЧ мощности, частота, напряжение и ток смещения) устанавливается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
2. АППАРАТУРА
2.1. Измерения следует производить на установке, структурная схема и требования к элементам которой должны соответствовать ГОСТ 19656.11-75.
2.2. Допускается применять эквиваленты диодов в режимах короткого замыкания и холостого хода, обеспечивающие те же фазы стоячей волны, что и измеряемые диоды в режимах прямого и обратного смещения с погрешностью, установленной в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
3. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ
3.1. Подготовку и проведение измерений следует производить в соответствии с ГОСТ 19656.11-75.
3.2. Для диодов с общей емкостью более 1,0 пФ допускается плоскость отсчета определять при короткозамкнутом центральном проводнике измерительной диодной камеры.
4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
4.1. Критическую частоту в ГГц следует определять по формуле
, (1)
где 
;
;
;
;
;
;
;
;
;
;
- значения, определяемые по ГОСТ 19656.11-75, мм;
- длина волны в измерительной линии, мм;
- скорость света 3 -10
мм/с.
4.1.1. При выполнении условий:
;
критическую частоту в ГГц определяют по формуле
. (2)
4.1.2. При применении эквивалентов диодов, соответствующих требованиям п.2.2, критическую частоту определяют по формуле
. (3)
4.1.3. При известных значениях прямого сопротивления потерь, обратного сопротивления потерь и емкости структуры диода критическую частоту определяют по формуле
, (4)
где - общая емкость диода, измеренная по ГОСТ 18986.4-73, Ф;
- конструктивная емкость диода, устанавливаемая в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов, Ф;
- прямое сопротивление потерь, измеренное по ГОСТ 19656.11-75, Ом;
- обратное сопротивление потерь, измеренное по ГОСТ 19656.11-75, Ом.
5. ПОКАЗАТЕЛИ ТОЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ
5.1. Погрешность измерения критической частоты должна быть в пределах ±35% с вероятностью 0,997 для значений
менее 400 ГГц, и в пределах ±50% с вероятностью
0,997 для значений
свыше 400 ГГц, при измерении в диапазоне частот 0,5-5 ГГц.
При измерениях на других частотах погрешность измерения критической частоты устанавливается в стандартах или технических условиях на диоды конкретных типов.
Расчет погрешности измерений приведен в справочном приложении.
ПРИЛОЖЕНИЕ
Справочное
1. Расчет погрешности измерения критической частоты
Погрешность измерения определяется по формуле
, (1)
где - погрешность измерения общей емкости диода (ГОСТ 18986.4-73);
- погрешность измерения конструктивной емкости диода (ГОСТ 18986.4-73);
- погрешность измерения прямого сопротивления потерь (ГОСТ 19656.11-75);
- погрешность измерения обратного сопротивления потерь (ГОСТ 19656.11-75);
,
- значения, определяемые по формулам.
; (2)
; (3)
0,5; (4)
0,5; (5)
2. Пример расчета погрешности
Данные для расчета: 
5 ГГц; 0,191 мм;
0,191 мм; 0,57 мм;
0,3 мм; 
1,8 мм; 
13,6 мм; 
11,5 мм; 0,26 пФ;
0,1 пФ; 50 Ом.
В результате вычислений по формулам ГОСТ 19656.11-75, ГОСТ 18986.4-73 и формулам (1)-(5) настоящего приложения получаем: 1,04 Ом;
6,8 Ом; 
22,6%; 
18%; 13%;
25%; 1,710;
0,715.
Значение погрешности измерения равно
%;
, рассчитанная для данного случая по формуле (4) настоящего стандарта, равна 400 ГГц.
Погрешность измерения критической частоты при расчете по упрощенным формулам (2), (3) настоящего стандарта не превышает значений, указанных в разд.5.
Электронный текст документа
и сверен по:
М.: Издательство стандартов, 1979
