База ГОСТовallgosts.ru » 01. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ. ТЕРМИНОЛОГИЯ. СТАНДАРТИЗАЦИЯ. ДОКУМЕНТАЦИЯ » 01.040. Словари

ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения

Обозначение: ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016
Наименование: Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения
Статус: Действует

Дата введения: 07/01/2017
Дата отмены: -
Заменен на: -
Код ОКС: 01.040.07, 07.030
Скачать PDF: ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения.pdf
Скачать Word:ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения.doc


Текст ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения



МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СОВЕТ ПО СТАНДАРТИЗАЦИИ. МЕТРОЛОГИИ И СЕРТИФИКАЦИИ

{МГС)

INTERSTATE COUNCIL FOR STANDARDIZATION, METROLOGY AND CERTIFICATION

(ISC)

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ

СТАНДАРТ

ГОСТ

ISO/TS

80004-6—

2016

НАНОТЕХНОЛОГИИ

Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения

Термины и определения

(ISO/TS 80004-6:2013, Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization, IDT)

Издание официальное

Москва

Стамдартинформ

2016

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Предисловие

Цели, основные принципы и основной порядок проведения работ по межгосударственной стандартизации установлены в ГОСТ 1.0—2015 «Межгосударственная система стандартизации. Основные положения» и ГОСТ 1.2—2015 «Межгосударственная система стандартизации. Стандарты межгосударственные. правила и рекомендации по межгосударственной стандартизации. Правила разработки, принятия. обновления и отмены»

Сведения о стандарте

1    ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ) на основе собственного перевода на русский язык документа, указанного в пункте 5

2    ВНЕСЕН Межгосударственным техническим комитетом по стандартизации МТК 441 «Нанотехнологии»

3    ПРИНЯТ Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации (протокол от 25 октября 2016 г. № 92-П)

За принятие проголосовали:

Краткое наименование страны по МК (ИСО Э1вв) 004—97

Код страны по МК <ИСО 3166)004-97

Совращенное наименование национального органа по стандартизации

Беларусь

BY

Госстандарт Рвспубтки Беларусь

Киргизия

KG

Кыргызсгакдарт

Россия

RU

Россгандарт

Таджикистан

TJ

Таджиксгандарт

4    Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 9 ноября 2016 г. № 1647-ст межгосударственный стандарт ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016 введен в действие в качестве национального стандарта Российской Федерации с 1 июля 2017 г.

5    Настоящий стандарт идентичен международному документу ISO/TS 80004-6:2013 «Нанотехнологии. Словарь. Часть 6. Характеристики нанообъектов» («Nanotechnologies — Vocabulary — Part 6: Nano-object characterization». IDT).

Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного документа для приведения в соответствие с ГОСТ 1.5 (пункт 3.6).

Международный документ разработан техническим комитетом по стандартизации ISO/TC 229 «Нанотехнологии» Международной организации по стандартизации (ISO).

Стандарт подготовлен на основе применения ГОСТ Р 56647—201S/ISO/TS 80004-6:2013

6    ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

II

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется е ежегодном информационном указателе «Национальные стандарты» (по состоянию на 1 янеаря текущего года), а текст изменений и поправок — е ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также е информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет ()

© Стандартинформ, 2016

8 Российской Федерации настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен. тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства ло техническому регулированию и метрологии

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Содержание

1    Область применения..................................................................1

2    Основные термины и определения......................................................1

3    Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов

и методам их определения..............................................................3

3.1    Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов..........3

3.2    Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света.................4

3.3    Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым

для определения характеристик аэрозольных нанообъектов................................6

3.4    Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ.............6

3.5    Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии....................7

3.6    Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов

и методам ее определения...........................................................11

4    Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа................12

5    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения

других характеристик канообъектов......................................................17

5.1    Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы...............17

5.2    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения

характеристик кристаллических нанообъвктов...........................................17

5.3    Термины и определения понятий, относящихся к методам определения

характеристик нанообъектов в суспензиях..............................................17

Алфавитный указатель терминов на русском языке.........................................19

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке..........................23

Библиография........................................................................27

IV

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Введение

Методы измерений и современные приборы позволили открыть мир нанотехнологий. Определив характеристики, можно понять свойства и функциональную направленность применения нанообъектов.

Для определения характеристик нанообъектов важно взаимодействие специалистов и ученых, осуществляющих свою деятельность в различных областях, например материаловедении, биологии, химии, физике, а также имеющих различный опыт работы как экспериментальной, так и теоретической. Информация о характеристиках нанообъектов и возможности их определения необходима и для представителей проверяющих органов и специалистов в области токсикологии. С целью обеспечения правильного понимания специалистами информации о характеристиках нанообъектов, а также для обмена сведениями о результатах измерений необходимо уточнение понятий и установление стандартизованных терминов и соответствующих определений.

В настоящем стандарте термины распределены по следующим разделам.

•    раздел 2 «Основные термины и определения»:

•    раздел 3 «Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения»;

•    раздел 4 «Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа»;

•    раздел 5 «Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов».

Наименования этих разделов сформулированы только для своеобразного руководства по поиску терминов в настоящем стандарте, так как некоторые термины относятся к методам, с помощью которых можно определить более одной характеристики нанообъектов. и их можно поместить в другие разделы стандарта. В подразделе 3.1 приведены основные термины раздела 3. которые использованы в определениях других терминов данного раздела, в том числе терминов, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик нанообъектов.

Большинство методов предусматривает проведение измерений в специальных условиях, включая и соответствующую подготовку исследуемых объектов, например необходимость размещения на-нообъектое на специальной поверхности, в жидкой среде или вакууме, что может повлечь за собой изменение характеристик нанообъектов.

Порядок расположения терминов, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов, в настоящем стандарте не указывает на преимущественное применение определенных методов. и перечень этих терминов не является исчерпывающим. Методы, термины которых установлены в настоящем стандарте, более распространены, и их чаще применяют для определения тех или иных характеристик нанообъектов. чем другие. В таблице 1 приведены наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов.

Таблица 1 — Наиболее распространенные методы, применяемые для определения характеристик нанообъектов

Характеристика

Методы

Размер

Атомно-силовая микроскопия (ACM), центробежное осаждение частиц в жидкости (ЦОЖ). система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц (САДЭП), динамическое рассеяние света (ДРС), растровая электронная микроскопия (РЭМ), анализ траекторий движения частиц (АТДЧ). просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Форма

Атомно-силовая микроскопия (ACM), растровая электро ни ая микроскопия (РЭМ), просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)

Площадь поверхности

Метод Брунауэра, Эммета и Теллера (метод БЭТ)

Химические характеристики поверхности объекта

Масс-слектрометрия вторичных ионов (МСВИ). рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)

Химический состав объекта

Масс-слектрометрия с индуктивно связанной плазмой (ИСП-МС), спектроскопия ядерного магнитного резонанса (ЯМР-спектроскопия)

Элекгрокинетический потенциал частиц в суспензии

Определение дэега-потенциала

V

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Настоящий стандарт предназначен для применения е качестве основы для разработки других стандартов на термины и определения е области нанотехнологий, затрагивающих вопросы определения характеристик нанообъектов.

Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке, отражающем систему понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.

Нерекомендуемые к применению термины-синонимы приведены в круглых скобках после стандартизованного термина и обозначены пометой «Нрк».

Термины-синонимы без пометы «Нрк» приведены в качестве справочных данных и не являются стандартизованными.

Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них произвольные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, относящиеся к определенному понятию. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в настоящем стандарте.

В стандарте приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском языке.

В стандарте приведен алфавитный указатель терминов на русском языке, а также алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке.

Стандартизованные термины набраны полужирным шрифтом, их краткие формы, представленные аббревиатурой, и иноязычные эквиваленты — светлым, синонимы — курсивом.

VI

ГОСТ Ison'S 80004-6—2016

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

НАНОТЕХНОЛОГИИ Часть 6

Характеристики нанообъектов и методы их определения Термины и определения

Nanotechnologies. Part 6.

Characteristics of nano-objects and methods for determination. Terms and definitions

Дата введения — 2017—07—01

1    Область применения

Настоящий стандарт является частью серии стандартов ISO/TS 80004 и устанавливает термины и определения понятий в области нанотехнологий, относящихся к характеристикам нанообъектов и методам их определения.

2    Основные термины и определения

2.1

нанодиапазон: Диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм. nanoscale

Примечания

1    Верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как в основном уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются.

2    Нижнее предельное значение в этом определении (прибгызительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообьектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы атомов.

[ISO/TS 27687:2008. статья 2.11

2.2

нанообъект: Материальный объект, линейные размеры которого по одному, двум nano-object или трем измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1).

Примечание — Данный термин распространяется на все дискретные объекты, линейные размеры которых находятся а нанодиапаэоне.

[ISO/TS 80004-1:2010. статья 2.5)

Издание официальное

1

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

2.3

накочастица: Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по асем трем измере- nanoparticle ниям находятся а нанодиапаэоне (2.1).

Примечание — Если по одному или двум измерениям размеры нанообьекта значительно больше, чем по третьему измерению {как правило, более чем в три раза), то вместо термина «наночастица» можно использовать термины к нановолокно» (2.6) или «нанопластина» (2.4).

(ISO/TS 27687:2008. статья 4.1]

2.4

нанопластина: Нанообъект (2.2). линейные размеры которого по одному измерению находятся в нанодиапаэоне (2.1). а размеры по двум другим измерениям значительно больше.

Примечания

nanoplate

1    Наименьший линейный размер — толщина нанопластины.

2    Размеры по двум другим измерениям значительно больше и отличаются от толщины более чем в три раза.

3    Наибольшие линейные размеры могут находиться вне нанодиапаэона.

(ISO/TS 27687:2008. статья 4.2]

2.5

наностержень: Твердое нановолокно (2.6). (ISO/TS 27687:2008. статья 4.5]

2.6

nanorod

нановолокио. Нанообъект (2.2), линейные размеры которого ло двум измерениям находятся в нанодиапазоне (2.1). а по третьему измерению значительно больше.

Примечания

nanofibre

1    Нановолокно может быть гибким или жестким.

2    Два сходных линейных размера по двум измерениям не должны отличаться друг от друга более чем в три раза, а размеры по третьему измерению должны превосходить размеры по первым двум измерениям более чем в три раза.

3    Наибольший линейный размер может находиться вне нанодиапаэона.

(ISO/TS 27687:2008. статья 4.3]

2.7

нанотрубка: Полое наноеолокно (2.6). (ISO/TS 27687:2008. статья 4.4]

2.8

nanotube

квантовая точка: Нанообъект, линейные размеры которого по трем измерениям близки длине волны электрона в материале данного нанообьекта и внутри которого потенциальная энергия электрона ниже, чем за его пределами, при этом движение электрона ограничено во всех трех измерениях.

(ISO/TS 27687:2008. статья 4.7]

2.9

quantum dot

частица. Мельчайшая часть вещества с определенными физическими границами.

particle

Примечания

1    Физическая граница может также быть описана как межфазная область взаимодействия (интерфейс).

2    Частица может перемещаться как единое целое.

3    Настоящее общее определение частицы применимо к нанообъектам (2.2).

(ISO 14644-8:2007. статья 2.102. ISO/TS 27687:2008, статья 3.1]

2

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

2.10

агломерат: Совокупность слабо связанных между собой частиц (2.9), или их агрв- agglomerate гатов (2.11), или тех и других, площадь внешней поверхности которой равна сумме площадей внешних поверхностей ее отдельных компонентов.

Примечания

1    Сипы, скрепляющие агломерат в одно целое, являются слабыми и обусловленными, например силами взаимодействия Ван-дер-Ваальса, или простым физическим переплетением частиц друг с другом.

2    Агломераты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие называют апервичные частицы».

[ISO/TS 27687:2008, статья 3.2)

2.11

агрегат: Совокупность сильно связанных между собой или сплавленных частиц aggregate (2.9), общая площадь внешней поверхности которой может быть значительно меньше вычисленной суммарной площади поверхности ее отдельных компонентов.

Примечания

1    Силы, удерживающие частицы в составе агрегата, являются более прочными и обусловленными, например ковалентными связями, или образованными в результате спекания или сложного физического переплетения частиц друг с другом.

2    Агрегаты также называют «вторичные частицы», а их исходные составляющие — «первичные частицы». {ISO/TS 27687:2008, статья 3.3)

2.12

аэрозоль: Дисперсная система, состоящая из твердых или жидких частиц (2.9), aerosol взвешенных в газе.

[ISO 15900:2009. статья 2.1]

2.13

суспензия: Жидкая неоднородная система, в которой дисперсной фазой являются suspension мепкие частицы твердого вещества.

[ISO 4618:2006, статья 2.243)

3 Термины и определения понятий, относящихся к размерам нанообъектов и методам их определения

3.1 Термины и определения понятий, относящихся к размерам и форме нанообъектов

3.1.1

размер частицы: Линейный размер частицы (2.9). определенный соответствую- particle size щими методом и средствами измерений е заданных условиях.

Примечание — Разные методы анализа основаны на измерении различных физических характеристик частиц. Независимо от характеристик частицы всегда можно определить ее линейные размеры, например, эквивалентный диаметр сферической частицы.

[ISO 26824:2013. статья 1.5]

3.1.2

распределение частиц по размерам: Распределение частиц (2.9) в зависимости particle size от их размеров (3.1.1).    distribution

Примечание — Термин «распределение частиц по размерам» обозначает то же понятие, что и термины «функция распределения частиц по размерам» и «распределение концентрации частиц в зависимости

3

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

от их размеров» (количественное распределение частиц по размерам получают, относя число измеренных частиц определенного размерного класса к общему количеству измеренных частиц).

(ISO 14644-1:1999. статья 2.2.4. определение термина изменено]

3.1.3

форма частицы: Внешнее геометрическое очертание частицы (2.9).    particle shape

(ISO 3252:1999. статья 1401]

3.1.4

аспектное соотношение: Отношение длины частицы (2.9) к ее ширине.    aspect ratio

(ISO 14966:2002. статья 2.8]

3.1.5

эквивалентный диаметр: Диаметр сферического объекта, оказывающий такое equivalent же воздействие на средство измерения для определения распределения частиц diameter по размерам, что и измеряемая частица (2.9).

Примечания

1    Физические свойства, к которым относят эквивалентный диаметр, обозначают с помощью соответствующего индекса (ISO 9276-1:1998 (2]).

2    Для дискретного счета частиц приборами, работающими на принципе рассеяния света, используют эквивалентный оптический диаметр.

3    Другие характеристики материала, такие как плотность, используют для расчета эквивалентного диаметра частицы. например, как в уравнении Стокса при определении зависимости между размером частицы и временем ее оседания в жидкости. Значения характеристик материала, используемые для расчета, должны быть представлены дополнительно.

4    С помощью измерительных приборов инерционного типа определяют аэродинамический диаметр. Аэродинамический диаметр — эго диаметр сферы плотностью 1000 кг/м3, которая имеет такую же скорость осаждения, что и частица с неровной поверхностью.

[ISO/TS 27687:2008. статья А.3.3, определение термина изменено]

3.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам рассеяния света

3.2.1

радиус инерции: Мера распределения массы объекта вокруг оси. проходящей че- radius of рез его центр, выраженная отношением квадратного корня из момента инерции gyration относительно данной оси к массе объекта.

Примечание — Для определения характеристик нанообъектое (2.2). например размеров частиц (3.1.1). необходимо определить значение радиуса инерции с помощью методов статического рассеяния света, например, малоугпоеого нейтронного рассеяния (3.2.2) или малоугпоеого рентгеновского рассеяния (3.2.4).

(ISO 14695:2003. статья 3.4]

3.2.2 малоугловое нейтронное рассеяние; МНР: Метод исследования объекта, small angle основанный на измерении интенсивности рассеянного пучка нейтронов на объекте neutron при малых значениях углов рассеяния.    scattering;

SANS

Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0.5 до 10* и соответствует возможности определения структуры материала, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 1 до 100 нм. Метод позволяет получать информацию о размерах частиц (2.9) и форме диспергированных в однородной среде частиц.

4

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

3.2.3    дифракция нейтронов: Явление упругого рассеяния нейтронов, применяв* neutron

мое для исследования атомной или магнитной структуры вещества.    diffraction

Примечание — В методах измерений, основанных на дифракции нейтронов, регистрируют нейтроны с энергией. примерно совпадающей с энергией падающих нейтронов. С помощью сформированной е процессе исследования дифракционной картины получают информацию о структуре вещества.

3.2.4

малоугловое рентгеновское рассеяние; МРР: Метод исследования объекта, ос* smaH angle X-ray нованный на измерении интенсивности рассеянного рентгеновского излучения, scattering; SAXS проходящего через объект, при малых значениях углов рассеяния.

Примечание — Рекомендуемый диапазон углов рассеяния составляет от 0.1’ до 10* и соответствует возможности определения структуры макромолекул, а также определения размеров рассеивающих неоднородностей в диапазоне от 5 до 200 нм.

[ISO 18115*1. статья 3.18)

3.2.5

рассеяние света: Преобразование распределения светового потока на границе tight scattering раздела двух сред, имеющих разные оптические свойства.

[ISO 13320:2009. статья 3.1.171

3.2.6 гидродинамический диаметр. Эквивалентный диаметр (3.1.5) частицы hydrodynamic (2.9). имеющей то же значение коэффициента диффузии в жидкой среде, что и diameter реальная частица в этой среде.

3.2.7 динамическое рассеяние света. ДРС; фотонная корреляционная спектро~ сколия: ФКС: квазиупругое рассеяние света: КРС: Метод определения размеров частиц (3.1.1) в суспензии (2.13). основанный на анализе изменения интенсивно* сти рассеянного света частицами (2.9), находящихся в броуновском движении, при зондировании исследуемою объекта лазерным лучом.

dynamic light

scattering; DLS:

photon

correlation

spectroscopy;

PCS;

quasi*eiastic light scattering; QELS

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6). по формуле Стокса — Эйнштейна.

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц в диапазоне от 1 до 6000 нм. Верхний предел диапазона ограничен наличием броуновского движения и осаждением частиц.

3.2.8 анализ траекторий движения наиочастиц: АТДН; анализ траекторий движения частиц: АТДЧ: Метод определения размеров частиц (3.1.1). основанный на исследовании траекторий перемещения облученных сфокусированным лучком лазера частиц (2.9). находящихся в броуновском движении е суспензии (2.13).

nanoparticle tracking analysis;

NTA;

particle tracking analysis; PTA

Примечания

1    Проведя анализ временной зависимости интенсивности рассеянного света движущихся частиц, можно определить коэффициент диффузии и. следовательно, размеры частиц, например гидродинамический диаметр (3.2.6). по формуле Стокса — Эйнштейна.

2    Данный метод применяют для определения размеров наночастиц (2.3) и частиц а диапазоне от 10 до 2000 нм. Нижний предел диапазона ограничен показателем преломления частиц, а верхний предел диапазона — наличием броуновского движения и осаждением частиц.

5

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

3.3 Термины и определения понятий, относящихся к устройствам, применяемым для определения характеристик аэрозольных нанообъектов

3.3.1

счетчик конденсированных частиц: СКЧ: Устройство, измеряющее счетную концентрацию частиц (2.9) в аэрозоле (2.12).

Примечания

condensation particle counter; CPC

1    Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ. —от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.

2    СКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП) (3.3.2).

3    В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).

[ISO 15900:2009, статья 2.5J

3.3.2

классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц: КДЭП: Устройство, распределяющее аэрозольные частицы (2.9) по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только

differential

electrical

mobility

определенных размеров.    classifier DEMC

Примечание — Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое поле. Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП. Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней.

[ISO 15900:2009. статья 2.71

3.3.3

система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц: САДЭП: Система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц (2.9) аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП. нейтрализатора, счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения.

[ISO 15900:2009. статья 2.8)

3.3.4

differential mobility analysing system; DMAS

электрометр с цилиндром Фарадея; ЭЦФ: Устройство для измерения электрических зарядов аэрозольных частиц (2.9).

Faraday-cup

aerosol

electrometer;

FCAE

Примечание — Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.

[ISO 15900:2009. статья 2.12. определение термина изменено]

3.4 Термины и определения понятий, относящихся к методам разделения веществ

3.4.1 проточное фракционирование в силовом поле: ПФП: Метод разделения и анализа частиц (2.9), основанный на явлении распределения частиц суспензии (2.13), пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.

field flow

fractionation;

FFF

Примечания

1    Силовое поле может быть различной природы, например, гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.

2    В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры на-нообъектов (2.2) и их распределение по размерам.

6

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

3.4.2 центробежное осаждение частиц в жидкости. ЦОЖ; дифференциальное центрифугирование: ДЦ: Метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.

centrifugal liquid

sedimentation:

CLS:

differential

centrifugal

sedimentation;

DCS

Примечание — В зависимости от плотности частиц (2.9) с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дагънвйшего определения их размеров и распределения частиц по размерам (3.1.2). ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.

3.4.3

гель-про ни кающая хроматография: ГПХ: Вид жидкостной хроматографии, в size-exclusion котором разделение веществ основано на элюировании молекул определенного chromatography; гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной пористым не* SEC адсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих молекул.

Примечание — ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС) (3.2.7).

[ISO 16014-1:2012. статья 3.1]

3.4.4 метод электрочувствительной зоны: метод Коултера: Метод определе* electrical гопе ния распределения частиц по размерам и размеров частиц (2.9), находящихся в sensing; растворе электролита, основанный на измерении импульса электрического напря- Coulter counter жения. возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).

Примечания

1    Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.

2    Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.

3    Для определения размеров нанообъектов (2.2) необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нанодиапазона (2.1).

3.5 Термины и определения понятий, относящихся к методам микроскопии

В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «М» означает «микроскопия» или «микроскоп» в зависимости от контекста.

3.5.1

сканирующая зондовая микроскопия. СЗМ: Метод исследования объекта с no* scanning probe мощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем механического microscopy; перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью SPM объекта.

Примечания

1    Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких понятий, как «атомно-силовая микроскопия» (ACM) (3.5.2), «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП) (3.5.4). «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ) (3.5.3).

2    С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ. можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ. до 1 мкм. например, в сканирующей термомикроскопии.

[ISO 18115*2. статья 3.30]

7

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

3.5.2

atomic force microscopy: AFM:

scanning force microscopy (deprecated): SFM

(deprecated)

Примечания

1    С помощью ACM можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.

2    В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (ACM) перемещают образец в направлении осей х. у. г. а кантилевер остается неподвижным, в других ACM перемещают кздгилеввр. оставляя неподвижным образец.

3    С помощью ACM можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контрогмруемой газовой средах и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.

4    С помощью ACM в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например, продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы ACM имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например, поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микроскопии.

5    ACM регистрирует а конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта.

6    Для исследования нанообъектов применяют ACM с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0.1 мкН. в противном случае могут произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.

(ISO 18115-2. статья 3.2]

3.5.3

сканирующая туннельная микроскопия: СТМ: СЗМ (3.5.1). применяемая для ис- scanning следования рельефа поверхности объекта с помощью микроскопа, формирующе- tunnelling го изображение путем регистрации данных о туннелировании носителей заряда microscopy: сквозь промежуток между исследуемым токопроводящим объектом и сканирую- STM щим его поверхность токопроводящим зондом.

Примечания

1    С помощью СТМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца и кривизны острия зонда и получать информацию о плотности состояний атомов поверхности объекта.

2    Изображения могут быть сформированы на ооюве данных о высоте регъефа поверхности объекта три постоянных знамениях тумчельмого тока или о туннельном тог» при постоям*» эмачеьмях высоты рельефа поверхности объекта, а также на основе других данных в зависимости от режимов взаимодействия зонда и поверхности исследуемого объекта.

3    С помощью СТМ можно получить информацию о локальной туннельной проводимости (туннельной плотности состояний) исследуемого объекта. Следует учитывать, что при изменении положения зонда относительно поверхности объекта получают отшчные друг от друга изображения рельефа одной и той же поверхности.

(ISO 18115-2. статья 3.34]

3.5.4

атомно-силовая микроскопия: ACM (Нрк. сканирующая силовая микроскопия; ССМу. Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондоеого датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.

сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля: СОМБП; ближнвполь-мая сканирующая оптическая микроскопия: БСОМ: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации взаимодействия электромагнитного поля между объектом и оптическим зондом, сканирующим его поверхность, радиус острия которого меньше длины излучаемой световой волны.

near-field scanning optical microscopy: NSOM; scanning near-field optical microscopy: SNOM

8

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Примечания

1    Зонд микроскопа размешают вблизи поверхности исследуемого объекта и удерживают на постоянном расстоянии. Зонд совершает колебательное движение параллельно поверхности объекта, при этом регистрируют изменения амплитуды и фазы отраженных сигналов и получают информацию о рельефе поверхности объекта.

2    Размер оптического зонда микроскопа зависит от размера отверстия (апертуры) диафрагмы, расположенной на конце зонда. Отверстие диафрагмы имеет размеры в диапазоне от 10 до 100 нм. что и определяет разрешающую способность микроскопа. В зависимости от наличия или отсутствия диафрагмы на конце зонда СОМБП разделяют на апертурные и безапертурные. В без апертур ном СОМБП зонд представляет собой заостренное оптическое волокно, покрытое слоем металла, с радиусом на конце от 10 до 100 нм.

3    С помощью СОМБП получают не только растровое изображение объекта, но и информацию о характеристиках рельефа его поверхности, аналогичные тому, которые можно получить с помощью ACM (3.5.2) и других методов эондоеой микроскопии.

[ISO 1811S-2. статья 3.171

3.5.5

растровая электронная микроскопия: РЭМ (Нрк. сканирующая эпектронная микроскопия: СЭМ): Метод исследования структуры, состава и формы объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем сканирования его поверхности электронным зондом (электронным пучком) и регистрации характеристик вторичных процессов, индуцируемых электронным зондом (например, вторичная электронная эмиссия, обратное рассеяние электронов и рентгеновское излучение).

scanning

electron

microscopy:

SEM

[ISO 17751, статья 4.10. определение термина изменено]

3.5.6

просвечивающая электронная микроскопия; ПЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.

transmission

electron

microscopy;

ТЕМ

[ISO 29301:2010. статья 3.37, определение термина изменено}

3.5.7

просвечивающая растровая электронная микроскопия: ПРЭМ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины сфокусированным электронным пучком (электронным зондом), проходящим сквозь этот объект и взаимодействующим с ним.

scanning

transmission

electron

microscopy;

STEM

Примечания

1    Диаметр сфокусированного электронного пучка (электронного зонда) должен быть менее 1 нм.

2    С помощью ПРЭМ получают изображение поверхности и внутренней микроструктуры гонких образцов [или мелких частиц (2.9)] объекта с высоким разрешением, а также исследуют особенности химических и структурных характеристик участков микронных или субмикронных размеров объекта путем регистрации, например спектров рентгеновского излучения, и формирования дифракционной картины.

[ISO/TS 10797. статья 3.10. определение термина изменено]

3.5.8 микроскопия медленных электронов. ММЭ: Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта или его дифракционной картины упруго отраженными электронами низких энергий, генерируемыми электронным лучком без сканирования поверхности объекта.

low energy electron microscopy; LEEM

9

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Примечания

1    ММЭ обычно применяют для получения информации об объектах, имеющих ровные чистые поверхности.

2    В ММЭ первичные электроны энергией от 1 до 100 эВ попадают на исследуемый объект, а отраженные электроны формируют увеличенное изображение поверхности этого объекта.

3.5.9    растровая ионная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью scanning ion микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверхности объ- microscopy екта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0.1 до 1 нм.

Примечание — В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.

3.5.10

конфокальная световая микроскопия: Метод исследования объекта с помощью confocai optical светового микроскопа, имеющего диафрагму с малым отверстием, расположен- microscopy кую перед фокальной плоскостью и позволяющую регистрировать только те световые лучи, которые исходят из анализируемой точки объекта, блокируя сеет от остальных точек.

Примечания

1    Полное изображение исследуемого объекта в конфокальном световом микроскопе получают путем последовательного сканирования точек объекта. Формирование изображения происходит благодаря свойству инерционности зрения при быстром сканировании или посредством использования фотоприемников и электронных запоминающих устройств.

2    Метсо конфокальный световой микроскопии позволяет получать изображение объекта с улучшенными контрастом и пространственным разрешением за счет блокирования внефокусных лучей.

[ISO 10934-2:2007, статья 2.11. определение термина изменено]

3.5.11 эллипсометрическая микроскопия с усилением контраста изображения; ЭМУК: Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта сеет и блокировать отраженный свет от подложки или предметного стекла.

surface

enhanced

ellipsometric

contrast

microscopy;

SEEC

microscopy

Примечание — В микроскопе применяют специальные актиогрэжающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа е 100 раз.

3.5.12

флуоресценция: Явление поглощения излучения объектом с последующим вы- fluorescence делением поглощенной энергии в виде излучения с большей длиной волны.

[ISO 18115-2:2010, статья 5.52]

3.5.13 флуоресцентная микроскопия: Метод исследования объекта с помощью fluorescence светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации microscopy испускаемой им флуоресценции (3.5.12).

Примечания

1    В данном методе применяют микроскоп, в котором для возбуждения флуоресценции объекта предусмотрен источник света, а длдаа волны испускаемой объектом флуоресценции всегда больше длины волны света возбуждения. Для разделения света возбуждения и испускаемой объектом флуоресценции в микроскопе предусмотрены специальные фильтры.

2    К методам флуоресцентной микроскопии относят эпифлуоресценгную микроскопию, конфокальную микроскопию. флуоресцентную микроскопию полного внутреннего отражения (ФМПВО) (3.5.14) и микроскопию сверхвысокого разрешения (3.5.15).

3    В данном методе для исследования объектов применяют флуоресцирующие красители. Для объектов, демонстрирующих при облучении автофлуоресценцию, красители не требуются.

10

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

3.5.14

total internal reflection fluorescence microscopy; TIRF

microscopy

[ISO 10934*2:2007. статья 2.51. определение термина изменено]

флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения: ФМПВО: Me* тед исследования объекта с помощью светового микроскопа, формирующего изображение объекта путем регистрации испускаемой им флуоресценции (3.5.12), возбуждаемой затухающей волной в тонком пограничном слое раздела двух сред с разными показателями преломления.

3.5.15    микроскопия сверхвысокого разрешения: Метод исследования объекта с super-resolution помощью микроскопа, формирующего его изображение с пространственным раз* microscopy решением выше дифракционного предела.

Примечания

1    Наиболее распространены следующие виды микроскопии сверхвысокого разрешения: микроскопия локализованных флуоресцентных молекул (3.5.16), микроскопия снижения стимулированной эмиссии (МССЭ) и микроскопия структурированного облучения (МСО).

2    Большинство видов микроскопии сверхвысокого разрешения основано на явлении флуоресценции (3.5.12).

3.5.16    микроскопия локализованных флуоресцентных молекул: Вид микро* localization скопии сверхвысокого разрешения (3.5.15), с помощью которой реконструируют microscopy изображение объекта по зарегистрированной с высокой точностью и сохраненной информации о распределении в нем флуоресцентных молекул (флуорофорое).

Примечания

1    В настоящее время существуют различные виды микроскопии локализованных молекул, которые отличаются типами применяемых флуорофорое. флуоресцирующих в зависимости от вида действующего возбуждения. К микроскопии локализованных молекул относят, например, микроскопию локализованной фотоахтивации (МЛФ) (в качестве флуорофорое применяют флуоресцентные белки) и микроскопию стохастической оптической реконструкции (МСОР). которые основаны на контролируемом «включении» и «вьключекии» флуорофорое и их последовательной регистрации.

2    Для получения картины распределения флуорофорое в объекте (изображение объекта) необходимо наличие достаточного числа последовательных кадров, позволяющих определить точные координаты всех флуорофо-ров. При этом должны быть созданы такие условия, чтобы флуорофоры флуоресцировали не одновременно, а по очереди, и изображения флуорофорое в различных кадрах не были перекрыты.

3.6 Термины и определения понятий, относящихся к площади поверхности нанообъектов и методам ее определения

3.6.1

удельная площадь поверхности, вычисляемая по массе. Отношению общей mass specific (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его массе.    surface area

Примечание — Единицей измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по массе, является

•Асг.

[ISO 9277:2010. статья 3.11, наименование и определение термина изменено]

3.6.2

удельная площадь поверхности, вычисляемая по объему: Отношению общей volume specific (внутренней и внешней) площади поверхности вещества к его объему.    surface area

Примечание — Единицей измерения удельной площади поверхности, вычисляемой по объему, является

mW.

[ISO 9277:2010. статья 3.11, наименование и определение термина изменено]

11

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

3.6.3 метод Брунауэра, Эммета и Теллера, метод БЭТ: Метод определения общей (внутренней и внешней) удельной площади поверхности дисперсных порошков и/или пористых твердых тел путем экспериментального получения данных о количестве адсорбированного газа и вычисления по формуле, выведенной С. Бру-науэром. П. Эмметом и Э. Теллером.

Вгипаиег — Emmett — Teller Method;

BET method

Примечания

1    Определение термина соответствует определению, изложенному в статье С. Брунауэра. П. Эммета и Э. Теллера «Адсорбция газов в полимолекулярных слоях», опубликованной в журнале Американского химического общества, том 60. 1938. с. 309.

2    Метод БЭТ применяют для анализа веществ по изотерме адсорбции типов II (адсорбция на непорисгых или макропористых адсорбентах) и IV (адсорбция на меэолористых твердых адсорбентах, имеющих поры диаметром от 2 до 50 нм). Закрытые поры, недоступные для проникновения молекул газа, при анализе не учитывают. Метод БЭТ не применяют для твердых адсорбентов, поглощающих газ. используемый при измерениях.

4 Термины и определения понятий, относящихся к методам химического анализа

В данном подразделе в кратких формах терминов, представленных аббревиатурой, буква «С» означает «спектроскопия)» или «спектрометр» в зависимости от контекста.

4.1    оптическая спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изуче- optical

нии спектров электромагнитного излучения в видимом, ультрафиолетовом или ин- spectroscopy фракрасном диапазонах длин волн.

4.2

люминесценция. Излучение атомов, молекул или ионов вещества, находящихся в неравновесном (возбужденном) состоянии за счет энергии внешнего воздействия или энергии внутреннего происхождения, представляющее собой избыток над тепловым излучением тела и продолжающееся в течение времени, значительно превышающего период световых колебаний.

luminescence

[IEC 60050-845:1987. статья 04-18]

4.3

фотолюминесценция. Люминесценция (4.2). возникающая при поглощении веществом возбуждающего оптического излучения.

photolumines

cence

[IEC 60050-845:1987. статья 04-19]

4.4 фотолюминесцентная спектроскопия. ФЛ-спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего е результате поглощения и испускания фотонов исследуемым объектом.

photolumines

cence

spectroscopy:

PL spectroscopy

4.5 флуоресцентная спектроскопия. Метод исследования объекта, основанный fluorescence на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате spectroscopy явления фотолюминесценции, вызванного в изучаемом объекте посредством возбуждения его светом.

4.6 спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра. Метод UV-Vis исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного из- spectroscopy лучения в видимом и ультрафиолетовом диапазонах длин волн.

4.7 флуоресцентная корреляционная спектроскопия: ФКС: Метод исследования объекта, основанный на корреляционном анализе флуктуаций интенсивности флуоресценции (3.5.12).

fluorescence

correlation

spectroscopy:

PCS

12

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Примечание — С помощью ФКС определяют среднее число люминесцирующих частии (2.9). среднее время их диффузии в исследуемом объеме вещества, концентрацию и размер частиц (молекул).

4.8

инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье: Фурье-ИКС: Метод исследования, основанный на регистрации спектра поглощения при облучении исследуемого объекта инфракрасным излучением с получением интерферограммы, обрабатываемой математическим методом, называемым преобразованием Фурье.

[ISO 13943:2008. статья 4.158. определение термина изменено]

4.9

Fourier transform infrared spectroscopy; FTIR

комбинационное рассеяние света. Явление неупругого рассеяния оптического излучения на молекулах вещества, облученного моноэнергетическим ионизирующим излучением, сопровождающееся переходом рассеивающих молекул на другие колебательные и вращательные уровни энергии.

[ISO 18115-2. статья 5.128]

4.10

Raman effect

спектроскопия комбинационного рассеяния света: Метод исследования энергетических уровней молекул вещества, основанный на явлении комбинационного рассеяния света (4.9).

[ISO 18115-2. статья 5.129]

Raman

spectroscopy

4.11 спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света: СПУКР: Метод исследования объекта, основанный на эффекте усиления явления комбинационного рассеяния света (4.9). проявляющемся благодаря молекулам или нанообъектам (2.2). адсорбированным на металлической поверхности (подложке), имеющей неровности размером е намодиалазоне (2.1), и облученным соответствующим светом.

surface

enhanced Raman

spectroscopy;

SERS

Примечания

1    Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света нанообъекты должны быть адсорбированы на подложке из золота, серебра, меди или алюминия.

2    Для получения эффекта усиления явления комбинационного рассеяния света размеры неровностей поверхности должны быть более 10 нм.

4.12

спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света: СЛУКР: Метод исследования объекта, основанный на облучении его поляризованным светом и анализе единичного активного участка поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света (4.9) с помощью металлического зонда, расположенного е непосредственной близости от поверхности исследуемого объекта.

[ISO 18115-2, статья 3.42]

4.13

tip enhanced Raman spectroscopy; TERS

электронный спектрометр: Устройство, предназначенное для определения числа электронов или регистрации их энергетических спектров в виде зависимости инген-

electron

spectrometer

сивности электронного потока от кинетической энергии регистрируемых электронов.

Примечание — Термин «электронный спектрометре может быть использован взамен термина «анализатор энергии электронов» или применен для понятия, обозначающего устройство, состоящее из нескольких узлов, включая анализатор энергии электронов и дополнительные функциональные электронно-оптические части. Термин «электронный спектрометр» также может быть применен для понятия, обозначающего измерительную систему (спектрометрическую установку), включающую анализатор энергии электронов, функциональные элек-

13

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

тронно-оптические части, источник возбуждения спектров излучения, электронный детектор, вакуумный насос, персональный компьютер с управляющей программой, обеспечивающей управление оборудованием, обработку и вьщачу результатов измерений.

[ISO 18115-1. статьи 4.187, 4.190, определение термина изменено]

4.14

спектроскопия характеристических потерь анергии электронами: СХПЭЭ: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии в процессе взаимодействия с объектом.

electron energy loss

spectroscopy:

EELS

Примечания

1    Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ. будут близки к значениям, полученным с помощью электронной оже-слекгроскопии (ЭОС) (4.16) или рентгеновской фотоэлектронной спек-трос*опии (РФЭС) (4.18). а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи пика упруго отраженных электронов.

2    Значения энергетических спектров нвупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.

[ISO 18115-1. статья 4.197. наименование и определение термина изменены]

4.15

оже-электрон: Электрон, покидающий атом под действием ионизирующего из- Auger electron лучения и высвобождающий место (вакансию) на одной из его внутренних оболочек.

Примечание — Энергия оже-электрона характерна для конкретного элемента. Анализ энергии оже-элвк-тронов позволяет определить элементный состав исследуемых объектов.

[ISO 18115-1. статья 4.37. определение термина изменено)

4.16

электронная оже-спектроскопия: ЭОС: Метод исследования объекта с помощью Auger electron электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических spectroscopy: спектров оже-электроное (4.15). испускаемых с поверхности объекта.    AES

Примечание — В ЭОС в качестве ионизирующего излучения используют электронные лучки с энергией от 2 до 30 кэВ. В ЭОС объект также облучают ионами или применяют рентгеновское излучение. В случае применения в ЭОС рентгеновского излучения энергию оже-электроное отсчитывают относительно уровня Ферми, а при применении электронного пучка — уровня Ферми или уровня вакуума. В ЭОС регистрируют энергетические спектры оже-электроное и осуществляют дифференцирование электрическими методами непосредственно в процессе записи спектров.

[ISO 18115-1. статья 3.1]

4.17

ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия; УФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13), основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.

ultraviolet

photoelectron

spectroscopy:

UPS

Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные лампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках в зависимости от давления газе и тока разряда генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (Не I) и 40.8 эВ (Не И). Также в УФЭС применяют источники синхротронного излучения.

[ISO 18115-1. статья 3.22]

14

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

4.18

рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия; РФЭС: Метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра (4.13). основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов и оже-электроноа (4.15), испускаемых с поверхности объекта, облученного рентгеновским излучением.

Х-гау

photoelectron

spectroscopy;

XPS

Примечание — В лабораторных электронных спектрометрах для РФЭС рентгеновское излучение создается бомбардировкой мишени высокоэнергетическими электронами. Обычные материалы мишени — это магний {Мд) и алюминий (At), обеспечивающие излучение фотонов с энергией 1253.6 и 1486.6 эВ соответственно. В настоящее время существуют электронные спектрометры, в которых используют мишени из других материалов. Также в РФЭС применяют источники синхротронного излучения.

(ISO 18115-1. статья 3.23J

4.19    рентгеновская спектроскопия поглощения; РСП: Метод исследования объ- X-ray absorption

екта. основанный на определении зависимости коэффициента поглощения объек- spectroscopy; том рентгеновского излучения от энергии падающего на него излучения.    XAS

Примечания

1    РСП применяют для получения информации о локальной атомной и/или электронной структуре исследуемого объекта.

2    РСП подразделяют на следующие виды: спектроскопию тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СТСРСП), спектроскопию окопопороговой структуры рентгеновского спектра поглощения (СОСРСП) и спектроскопию протяженной тонкой структуры рентгеновского спектра поглощения (СПТСРСП).

4.20

рентгеновская флуоресценция; РФ: вторичное излучение, возникающее в результате облучения исследуемого объекта пучком высокоэнергетическою рентгеновского излучения.

Х-гау

fluorescence;

XRF

Примечание — Длина волны РФ является индивидуальной характеристикой конкретного элемента.

[ISO 3497:2000. статья 2.1]

4.21

энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия: ЭДРС: Метод исследования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов.

energy-

dispersive Х-гау spectroscopy; EDS; EDX

[ISO 22309:2011, статья 3.11. определение термина изменено]

4.22

масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой: ИСП-МС: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных ионов и их потоков, испускаемых объектом, пропущенным в виде аэрозоля через индуктивно связанную аргоновую плазму, образованную специальной горелкой и проходящую внутри высокочастотной катушки индуктивности.

inductively coupled plasma mass

spectrometry;

ICP-MS

[ISO 15202-3:2004. статья 3.3.7. определение термина изменено]

4.23

масс-спектрометрия вторичных ионов. МСВИ: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации совокупности распределенных е пространстве и/или во времени вторичных ионов объекта, разделенных по значениям отношения массы иона к ею заряду и возникающих при бомбардировке поверхности объекта потоком первичных ионов.

secondary-ion

mass

spectrometry;

SIMS

15

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

Примечание — МСВИ подразделяют на динамическую, применяемую для определения элементного состава нескольких слоев исследуемого объекта как функции глубины, и статическую, применяемую для элементного анализа поверхностного монослоя исследуемого объекта (с целью предотвращения повреждения поверхности исследуемого объекта плотность потока первичных ионов должна быть не более 10 иоиов/м2).

(ISO 18115-1. статья 3.17]

4.24 атомно-зондовая томография: Метод исследования объекта с помощью масс-спектрометра, основанный на регистрации отдельных атомов или молекул, вылетающих из импульсно распыляемого нановолокна (2.6) (исследуемого объекта).

atom-probe

tomography

Примечание — При исследовании объекта методом атомно-зондовой томографии применяют позиционно-чувствительный детектор, позволяющий определить координаты ударения ионов, с помощью которых рассчитывают изначальное положение атомов на поверхности на но волокна.

4.25

анализ выделяемых веществом газов; А8ВГ: Метод исследования объекта, основанный на регистрации измерения состава и/или количества выделяемого газа при нагревании объекта в зависимости от заданной температуры.

evolved-gas

analysis:

EGA

(ISO 472:2013. статья 2.345, определение термина изменено]

4.26 спектроскопия ядерного магнитного резонанса: ЯМР-спектросхопия: Метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта, основанный на явлении ядерного магнитного резонанса.

nuclear

magnetic

resonance

spectroscopy:

NMR

spectroscopy

4.27 электронный парамагнитный резонанс; ЭПР. Резонансное поглощение электромагнитной энергии в радиочастотном диапазоне парамагнитными частицами. помещенными в постоянное магнитное поле, лежащее в основе метода исследования систем с ненулевым электронным спиновым магнитным моментом (нечетным числом электронов).

electron

paramagnetic

resonance;

EPR

Примечание — Метод, основанный на явлении ЭПР. аналогичен методу ЯМР-спектроскопии. Но 8 оттопив от ЯМР-спектроскопии в данном методе измеряют спиновые магнитные моменты электронов парамагнитных частиц.

4.28

гамма-резонансная спектроскопия: мвссбауэровская спектроскопия: Метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэнергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником.

Mossbauer

spectroscopy

(ISO 921:1997, статья 764]

4.29 интерферометрия двойной поляризации; ИДП; Метод исследования на мо- dual polarization пекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода interferometry; интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного DPI луча при смене направлений поляризации.

Примечания

1    Быстров переключение направлений поляризации позволяет е режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.

2    ИДП применяют для исследования конформационных изменений белков или биомопекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.

16

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

5 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения других характеристик нанообъектов

5.1 Термины и определения понятий, относящихся к методам измерений массы

5.1.1 метод пьезоэлектрического микровзвешивания: МПМ: Метод измерения quartz crystal массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на зависимости microbalance: частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) от количества ее* QCM щества. нанесенного на его поверхность.

Примечание — С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, в газовой или жидкой средах.

5.1.2

термогравиметрия: ТГ: Метод измерения массы вещества, основанный на регистрации изменения его массы в зависимости от температуры или времени при нагревании в заданной среде с регулируемой скоростью.

[ISO 472:2013. статья 2.1173, определение термина изменено]

thermogravi

metry;

TG

5.1.3

дифференциальио-сканирующая калориметрия: ДСК: Метод определения характеристик вещества, основанный на регистрации энергии, необходимой для выравнивания температур исследуемою вещества и вещества, используемого в качестве эталона, в зависимости от температуры или времени.

differential

scanning

calorimetry;

DSC

[ISO 472:2013. статья 2.278. определение термина изменено]

5.2 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик кристаллических нанообъектов

5.2.1 дифракция рентгеновского излучения: Явление рассеяния рентгеновского X-ray diffraction излучения в результате взаимодействия с электронами вещества, лежащее в основе метода рент геноструктурного анализа, в котором из сформированной дифракционной картины получают информацию о структуре исследуемого объекта.

Примечание — С помощью метода рентгеносгруктурного анализа можно определить размеры области когерентного рассеяния объекта.

5.2.2

дифракция отраженных электронов: ДОЭ: Явление обратного рассеяния электронов. возникающее вследствие взаимодействия электронов с атомными плоскостями кристаллической решетки объекта, при облучении объекта электронным пучком.

electron

backscatter

diffraction:

EBSO

(ISO 24173:2009. статья 3.7]

5.3 Термины и определения понятий, относящихся к методам определения характеристик нанообъектов в суспензиях

5.3.1

электрофоретическая скорость: Скорость частиц (2.9) во время электрофореза, electrophoretic

velocity

Примечание — Единицей измерения электрофоретической скорости является м/с.

[ISO 13099-1:2012. статья 2.2.6]

17

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

5.3.2

электрофоретическая подвижность: Отношение электрофоретической скорости electrophoretic к напряженности электрического поля.    mobility

Примечания

1    Положительно заряженные частицы (2.9) перемещаются к отрицательному электроду (катоду), а отрицательно заряженные частицы — к положительному электроду (аноду).

2    Единицей измерения электрофоретической подвижности является м2/(В-с).

(ISO 13099-1:2012, статья 2.2.5]

5.3.3

плоскость скольжения: плоскость сдвига: Абстрактная плоскость, представля- slipping plane: ющая собой границу раздела твердой и жидкой фаз. относительно которой лроис- shear plane ходит движение жидкой фазы под внешним воздействием.

[ISO 13099-1:2012. статья 2.1.11]

5.3.4

электрокикетический потенциал: дзета-потенциал: Разность между электриче- electrokinetic схими потенциалами жидкой фазы и плоскости скольжения.    potential:

2eta potential

Примечание — Единицей измерения электрокинетического потенциала является В.

(ISO 13099-1:2012, статья 2.1.8]

5.3.5

поверхностная плотность электрического заряда: Величина, характеризую- electric surface щая распределение электрического заряда по поверхности объекта вследствие charge density удельной адсорбции ионов из жидкой массы или диссоциации поверхностных групп ионов.

Примечание — Единицей измерения поверхностной плотности электрического заряда является Кл/м2. [ISO 13099-1:2012, статья 2.1.6]

18

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Алфавитный указатель терминов на русском языке

АВВГ    4.25

агломерат    2.10

агрегат    2.11

анализ выделяемых веществом газов    4.25

анализ траекторий движения наночастиц    3.2.8

анализ траекторий движения частиц    3.2.8

ACM    3.5.2

АТДН    3.2.8

АТДЧ    3.2.8

аэрозоль    2.12

БСОМ    3.5.4

ГПХ    3.4.3

дзета-потенциал    5.3.4

диаметр гидродинамический    3.2.6

диаметр эквивалентный    3.1.5

дифракция нейтронов    3.2.3

дифракция отраженных электронов    5.2.2

дифракция рентгеновского излучения    5.2.1

ДОЭ    5.2.2

ДРС    3.2.7

ДСК    5.1.3

ДЦ    3.4.2

ИДП    4.29

интерферометрия двойной поляризации    4.29

ИСП-МС    4.22

калориметрия дифференциально-сканирующая    5.1.3

КДЭП    3.3.2

классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц    3.3.2

КРС    3.2.7

люминесценция    4.2

масс-спектрометрия вторичных ионов    4.23

масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой    4.22

метод Брунауэра. Эммета и Теллера    3.5.3

метод БЭТ    3.6.3

метод Коултера    3.4.4

метод пьезоэлектрического микровзвешивания    5.1.1

метод электрочувствительной зоны    3.4.4

микроскопия атомно-силовая    3.5.2

микроскопия ближнего поля сканирующая оптическая    3.5.4

19

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

микроскопия бпижнепопьная сканирующая оптическая    3.5.4

микроскопия конфокальная световая    3.5.10

микроскопия локализованных флуоресцентных молекул    3.5.16

микроскопия медленных электронов    3.5.6

микроскопия полного внутреннего отражения флуоресцентная    3.5.14

микроскопия растровая ионная    3.5.9

микроскопия сверхвысокого разрешения    3.5.15

микроскопия сканирующая зондовая    3.5.1

микроскопия сканирующая силовая    3.5.2

микроскопия сканирующая туннельная    3.5.3

микроскопия флуоресцентная    3.5.13

микроскопия электронная просвечивающая    3.5.6

микроскопия электронная растровая    3.5.5

микроскопия электронная сканирующая    3.5.5

микроскопия электронная растровая просвечивающая    3.5.7

микроскопия эллипсометрическая с усилением контраста изображения    3.5.11

ММЭ    3.5.6

МНР    3.2.2

МПМ    5.1.1

МРР    3.2.4

МСВИ    4.23

нановолокно    2.6

нанодиапазон    2.1

нанообъект    2.2

нанопластика    2.4

наностержень    2.5

нанотрубка    2.7

наночастица    2.3

оже-спектроскопия электронная    4.16

оже-электрон    4.15

осаждение частиц в жидкости центробежное    3.4.2

плоскость сдвига    5.3.3

плоскость скольжения    5.3.3

плотность электрического заряда поверхностная    5.3.5

площадь поверхности удельная, вычисляемая по массе    3.6.1

площадь поверхности удельная, вычисляемая по объему    3.6.2

подвижность электрофоретическая    5.3.2

потенциал электрокикетический    5.3.4

ПРЭМ    3.5.7

ПФП    3.4.1

ПЭМ    3.5.6

радиус инерции    3.2.1

размер частицы    3.1.1

распределение частиц по размерам    3.1.2

20

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

рассеяние нейтронное малоугловое    3.2.2

рассеяние рентгеновское малоугловое    3.2.4

рассеяние света    3.2.5

рассеяние света динамическое    3.2.7

рассеяние света квазиупругов    3.2.7

рассеяние света комбинационное    4.9

резонанс электронный парамагнитный    4.27

РСП    4.19

РФ    4.20

РФЭС    4.18

РЭМ    3.5.5

САДЭП    3.3.3

СЗМ    3.5.1

система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц    3.3.3

скорость электрофоретическая    5.3.1

СКЧ    3.3.1

СЛУКР    4.12

СО МБП    3.5.4

соотношение аспектное    3.1.4

спектрометр электронный    4.13

спектроскопия в ультрафиолетовой и видимой областях спектра    4.6

спектроскопия гамма-резонансная    4.28

спектроскопия инфракрасная с преобразованием Фурье    4.8

спектроскопия комбинационного рассеяния света    4.10

спектроскопия корреляционная фотонная    3.2.7

спектроскопия локально усиленного комбинационного рассеяния света    4.12

спектроскопия мвссбауэровская    4.28

спектроскопия оптическая    4.1

спектроскопия поверхностно-усиленного комбинационного рассеяния света    4.11

спектроскопия поглощения рентгеновская    4.19

спектроскопия флуоресцентная    4.5

спектроскопия флуоресцентная корреляционная    4.7

спектроскопия фотолюминесцентная    4.4

спектроскопия фотоэлектронная рентгеновская    4.16

спектроскопия фотоэлектронная ультрафиолетовая    4.17

спектроскопия характеристических потерь энергии электронами    4.14

спектроскопия энергодисперсионная рентгеновская    4.21

спектроскопия ядерного магнитного резонанса    4.26

СПУКР    4.11

ССМ    3.5.2

СТМ    3.5.3

суспензия    2.13

СХПЭЭ    4.14

счетчик конденсированных частиц    3.3.1

21

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

СЭМ

3.5.5

тг

5.1.2

термогравиметрия

5.1.2

томография атомно-зондовая

4.24

точка квантовая

2.8

УФЭС

4.17

ФКС

3.2.7

ФКС

4.7

ФЛ-спектроскопия

4.4

флуоресценция

3.5.12

флуоресценция рентгеновская

4.20

ФМПВО

3.5.14

форма частицы

3.1.3

фотолюминесценция

4.3

фракционирование проточное в силовом поле

3.4.1

Фурье-И КС

4.8

хроматография гель-лроникающая

3.4.3

центрифугирование дифференциальное

3.4.2

ЦОЖ

3.4.2

частица

2.9

ЭДРС

4.21

электрометр с цилиндром Фарадея

3.3.4

ЭМУК

3.5.11

ЭОС

4.16

ЭПР

4.27

ЭЦФ

3.3.4

ЯМР-спектроскопия

4.26

22

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Алфавитный указатель эквивалентов терминов на английском языке

aerosol

2.12

AES

4.16

AFM

3.5.2

agglomerate

2.10

aggregate

2.11

aspect ratio

3.1.4

atomic force microscopy

3.5.2

atom-probe tomography

4.24

Auger electron

4.15

Auger electron spectroscopy

4.16

BET method

3.6.3

Brunauer — Emmett — Teller Method

3.6.3

centrifugal liquid sedimentation

3.4.2

CLS

3.4.2

condensation particle counter

3.3.1

oonfocal optical microscopy

3.5.10

Coulter counter

3.4.4

CPC

3.3.1

DCS

3.4.2

DEMC

3.3.2

differentia) centrifugal sedimentation

3.4.2

differential electrical mobility classifier

3.3.2

differential mobility analysing system differential scanning calorimetry

3.3.3

DLS

3.2.7

DMAS

3.3.3

DPI

4.29

DSC

5.1.3

dual polarization interferometry

4.29

dynamic light scattering

3.2.7

EBSD

5.2.2

EDS

4.21

EDX

4.21

EELS

4.14

EGA

4.25

electric surface charge density

5.3.5

electrical zone sensing

3.4.4

electrokinetic potential

5.3.4

electron backscatter diffraction

5.2.2

23

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

electron energy loss spectroscopy

4.14

electron paramagnetic resonance

4.27

electron spectrometer

4.13

electrophoretic mobility

5.3.2

electrophoretic velocity

5.3.1

energy-dispersive X-ray spectroscopy

4.21

EPR

4.27

equivalent diameter

3.1.5

evolved-gas analysis

Faraday-cup aerosol electrometer

3.3.4

FCAE

3.3.4

FCS

4.7

FFF

3.4.1

field flow fractionation

3.4.1

fluorescence

3.5.12

fluorescence correlation spectroscopy

4.7

fluorescence microscopy

3.5.13

fluorescence spectroscopy

4.5

Fourier transform infrared spectroscopy

4.8

FT1R

4.8

hydrodynamic diameter

3.2.6

ICP-MS

4.22

inductively coupled plasma mass spectrometry

4.22

LEEM

3.5.8

light scattering

3.2.5

localization microscopy

3.5.16

low energy electron microscopy

3.5.8

luminescence

4.2

mass specific surface area

3.6.1

Mossbauer spectroscopy

4.28

nanofibre

2.6

nano-object

2.2

nanoparticle

2.3

nanoparticle tracking analysis

3.2.8

nanoplate

2.4

nanorod

2.5

nanoscale

2.1

nanotube

2.7

near-field scanning optical microscopy

3.5.4

neutron diffraction

3.2.3

NMR spectroscopy

4.26

NSOM

3.5.4

NTA

3.2.8

nuclear magnetic resonance spectroscopy

4.26

24

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

optical spectroscopy

4.1

particle

2.9

particle shape

3.1.3

particle size

3.1.1

particle size distribution

3.1.2

particle tracking analysts

3.2.8

PCS

3.2.7

photoluminescence

4.3

photoluminescence spectroscopy

4.4

photon correlation spectroscopy

3.2.7

PL spectroscopy

4.4

PTA

3.2.8

QCM

5.1.1

QELS

3.2.7

quantum dot

2.8

quartz crystal microbatance

5.1.1

quasi-elastic light scattering

3.2.7

radius of gyration

3.2.1

Raman effect

4.9

Raman spectroscopy

4.10

SANS

3.2.2

SAXS

3.2.4

scanning electron microscopy

3.5.5

scanning force microscopy

3.5.2

scanning ion microscopy

3.5.9

scanning near-field optical microscopy

3.5.4

scanning probe microscopy

3.5.1

scanning transmission electron microscopy

3.5.7

scanning tunnelling microscopy

3.5.3

SEC

3.4.3

secondary-ion mass spectrometry

4.23

SEEC microscopy

3.5.11

SEM

3.5.5

SERS

4.11

SFM

3.5.2

shear plane

5.3.3

SIMS

4.23

size-exclusion chromatography

3.4.3

slipping plane

5.3.3

small angle neutron scattering

3.2.2

small angle X-ray scattering

3.2.4

SNOM

3.5.4

SPM

3.5.1

STEM

3.5.7

25

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

STM

3.5.3

super-resolution microscopy

3.5.15

surface enhanced eltipsometric contrast microsoopy

3.5.11

surface enhanced Raman spectroscopy

4.11

suspension

2.13

ТЕМ

3.5.6

TERS

4.12

TG

5.1.2

thermogravimetry

5.1.2

tip enhanced Raman spectroscopy

4.12

T1RF microscopy

3.5.14

total internal reflection fluorescence microscopy

3.5.14

transmission electron microscopy

3.5.6

ultraviolet photoelectron spectroscopy

4.17

UPS

4.17

UV-Vis spectroscopy

4.6

volume specific surface area

3.6.2

XAS

4.19

XPS

4.18

XRF

4.20

X-ray absorption spectroscopy

4.19

X-ray diffraction

5.2.1

X-ray fluorescence

4.20

X-ray photoelectron spectroscopy

4.18

zeta potential

5.3.4

26

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

Библиография

(1]

ISO/TS 80004-1:2010

Nanotechnologies — Vocabulary — Part 1: Core terms (Нанотехнологии. Словарь. Часть 1. Основные термины)

[2]

ISO/TS 27687:2008

Nanotechnologies — Terminology and definitions for nano-objects — Nanoparticle, nano-fibre and nanoplate (Нанотехнологии. Термины и определения нанообъектов. Наночастица. нановолокно и нанопластина)

[3]

ISO 14644-6:2007

Cleanrooms and associated controlled environments — Part 6: Vocabulary (Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 6. Словарь)

И]

ISO 15900:2009

Determination of particle size distribution — Differential electrical mobility analysis for aerosol particles (Определение гранулометрического состава. Анализ дифференциагъ-ной подвижноеги частиц аэрозолей в электрическом поле)

IS]

ISO 4618

Paints and varnishes — Terms and definitions (Краски и паки. Термины и определения)

IS]

ISO 26824:2013

Particle characterization of particulate systems — Vocabulary (Определение характеристик частиц систем макрочастиц. Словарь)

[7]

ISO 14644-1:1999

Cteanrooms and associated controlled environments — Part 1: Classification of air cleanliness (Помещения чистые и связанные с ними контролируемые среды. Часть 1. Классификация 'мстогы воздуха)

(в)

ISO 3252:1999

Powder metallurgy — Vocabulary (Порошковая металлургия. Словарь)

|9]

(SO 14966:2002

Amteent air — Determination of numerical concentration of inorganic fibrous particles — Scanning electron microscopy method (Воздух окружающий. Определение концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод растровой электронной микроскопии)

|10]

ISO 9276-1:1998

Representation of results of particle size analysis — Pvt 1: Graphical representation (Гранулометрический анализ. Представление результатов. Часть 1. Графическое представление)

111]

ISO 14695:2003

Industrial fans — Method of measurement of fan vibration (вентиляторы промышленные. Метод измерения вибрации вентилятора)

[12]

ISO 18115-1:2010

Surface chemical analysis— Vocabulary—Part 1: General terms and terms used in spectroscopy (Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 1. Общие термины и термины. используемые в спектроскопии)

|13]

ISO 13320:2009

Particle size analysis — Laser diffraction methods (Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции)

[14]

ISO 16014-1:2012

Plastics — Determination of average molecular mass and molecular mass distribution of polymers using size-exclusion chromatography — Pvt 1: General principles (Пластмассы. Определение средней молекулярной массы и молекулярно-массового распределения полимеров с использованием вытеснительной (по размеру) хроматографии. Часть 1. Общие принципы)

[15]

ISO 18115-2:2010

Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanningprobe microscopy (Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые е растровой микроскопии)

[16]

ISO 17751:2007

Textiles — Quantitative analysis of animal fibres by microscopy — Cashmere, wool, speciality fibres and their blends (Текстиль. Количественный анализ волокон животного происхождения с использованием микроскопа. Кашемир, шерсть, специальные волокна и их смеси)

[1Л

ISO 29301:2010

Microbeam analysis — Analytical transmission electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials herring periodic structures (Ми-хропучкоеый анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибрующего увеличения изображения с применением стандартных материалов с периодической структурой)

[18]

ISO^S 10797:2012

Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy (Нанотехнологии. Характеристика одностеночных углеродных нанотрубок с использованием трансмиссионного электронного микроскопа)

[19]

ISO 10934-2:2007

Optics and optical instruments — Vocabulary for microscopy — Part 2: Advanced techniques in light microscopy (Оптика и оптические приборы. Словарь по микроскопии. Часть 2. Передовые технологии в оптической микроскопии)

[20]

ISO 9277:2010

Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — BET method (Определение удельной площади поверхности твердых тел по адсорбции газа с применением метода Брунзуэра. Эммета и Теллера (ВЕТ-метод)]

27

ГОСТ ISO/TS 80004-6—2016

[21]    I ЕС 60050-845:1987

[22]    IS013943:2008

[23]    ISO 3497:2000

[24] ISO 22309:2011

[25] IS015202-3:2004

[26]    ISO 472:2013

[27]    ISO 921:1997

[28]    ISO 24173:2009

[29] IS013099-1:2012

International Electrotechnical Vocabulary — Chapter 845: Lighting (Международный электротехнический словарь. Глава 845. Освещение)

Fire safety — Vocabulary {Пожарная безопасность. Словарь)

Metallic ooatings — Measurement of coating thickness — Хчау spectrometric methods (Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Спектрометрические рентгеновские методы)

Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EOS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above [Анализ с использованием ми-крогтучка. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии для элементов с атомным числом 11 (Na) или выше]

Workplace air — Determination of metals and metalloids in airborne particulate matter by inductively coupted plasma atomic emission spectrometry — Part 3: Analysis {Воздух рабочей зоны. Определение концентрации металлов и мегаплоидов в твердых частицах аэрозоля с помощью эмиссионной атомной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Часть 3. Анализ)

Plastics — Vocabulary (Пластмассы. Словарь)

Nuclear energy — Vocabulary (Ядерная энергия. Словарь)

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction (Микропучковый анализ. Руководящие указания по измерению ориентации с использованием дифракции при обратном рассеянии электронов)

Colloidal systems — Methods for zeta-potential determination — Part 1: Electroacoustic and electrokinetic phenomena (Системы коллоидные. Методы определения эета-оо-тенциала. Часть 1. Электроакустические и электрокинетические явления)

28

ГОСТ ISO/TS 80004*6—2016

УДК 53.04:006.354    МКС 01.040.07    IDT

07.030

Ключевые слова: нанотехнологии, характеристики нанообъектов, методы определения характеристик, термины, определения

Редактор АС. Бубнов Корректор Е.Р. Ароян Компьютерная верстка Ю.В. Поповой

Сдано е набор 10.11.2016. Подписано а печать 25.11.2016. Формат $0 * 64 Vg. Гарнитура Ариэл.

Уел. печ. л. 4.19.

Набрано а ИЛ «Юриспруденция». 115419, Москва, ул. Орджоникидзе, 11

Издано во ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 123995. Москва. Гранатный пер.. 4.